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1. 发明专利

TWI674398B 物理量測定裝置及其製造方法有权
简体标题：物理量测定设备及其制造方法
公开(公告)号：TWI674398B
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：TW104109824
申请日：2015-03-26
申请人：日商長野計器股份有限公司 , NAGANO KEIKI CO., LTD.
发明人：鳥羽博之 , TOBA, HIROYUKI , 關秀文 , SEKI, HIDEBUMI , 六川智博 , ROKUGAWA, TOMOHIRO
IPC分类号： G01L19/14

2. 发明专利

TW201602539A 物理量測定裝置及其製造方法审中-公开
简体标题：物理量测定设备及其制造方法
公开(公告)号：TW201602539A
公开(公告)日：2016-01-16
申请号：TW104109824
申请日：2015-03-26
申请人：長野計器股份有限公司 , NAGANO KEIKI CO., LTD.
发明人：鳥羽博之 , TOBA, HIROYUKI , 關秀文 , SEKI, HIDEBUMI , 六川智博 , ROKUGAWA, TOMOHIRO
IPC分类号： G01L19/14
CPC分类号： G01L27/002 , G01L7/08 , G01L19/148
摘要：本發明係將具有電子電路部(71)及電子調節部(72)之電路基板(7)配置於殼體(1)之內部；將連接於電路基板(7)之信號傳送構件(8)安裝於蓋構件(3)之安裝孔(33A)；於蓋構件(3)形成對應於電子調節部(72)之複數個被操作部(72A)而設之操作孔(32A)；於蓋構件(3)設置封蓋操作孔(32A)之帽蓋構件(5)；利用將複數個帽蓋本體部(51)以連結部(52)連結而成之簡易構成之帽蓋構件(5)，打開或關閉調節電子調節部(72)時所使用之操作孔(32A)。可藉由帽蓋構件(5)將操作孔(32A)確實防水。
简体摘要：本发明系将具有电子电路部(71)及电子调节部(72)之电路基板(7)配置于壳体(1)之内部；将连接于电路基板(7)之信号发送构件(8)安装于盖构件(3)之安装孔(33A)；于盖构件(3)形成对应于电子调节部(72)之复数个被操作部(72A)而设之操作孔(32A)；于盖构件(3)设置封盖操作孔(32A)之帽盖构件(5)；利用将复数个帽盖本体部(51)以链接部(52)链接而成之简易构成之帽盖构件(5)，打开或关闭调节电子调节部(72)时所使用之操作孔(32A)。可借由帽盖构件(5)将操作孔(32A)确实防水。

3. 发明专利

TW201538943A 物理量測定裝置审中-公开
简体标题：物理量测定设备
公开(公告)号：TW201538943A
公开(公告)日：2015-10-16
申请号：TW104109827
申请日：2015-03-26
申请人：長野計器股份有限公司 , NAGANO KEIKI CO., LTD.
发明人：關秀文 , SEKI, HIDEBUMI , 鳥羽博之 , TOBA, HIROYUKI , 六川智博 , ROKUGAWA, TOMOHIRO
IPC分类号： G01L19/14 , G01D11/24
CPC分类号： G01L19/148 , G01L19/147
摘要：本發明係將接收由檢測部(6)檢測出之信號之板狀之電路基板(7)收容於殼體(1)之內部；由保持器(9)將電路基板(7)以基板平面相對於蓋構件(3)之底面(3A)交叉之方式保持；將保持器(9)設置於蓋構件(3)；將蓋構件(3)構成為具備蓋本體(30)、及自蓋本體(30)之底面(3A)朝殼體(1)之內部突出之長型之支持部(31)。設為如下構成：支持部(31)具有一對支持突起部(35)，該一對支持突起部(35)係沿支持部突出方向分別支持電路基板(7)之彼此位於相反側之側面部；保持器(9)具有設置於平面部(91)且卡止第二基板(702)之卡止片部(92)。
简体摘要：本发明系将接收由检测部(6)检测出之信号之板状之电路基板(7)收容于壳体(1)之内部；由保持器(9)将电路基板(7)以基板平面相对于盖构件(3)之底面(3A)交叉之方式保持；将保持器(9)设置于盖构件(3)；将盖构件(3)构成为具备盖本体(30)、及自盖本体(30)之底面(3A)朝壳体(1)之内部突出之长型之支持部(31)。设为如下构成：支持部(31)具有一对支持突起部(35)，该一对支持突起部(35)系沿支持部突出方向分别支持电路基板(7)之彼此位于相反侧之侧面部；保持器(9)具有设置于平面部(91)且卡止第二基板(702)之卡止片部(92)。

4. 发明专利

TW202026614A 物理量測定裝置审中-公开
简体标题：物理量测定设备
公开(公告)号：TW202026614A
公开(公告)日：2020-07-16
申请号：TW108133971
申请日：2019-09-20
申请人：日商長野計器股份有限公司 , NAGANO KEIKI CO., LTD.
发明人：簀河原悠里 , SUGAHARA, YURI , 田中康久 , TANAKA, YASUHISA , 関秀文 , SEKI, HIDEBUMI
IPC分类号： G01L19/14 , G01L19/02 , H05K5/06 , H05K1/02
摘要：本發明之物理量測定裝置(1)具備：筒狀殼體(2)，其設置有貫通孔(25)；感測器模組；接頭；蓋構件；電路基板(6)，其具有電子電路部及電子調整部(63)；密封構件(8)，其安裝於貫通孔(25)；及調整構件(9)，其可調整電子調整部(63)。電子調整部(63)具有與貫通孔(25)對向地配置之被卡合部(631)，於密封構件(8)設置有：收容凹部(83)，其相對於筒狀殼體(2)之外側而開口；及連通孔(84)，其將收容凹部(83)與筒狀殼體(2)之內側加以連通。調整構件(9)具有：軸部(91)，其以密閉之狀態而安裝於連通孔(84)；卡合部(92)，其設置於軸部(91)之一端部而可與被卡合部(631)卡合；及被操作部(93)，其設置於軸部(91)之另一端部並收容於收容凹部(83)。
简体摘要：本发明之物理量测定设备(1)具备：筒状壳体(2)，其设置有贯通孔(25)；传感器模块；接头；盖构件；电路基板(6)，其具有电子电路部及电子调整部(63)；密封构件(8)，其安装于贯通孔(25)；及调整构件(9)，其可调整电子调整部(63)。电子调整部(63)具有与贯通孔(25)对向地配置之被卡合部(631)，于密封构件(8)设置有：收容凹部(83)，其相对于筒状壳体(2)之外侧而开口；及连通孔(84)，其将收容凹部(83)与筒状壳体(2)之内侧加以连通。调整构件(9)具有：轴部(91)，其以密闭之状态而安装于连通孔(84)；卡合部(92)，其设置于轴部(91)之一端部而可与被卡合部(631)卡合；及被操作部(93)，其设置于轴部(91)之另一端部并收容于收容凹部(83)。

5. 发明专利

TWI663388B 物理量測定裝置有权
简体标题：物理量测定设备
公开(公告)号：TWI663388B
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：TW104109827
申请日：2015-03-26
申请人：日商長野計器股份有限公司 , NAGANO KEIKI CO., LTD.
发明人：關秀文 , SEKI, HIDEBUMI , 鳥羽博之 , TOBA, HIROYUKI , 六川智博 , ROKUGAWA, TOMOHIRO
IPC分类号： G01L19/14 , G01D11/24

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