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1. 发明专利

TW201520188A 陶瓷表面處理方法审中-公开
简体标题：陶瓷表面处理方法
公开(公告)号：TW201520188A
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW102142357
申请日：2013-11-20
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH & DEVELOPMENT CENTRE
发明人：曾俊傑 , TSENG, CHUN CHIEH , 郭聿芬 , KUO, YU FEN , 翁麗雯 , WENG, LI WEN
IPC分类号： C04B41/91
摘要：一種陶瓷表面處理方法，係使陶瓷表面呈粗糙化，其包含：對一陶瓷表面進行噴砂處理，直至該陶瓷表面形成微米粗糙結構，使得該陶瓷表面粗糙度為100~1000μm；及以一含氟鹽類混合一溶解介質形成一酸處理液，以該酸處理液對該陶瓷表面進行酸蝕處理，使該酸處理液滲入該微米粗糙結構中，而於該陶瓷表面形成粗糙度為1000~5000μm之次微米粗糙結構；其中，該酸處理液所含之氟離子濃度為0.25M，該含氟鹽類為IA、IIA及IIIA族金屬與氟離子反應生成之鹽類，該溶解介質則係含有濃度為10-2~10-8M之氫離子。
简体摘要：一种陶瓷表面处理方法，系使陶瓷表面呈粗糙化，其包含：对一陶瓷表面进行喷砂处理，直至该陶瓷表面形成微米粗糙结构，使得该陶瓷表面粗糙度为100~1000μm；及以一含氟盐类混合一溶解介质形成一酸处理液，以该酸处理液对该陶瓷表面进行酸蚀处理，使该酸处理液渗入该微米粗糙结构中，而于该陶瓷表面形成粗糙度为1000~5000μm之次微米粗糙结构；其中，该酸处理液所含之氟离子浓度为0.25M，该含氟盐类为IA、IIA及IIIA族金属与氟离子反应生成之盐类，该溶解介质则系含有浓度为10-2~10-8M之氢离子。

2. 发明专利

TWI586954B 檢測細胞受人類乳突病毒（ＨＰＶ）感染的裝置及其檢測方法有权
简体标题：检测细胞受人类乳突病毒（ＨＰＶ）感染的设备及其检测方法
公开(公告)号：TWI586954B
公开(公告)日：2017-06-11
申请号：TW104141378
申请日：2015-12-09
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH & DEVELOPMENT CENTRE
发明人：陳彥君 , CHEN, YEN CHUN , 鄭茗徽 , CHENG, MING HUI , 郭聿芬 , KUO, YU FEN , 尤崇智 , YU, TSUNG CHIH , 潘柏瑋 , PAN, PO WEI
IPC分类号： G01N21/25 , C12Q1/70
CPC分类号： G06K9/00147 , G01N33/483 , G01N2333/025 , G06K9/0014 , G06K9/48 , G06K2009/485 , G06T7/0012 , G06T7/12 , G06T7/13 , G06T7/90 , G06T2207/10024 , G06T2207/20084 , G06T2207/30004 , G06T2207/30024

3. 发明专利

TWI652627B 大尺度細胞影像分析方法及其系統有权
简体标题：大尺度细胞影像分析方法及其系统
公开(公告)号：TWI652627B
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：TW106139770
申请日：2017-11-16
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH & DEVELOPMENT CENTRE
发明人：張家泓 , ZHANG, JIA HONG , 陳彥君 , CHEN, YAN JUN , 郭聿芬 , KUO, YU FEN
IPC分类号： G06K9/64 , G06K9/46 , G06T7/11 , G06T5/40 , C12Q1/42

4. 发明专利

TWI623367B 雷射加工系統及即時確認加工量的方法有权
简体标题：激光加工系统及实时确认加工量的方法
公开(公告)号：TWI623367B
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：TW104138173
申请日：2015-11-19
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH & DEVELOPMENT CENTRE , 崔祥辰 , CHUI, HSIANG-CHEN
发明人：崔祥辰 , CHUI, HSIANG-CHEN , 楊東潔 , YANG, TUNG CHIEH , 郭聿芬 , KUO, YU FEN , 尤崇智 , YU, TSUNG-CHIH , 陳銘輝 , CHEN, MING HUI
IPC分类号： B23K26/03 , B23K26/064 , B23Q17/24

5. 发明专利

TWI503298B 陶瓷表面處理方法有权
简体标题：陶瓷表面处理方法
公开(公告)号：TWI503298B
公开(公告)日：2015-10-11
申请号：TW102142357
申请日：2013-11-20
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH & DEVELOPMENT CENTRE
发明人：曾俊傑 , TSENG, CHUN CHIEH , 郭聿芬 , KUO, YU FEN , 翁麗雯 , WENG, LI WEN
IPC分类号： C04B41/91

6. 发明专利

TW201721127A 檢測細胞受人類乳突病毒（ＨＰＶ）感染的裝置及其檢測方法审中-公开
简体标题：检测细胞受人类乳突病毒（ＨＰＶ）感染的设备及其检测方法
公开(公告)号：TW201721127A
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：TW104141378
申请日：2015-12-09
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH & DEVELOPMENT CENTRE
发明人：陳彥君 , CHEN, YEN CHUN , 鄭茗徽 , CHENG, MING HUI , 郭聿芬 , KUO, YU FEN , 尤崇智 , YU, TSUNG CHIH , 潘柏瑋 , PAN, PO WEI
IPC分类号： G01N21/25 , C12Q1/70
CPC分类号： G06K9/00147 , G01N33/483 , G01N2333/025 , G06K9/0014 , G06K9/48 , G06K2009/485 , G06T7/0012 , G06T7/12 , G06T7/13 , G06T7/90 , G06T2207/10024 , G06T2207/20084 , G06T2207/30004 , G06T2207/30024
摘要：本發明為一種檢測細胞是否被病毒感染的方法，包括：(a)擷取該細胞之影像的細胞輪廓，該細胞輪廓具輪廓像素點；(b)辨識輪廓像素點在細胞輪廓上之切線，以定義該切線的第一側及相對於第一側的第二側，其中第一側表明為細胞的胞外區域，且第二側表明為細胞的胞內區域；(c)計算第一側及第二側各自之複數個像素點的光學參數平均值；以及(d)依第一側的光學參數平均值是否小於第二側的光學參數平均值，判斷細胞是否被病毒感染。
简体摘要：本发明为一种检测细胞是否被病毒感染的方法，包括：(a)截取该细胞之影像的细胞轮廓，该细胞轮廓具轮廓像素点；(b)辨识轮廓像素点在细胞轮廓上之切线，以定义该切线的第一侧及相对于第一侧的第二侧，其中第一侧表明为细胞的胞外区域，且第二侧表明为细胞的胞内区域；(c)计算第一侧及第二侧各自之复数个像素点的光学参数平均值；以及(d)依第一侧的光学参数平均值是否小于第二侧的光学参数平均值，判断细胞是否被病毒感染。

7. 发明专利

TW201718147A 雷射加工系統及即時確認加工量的方法审中-公开
简体标题：激光加工系统及实时确认加工量的方法
公开(公告)号：TW201718147A
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：TW104138173
申请日：2015-11-19
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH & DEVELOPMENT CENTRE , 崔祥辰 , CHUI, HSIANG-CHEN
发明人：崔祥辰 , CHUI, HSIANG-CHEN , 楊東潔 , YANG, TUNG CHIEH , 郭聿芬 , KUO, YU FEN , 尤崇智 , YU, TSUNG-CHIH , 陳銘輝 , CHEN, MING HUI
IPC分类号： B23K26/03 , B23K26/064 , B23Q17/24
摘要：一種雷射加工系統，其包括雷射加工光源、光導引模組、第一透鏡、探測光源、第二透鏡、遮光元件、移動平台以及光偵測器。雷射加工光源提供雷射光束。探測光源提供探測光束。雷射光束以及探測光束藉由光導引模組以及第一透鏡傳遞至樣品的表面。被樣品的表面反射的探測光束依序經由第一透鏡、光導引模組、第二透鏡以及遮光元件的微孔而傳遞至光偵測器。另提供一種即時確認加工量的方法。
简体摘要：一种激光加工系统，其包括激光加工光源、光导引模块、第一透镜、探测光源、第二透镜、遮光组件、移动平台以及光侦测器。激光加工光源提供激光光束。探测光源提供探测光束。激光光束以及探测光束借由光导引模块以及第一透镜传递至样品的表面。被样品的表面反射的探测光束依序经由第一透镜、光导引模块、第二透镜以及遮光组件的微孔而传递至光侦测器。另提供一种实时确认加工量的方法。

8. 发明专利

TW201618728A 光針辨識系統审中-公开
简体标题：光针辨识系统
公开(公告)号：TW201618728A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：TW103140210
申请日：2014-11-20
申请人：鐳鼎科技股份有限公司 , 財團法人金屬工業研究發展中心
发明人：黃遠鵬 , 郭聿芬 , 丁育民 , 郭獻南
IPC分类号： A61B18/20
摘要：一種光針辨識系統，可設置多支雷射光針，並可訊號連接於一台可輸出一個選取雷射光針之選針訊號的控制主機，光針辨識系統包含一插置多支雷射光針的儲針盒，及一選針裝置。該選針裝置可驅轉該儲針盒，並可感測與識別記錄被該儲針盒帶動通過之每一支雷射光針，並可被該選針訊號觸發，而傳轉該儲針盒，使該儲針盒將對應該選針訊號之該雷射光針移送至一個取針位置。透過儲針盒與選針裝置之結構設計，可自動化快速且準確地挑選雷射光針，可完全改善目前人工選取雷射光針的種種缺點，是一種用於醫療雷射設備(例如牙科醫療雷射設備)的創新設計。
简体摘要：一种光针辨识系统，可设置多支激光光针，并可信号连接于一台可输出一个选取激光光针之选针信号的控制主机，光针辨识系统包含一插置多支激光光针的储针盒，及一选针设备。该选针设备可驱转该储针盒，并可传感与识别记录被该储针盒带动通过之每一支激光光针，并可被该选针信号触发，而传转该储针盒，使该储针盒将对应该选针信号之该激光光针移送至一个取针位置。透过储针盒与选针设备之结构设计，可自动化快速且准确地挑选激光光针，可完全改善目前人工选取激光光针的种种缺点，是一种用于医疗激光设备(例如牙科医疗激光设备)的创新设计。

9. 发明专利

TWI571230B 感磁針具釘入器有权
简体标题：感磁针具钉入器
公开(公告)号：TWI571230B
公开(公告)日：2017-02-21
申请号：TW103141612
申请日：2014-12-01
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE
发明人：楊東潔 , YANG, TUNG CHIECH , 郭聿芬 , KUO, YU FEN , 丁育民 , TING, YU MIN , 陳彥君 , CHEN, YAN JUN , 陳銘輝 , CHEN, MING HUI , 尤崇智 , YU, TSUNG CHIH , 伏和中 , FU, HO CHUNG
IPC分类号： A61B17/34

10. 发明专利

TWI556789B 可偵測溫度之消融裝置有权
简体标题：可侦测温度之消融设备
公开(公告)号：TWI556789B
公开(公告)日：2016-11-11
申请号：TW103142875
申请日：2014-12-09
申请人：財團法人金屬工業研究發展中心 , METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE
发明人：郭聿芬 , KUO, YU FEN , 楊東潔 , YANG, TUNG CHIECH , 尤崇智 , YU, TSUNG CHIH , 伏和中 , FU, HO CHUNG
IPC分类号： A61B18/14

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