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1. 发明专利

TW201420464A 傳送裝置审中-公开
简体标题：发送设备
公开(公告)号：TW201420464A
公开(公告)日：2014-06-01
申请号：TW101144160
申请日：2012-11-26
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：黃國興 , HUANG, GUO SHING , 許馨云 , HSU, HSIN YUN , 魏精志 , WEI, CHING CHIH , 林辰龍 , LIN, CHEN LUNG
IPC分类号： B65G13/00 , B65G49/06
CPC分类号： B65G47/66 , B65H23/24 , B65H23/28 , B65H2801/61
摘要：一種傳送裝置，用以傳送物件。傳送裝置包括第一傳送單元、第二傳送單元以及支撐單元。物件承靠在第一傳送單元上與第二傳送單元上，且沿傳送路徑從第一傳送單元朝向第二傳送單元移動。支撐單元設置在第一傳送單元與第二傳送單元之間以支撐並導引物件。
简体摘要：一种发送设备，用以发送对象。发送设备包括第一发送单元、第二发送单元以及支撑单元。对象承靠在第一发送单元上与第二发送单元上，且沿发送路径从第一发送单元朝向第二发送单元移动。支撑单元设置在第一发送单元与第二发送单元之间以支撑并导引对象。

2. 发明专利

TW201416308A 傳輸裝置审中-公开
简体标题：传输设备
公开(公告)号：TW201416308A
公开(公告)日：2014-05-01
申请号：TW101149584
申请日：2012-12-24
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：黃國興 , HUANG, GUO SHING , 路智強 , LU, CHIH CHIANG , 李昌周 , LI, CHANG CHOU , 柯志諭 , KE, CHIH YU , 劉錦龍 , LIU, CHIN LUNG
IPC分类号： B65G49/06
摘要：一傳輸裝置包括控制模組、放捲模組、至少一張力感測模組及收捲模組。張力感測模組包括一個荷重元並置於一組傳輸輪之間，物件沿著垂直於傳輸輪之軸心方向的一傳輸方向傳輸。物件在通過這組傳輸輪時會以荷重元的支點為中心形成包覆角，該包覆角小於180度，放捲與收捲模組包括不同的致動單元，並分別電性連接控制模組，這些致動單元使放捲與收捲模組進行物件的放出與收捲動作。
简体摘要：一传输设备包括控制模块、放卷模块、至少一张力传感模块及收卷模块。张力传感模块包括一个荷重元并置于一组传输轮之间，对象沿着垂直于传输轮之轴心方向的一传输方向传输。对象在通过这组传输轮时会以荷重元的支点为中心形成包覆角，该包覆角小于180度，放卷与收卷模块包括不同的致动单元，并分别电性连接控制模块，这些致动单元使放卷与收卷模块进行对象的放出与收卷动作。

3. 发明专利

TW201425929A 彎曲應力的測試方法及其測試裝置审中-公开
简体标题：弯曲应力的测试方法及其测试设备
公开(公告)号：TW201425929A
公开(公告)日：2014-07-01
申请号：TW101149169
申请日：2012-12-21
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：沈志明 , SHEN, CHIH MING , 黃國興 , HUANG, GUO SHING
IPC分类号： G01N3/20
CPC分类号： G01N3/20 , G01N2203/0282 , G01N2203/0435
摘要：一種彎曲應力的測試方法，其包括下列步驟。首先，建立一待測結構的一應力分布數值模型。接著，提供待測結構的一測試樣品，並且對測試樣品的兩端施力使其彎曲，直至測試樣品斷裂於一斷裂點為止，以獲取測試樣品斷裂時的兩端之間的一第一距離以及斷裂點至兩端中較近一端的一第二距離。之後，依據第一距離或第二距離分別獲得在測試樣品斷裂時的應力分布數值模型上的一最大主應力值或應力分布數值模型於斷裂點上的一斷裂點主應力值。此外，適用於上述之彎曲應力的測試方法之測試裝置亦被提出。
简体摘要：一种弯曲应力的测试方法，其包括下列步骤。首先，创建一待测结构的一应力分布数值模型。接着，提供待测结构的一测试样品，并且对测试样品的两端施力使其弯曲，直至测试样品断裂于一断裂点为止，以获取测试样品断裂时的两端之间的一第一距离以及断裂点至两端中较近一端的一第二距离。之后，依据第一距离或第二距离分别获得在测试样品断裂时的应力分布数值模型上的一最大主应力值或应力分布数值模型于断裂点上的一断裂点主应力值。此外，适用于上述之弯曲应力的测试方法之测试设备亦被提出。

4. 发明专利

TW201622034A 複層基板分離裝置及複層基板分離方法审中-公开
简体标题：复层基板分离设备及复层基板分离方法
公开(公告)号：TW201622034A
公开(公告)日：2016-06-16
申请号：TW104120509
申请日：2015-06-25
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：黃國興 , HUANG, GUO SHING , 黃家聖 , HUANG, CHIA SHENG , 許馨云 , HSU, HSIN YUN
IPC分类号： H01L21/67 , H01L21/30 , B32B38/10
摘要：一種複層基板分離裝置，用以分離複層基板的第一基板與第二基板，第一基板與第二基板於複層基板的至少一邊緣處彼此錯位。分離裝置包括基座及分離工具。基座用以放置複層基板，且複層基板暴露出錯位處。分離工具沿一軸可移動地配置於基座上，並抵壓錯位處以在第一基板與第二基板之間產生縫隙，並進一步嵌入縫隙而分離第一基板與第二基板。另提供複層基板的分離方法。
简体摘要：一种复层基板分离设备，用以分离复层基板的第一基板与第二基板，第一基板与第二基板于复层基板的至少一边缘处彼此错位。分离设备包括基座及分离工具。基座用以放置复层基板，且复层基板暴露出错位处。分离工具沿一轴可移动地配置于基座上，并抵压错位处以在第一基板与第二基板之间产生缝隙，并进一步嵌入缝隙而分离第一基板与第二基板。另提供复层基板的分离方法。

5. 发明专利

TW201611936A 加工設備审中-公开
简体标题：加工设备
公开(公告)号：TW201611936A
公开(公告)日：2016-04-01
申请号：TW104121135
申请日：2015-06-30
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：邱俊凱 , CIOU, JYUN KAI , 謝咏明 , HSIEH, YUNG MIN , 黃國興 , HUANG, GUO SHING , 陳長營 , CHEN, CHANG YING
IPC分类号： B23K26/361
摘要：一種加工設備包括第一載台、第一加工裝置、傳送裝置以及第二加工裝置。第一載台具有承載面，其用來承載板材。承載面的面積被設置為小於板材的面積，而使板材的外緣突出於第一載台外。第一加工裝置適於自板材分離出工件。傳送裝置用來將工件由第一位置移動至第二位置，並且暴露出工件的側面。第二加工裝置適於在第二位置上對工件的側面加工。
简体摘要：一种加工设备包括第一载台、第一加工设备、发送设备以及第二加工设备。第一载台具有承载面，其用来承载板材。承载面的面积被设置为小于板材的面积，而使板材的外缘突出于第一载台外。第一加工设备适于自板材分离出工件。发送设备用来将工件由第一位置移动至第二位置，并且暴露出工件的侧面。第二加工设备适于在第二位置上对工件的侧面加工。

6. 发明专利

TW201411126A 檢測裝置及其操作方法审中-公开
简体标题：检测设备及其操作方法
公开(公告)号：TW201411126A
公开(公告)日：2014-03-16
申请号：TW101132539
申请日：2012-09-06
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：黃國興 , HUANG, GUO SHING , 石正宜 , SHIH, CHENG YI , 黃中皇 , HUANG, CHUNG HUANG
IPC分类号： G01N3/26 , G01N33/38
CPC分类号： G01N3/08 , G01N3/20 , G01N33/386 , G01N2203/0023 , G01N2203/0248 , G01N2203/0282
摘要：一種檢測裝置，適於連結傳輸裝置，該傳輸裝置適於傳輸可撓玻璃。檢測裝置包括基座、第一滾輪以及至少一第二滾輪。第一滾輪設置在該基座上且沿第一軸來回移動。第二滾輪設置在基座上且沿第二軸來回移動。第一軸垂直第二軸。可撓玻璃經過第二滾輪與第一滾輪後進入傳輸裝置。另提供一種檢測裝置的操作方法。
简体摘要：一种检测设备，适于链接传输设备，该传输设备适于传输可挠玻璃。检测设备包括基座、第一滚轮以及至少一第二滚轮。第一滚轮设置在该基座上且沿第一轴来回移动。第二滚轮设置在基座上且沿第二轴来回移动。第一轴垂直第二轴。可挠玻璃经过第二滚轮与第一滚轮后进入传输设备。另提供一种检测设备的操作方法。

7. 发明专利

TWI595956B 加工設備有权
简体标题：加工设备
公开(公告)号：TWI595956B
公开(公告)日：2017-08-21
申请号：TW104121135
申请日：2015-06-30
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：邱俊凱 , CIOU, JYUN KAI , 謝咏明 , HSIEH, YUNG MIN , 黃國興 , HUANG, GUO SHING , 陳長營 , CHEN, CHANG YING
IPC分类号： B23K26/361

8. 发明专利

TWI554756B 張應力檢測裝置及其操作方法有权
简体标题：张应力检测设备及其操作方法
公开(公告)号：TWI554756B
公开(公告)日：2016-10-21
申请号：TW101132539
申请日：2012-09-06
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：黃國興 , HUANG, GUO SHING , 石正宜 , SHIH, CHENG YI , 黃中皇 , HUANG, CHUNG HUANG
IPC分类号： G01N3/26 , G01N33/38
CPC分类号： G01N3/08 , G01N3/20 , G01N33/386 , G01N2203/0023 , G01N2203/0248 , G01N2203/0282

9. 发明专利

TWI513671B 刀具及應用其之玻璃切割裝置有权
简体标题：刀具及应用其之玻璃切割设备
公开(公告)号：TWI513671B
公开(公告)日：2015-12-21
申请号：TW102144930
申请日：2013-12-06
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：黃國興 , HUANG, GUO SHING , 邱俊凱 , CIOU, JYUN KAI , 石雅君 , SHIH, YA CHUN , 陳振坤 , CHEN, CHEN KUN
IPC分类号： C03B33/10 , C03B33/02

10. 发明专利

TWI609445B 複層基板分離裝置及複層基板分離方法有权
简体标题：复层基板分离设备及复层基板分离方法
公开(公告)号：TWI609445B
公开(公告)日：2017-12-21
申请号：TW104120509
申请日：2015-06-25
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：黃國興 , HUANG, GUO SHING , 黃家聖 , HUANG, CHIA SHENG , 許馨云 , HSU, HSIN YUN
IPC分类号： H01L21/67 , H01L21/30 , B32B38/10

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