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1. 发明专利

TWI264530B 加壓力檢測裝置失效
简体标题：加压力检测设备
公开(公告)号：TWI264530B
公开(公告)日：2006-10-21
申请号：TW091132366
申请日：2002-11-01
申请人：美蓓亞股份有限公司 MINEBEA CO., LTD.
发明人：石井久男
IPC分类号： G01L
摘要：一種加壓力檢測裝置，無論被測定體斷面的形狀或尺寸為何，都能夠將施加在被測定體上之加壓力或拉伸力加以測定，其中，前述加壓力檢測裝置係包括：壓力檢測偵知器，將施加於被測定體上之加壓力或拉伸力加以檢測；固定器，用於將前述壓力檢測偵知器暫時固定於前述被測定體表面上；以及束帶，在藉由前述固定器，將前述壓力檢測偵知器暫時固定於前述被測定體表面之狀態下，自前述固定器上方將固定器加以鎖緊。又，另一種加壓力檢測裝置係包括：壓力檢測偵知器，將施加於被測定體上之加壓力或拉伸力加以檢測；以及附有按扣之固定器，用於將前述壓力檢測偵知器裝著於前述被測定體表面上。
简体摘要：一种加压力检测设备，无论被测定体断面的形状或尺寸为何，都能够将施加在被测定体上之加压力或拉伸力加以测定，其中，前述加压力检测设备系包括：压力检测侦知器，将施加于被测定体上之加压力或拉伸力加以检测；固定器，用于将前述压力检测侦知器暂时固定于前述被测定体表面上；以及束带，在借由前述固定器，将前述压力检测侦知器暂时固定于前述被测定体表面之状态下，自前述固定器上方将固定器加以锁紧。又，另一种加压力检测设备系包括：压力检测侦知器，将施加于被测定体上之加压力或拉伸力加以检测；以及附有按扣之固定器，用于将前述压力检测侦知器装着于前述被测定体表面上。

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