专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明公开

CN116829923A 正弦灯驱动器审中-实审
公开(公告)号：CN116829923A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202280014455.1
申请日：2022-02-10
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： F·B·穆勒 , D·凯斯特尔 , A·霍萨克 , S·伊斯拉姆 , S·库尔卡尼 , C·M·奥古恩
IPC分类号： G01N21/27
摘要：公开了一种装置(110)。所述装置(110)包括：a.至少一个辐射发射元件(112)，其被配置用于作为其温度的结果发射调制的热辐射；其中辐射发射元件(112)包括至少一个白炽灯(114)；b.至少一个电子电路(116)，其配置用于将周期性的时间相关电压施加到辐射发射元件(112)，其中电子电路(116)配置用于控制周期性的时间相关电压的幅值、占空比和频率中的一个或多个，其中辐射发射元件(112)的温度和调制的热辐射的频率取决于由电子电路(116)控制的施加的周期性的时间相关电压。

2. 发明公开

CN118805068A 紧凑型光谱仪审中-公开
公开(公告)号：CN118805068A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202380023117.9
申请日：2023-02-24
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： A·霍萨克 , H·齐默尔曼 , F·施密特 , F·B·穆勒 , D·凯斯特尔 , P·西布雷希特 , R·洛夫林契奇 , D·克尔布莱因
IPC分类号： G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/42 , G01J3/12 , G01N21/31 , G01N21/35 , G01N21/359 , G01J3/02 , G01N21/27 , G01J3/433 , G01N21/47
摘要：本发明涉及一种用于分析样品(111)的光谱仪装置(110)。光谱仪装置(110)包括至少一个发光元件(112)，该至少一个发光元件被配置用于发射在测量光谱中的光；至少一个参考发光元件(114)，该至少一个参考发光元件被配置用于发射在参考光谱中的光。进一步，光谱仪装置(110)包括至少一个接口元件(116)，该至少一个接口元件被配置用于接收测量光谱的光并将测量光谱的光传输到至少一个检测器阵列(122)，其中，接口元件(116)进一步被配置用于阻挡参考光谱的参考光。进一步，光谱仪装置(110)包括至少一个分段式光阑(118)，该至少一个分段式光阑被配置用于充当角度滤波器和杂散光滤波器中的一个或多个。进一步，光谱仪装置(110)包括至少一个光学分离元件(120)。进一步，光谱仪装置(110)包括至少一个检测器阵列(122)，该至少一个检测器阵列包括多个检测器元件(124)，其中，检测器阵列(122)被配置用于根据测量光谱和参考光谱中的一个或多个对多个检测器元件(124)的照射来生成至少一个检测器信号，其中，每个检测器元件(124)被配置用于接收测量光谱和参考光谱中的一个或多个的至少一部分。进一步披露了一种光谱仪系统(146)、一种用于利用光谱仪装置(110)来确定与样品(111)的光谱有关的至少一种信息的方法、以及光谱仪系统(146)的各种用途。

3. 发明公开

CN117980709A 用于校准光谱仪装置的方法审中-实审
公开(公告)号：CN117980709A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202280062276.5
申请日：2022-09-14
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： S·S·温克勒 , H·齐默尔曼 , A·霍萨克 , R·洛夫林契奇 , F·施密特 , P·辛德勒
IPC分类号： G01J3/12 , G01J3/28
摘要：披露了一种用于校准光谱仪装置(112)的方法。该方法包括以下步骤：a)利用至少一个宽带光源(114)穿过具有多个预定透射带的至少一个窄带通滤波器(116)、具体地穿过多个窄带通滤波器(116)照射该光谱仪装置(112)的至少一个检测器装置(118)；b)根据步骤a)的照射情况，通过使用该检测器装置(118)生成多个检测器信号(170)，其中，该检测器装置(118)包括被配置用于将入射光分离成具有组成波长分量的光谱的至少一个光学元件(120)并且进一步包括多个光敏元件(122)，其中，每个光敏元件被配置用于接收这些组成波长分量之一的至少一部分并用于根据由相应组成波长分量的至少一部分对相应光敏元件的照射情况来生成相应的检测器信号；c)确定至少一项波长校准信息，其中，该项波长校准信息包括将入射光的波长、具体地是波长带分配给响应于这些波长的对应光敏元件的至少一次分配，具体地是对这些预定透射带中的每一个分配这些光敏元件中的至少一个的至少一次分配，更具体地是对相应的预定透射带、具体地是对这些预定透射带中的每一个分配这些光敏元件的像素位置(174)和/或标识号中的一个或多个的至少一次分配；以及d)基于该多个检测器信号(170)确定至少一项杂散光校准信息，其中，该项杂散光校准信息包括至少一个信号分布函数、具体地是至少一个信号分布矩阵，该信号分布函数描述这些光敏元件对具有特定波长的入射光的响应分布。进一步地，披露了一种用于校准光谱仪装置(112)的系统(110)、一种计算机程序和一种计算机可读存储介质。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式