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1. 发明专利

JP2013525821A Structured light measurement method and system 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2013525821A
公开(公告)日：2013-06-20
申请号：JP2013509420
申请日：2010-05-07
申请人：深▲せん▼泰山在線科技有限公司Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd.
发明人：丹▲い▼ 師 , 迪呉 , 文闖趙 , ▲き▼ 謝
IPC分类号： G01B11/245 , G01B11/25
CPC分类号： G01B11/2545 , G06T7/521 , G06T2207/10012
摘要：【課題】本発明は従来技術の前記構造化光測定システムの測定精度が低い欠陥に対して、構造化光測定方法及び該方法を応用した構造化光測定システムに関する。
【解決手段】レーザーポイントの第一のカメラ（２１）における結像位置を利用して標定データベースの第一対応関係に従ってレーザーポイントの番号及び低精度深度を得、候補マッチングポイントを取得するように前記レーザーポイントの番号及び低精度深度によって前記レーザーポイントの第二のカメラ（２２）における結像位置を検索し、前記第一のカメラ（２１）の結像位置及び前記第一のカメラ（２１）の結像位置の前記第二のカメラ（２２）における候補マッチングポイントによってマッチングを完成し、マッチング結果を得るマッチング過程と、マッチング結果により前記第一のカメラ（２１）の結像位置とマッチングする前記第二のカメラ（２２）の結像位置を得、さらに前記標定データベースにおける第二対応関係に従って前記レーザーポイントの高精度位置を確定する計算過程とを含む構造化光測定方法である。前記測定方法を応用した構造化光測定システムである。
【選択図】図１
摘要翻译：一种结构光测量方法，包括：匹配处理，其中通过根据第一对应关系在第一相机（21）上使用激光点的成像位置来实现激光点的数量和低精度深度在校准数据库中，根据激光点的数量和低精度深度搜索激光点在第二相机（22）上的成像位置，以获得候选匹配点，则匹配处理为根据第一相机（21）的成像位置和第二相机（22）上的第一相机（21）的成像位置的候选匹配点完成，从而实现匹配结果; 以及计算处理，其中根据匹配结果实现与第一相机（21）的成像位置匹配的第二相机（22）的成像位置，然后由第二相位确定激光点的精确位置校准数据库中的对应关系。结构光测量系统利用上述测量方法。

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