专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明公开

CN107087388A 基板检查装置系统及基板检查方法有权
公开(公告)号：CN107087388A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710081172.X
申请日：2013-11-05
申请人：株式会社高永科技
发明人：李承埈 , 全文荣 , 李南昊
IPC分类号： H05K13/08
摘要：基板检查装置系统包括SPI装置、电子部件装载装置、AOI装置及信息传递部。SPI装置用于获取涂布于基板上的焊膏的第一三维信息，基于第一三维信息，根据已设定的第一限差范围，检查焊膏的不良与否。电子部件装载装置用于装载电子部件，使得电子部件与焊膏在涂布有焊膏的基板上相互粘接。并且，AOI装置用于获取电子部件与焊膏粘接的焊点的第二三维信息，基于第二三维信息，根据已设定的第二限差范围，检查电子部件装载的不良与否。并且，信息传递部将焊膏的第一三维信息传递给AOI装置，或者，将焊点的第二三维信息传递给SPI装置。由此，能够设定更有效的检查条件，从而显著减少各装置的不良率。

2. 发明公开

CN102840840A 三维形状测量设备无效
公开(公告)号：CN102840840A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210226376.5
申请日：2010-07-05
申请人：株式会社高永科技
发明人：许浈 , 全文荣 , 金弘珉 , 尹相圭 , 洪钟圭
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01B11/2531 , G01N21/8806 , G01N2021/8829
摘要：一种三维形状测量设备，所述设备包括照明部和光栅移动单元。照明部包括：光源单元，产生光；光栅单元，将由光源单元产生的光改变为具有光栅图案的光栅图案光。照明部沿预定方向将光栅图案光照射到测量目标上。光栅移动单元沿相对于光栅图案的延伸方向和光栅图案的排列方向的预定倾斜方向移动光栅单元。因此，可降低制造成本，并且可容易地管理三维形状测量设备。

3. 发明授权

CN101514893B 三维形状测量装置及方法有权
公开(公告)号：CN101514893B
公开(公告)日：2012-08-08
申请号：CN200810177605.2
申请日：2006-12-14
申请人：株式会社高永科技
发明人：高光一 , 成银莹 , 全文荣 , 金珉永 , 李承埈
IPC分类号： G01B11/25
摘要：本发明提供三维形状测量装置及方法，其装置包括：XY台、投影部、光路变换器和成像部，所述投影部包括：第一、第二照明；多个投影透镜；光栅板，设置在第一、第二照明和多个投影透镜之间，形成有多个光栅；投影部移送装置，用来将光栅板朝向与第一、第二照明照射光垂直的方向移动，所述光路变换器包括：多个反射镜；第一、第二滤光器，分别设置在多个反射镜的下侧，对经过多个反射镜的光的特性进行调节并透射其光；第三照明，设置在第一、第二滤光器之间，将光照射至检查对象物，所述成像部包括：第三滤光器；成像透镜；成像摄影机。通过使用多个照明和滤光器交替地扫描测量对象物的一侧和另一侧，能够去除在测量三维形状时产生的影子区域。

4. 发明公开

CN101943570A 三维形状测量设备有权
公开(公告)号：CN101943570A
公开(公告)日：2011-01-12
申请号：CN201010224594.6
申请日：2010-07-05
申请人：株式会社高永科技
发明人：许浈 , 全文荣 , 金弘珉 , 尹相圭 , 洪钟圭
IPC分类号： G01B11/24 , G01N21/84
CPC分类号： G01B11/2531 , G01N21/8806 , G01N2021/8829
摘要：一种三维形状测量设备，所述设备包括照明部和光栅移动单元。照明部包括：光源单元，产生光；光栅单元，将由光源单元产生的光改变为具有光栅图案的光栅图案光。照明部沿预定方向将光栅图案光照射到测量目标上。光栅移动单元沿相对于光栅图案的延伸方向和光栅图案的排列方向的预定倾斜方向移动光栅单元。因此，可降低制造成本，并且可容易地管理三维形状测量设备。

5. 发明授权

CN102782446B 板检测装置有权
公开(公告)号：CN102782446B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201180010004.2
申请日：2011-01-18
申请人：株式会社高永科技
发明人：洪钟圭 , 全文荣 , 金弘珉 , 许浈 , 尹相圭
IPC分类号： G01B11/24 , G01B11/30 , G01N21/88 , H01L21/66
CPC分类号： G01N21/9501
摘要：本发明公开一种板检测装置，其能够提高检测精度。该板检测装置包括至少一个照明组件、成像透镜、第一光束分离器、第一照相机和第二照相机。照明组件向被检测的板发射光，而成像透镜透射从被检测板反射的光。第一光束分离器透射从成像透镜透过的光的一部分，并反射该透过光的其余部分。第一照相机接收透过第一光束分离器的光并捕捉图像，而第二照相机接收由第一光束分离器反射的光并捕捉图像。根据本发明，由于仅使用一个成像透镜来检测板，因此与使用具有光轴差异或放大率差异的多个成像透镜的常规装置相比，防止了检测精度的降低。

6. 发明公开

CN103134446A 三维形状测量装置及测量方法有权
公开(公告)号：CN103134446A
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201310002349.4
申请日：2009-02-25
申请人：株式会社高永科技
发明人：李承埈 , 高光一 , 全文荣 , 尹相圭 , 金弘珉 , 许浈
IPC分类号： G01B11/25
摘要：本发明公开一种可以提高测量精度的三维形状测量装置及测量方法。三维形状测量装置包含：投影部，产生并照射光栅图案光；X-Y轴移动工作台，移动测量对象；光束分离部，分离光栅图像或者照明图像并使其透过；第一圆型照明部，其产生的光照射到测量对象，以使测量对象反射照明图像；多个反射镜，沿着圆周方向相隔设置，当被测量对象反射的光栅图像或者照明图像照射所述多个反射镜时，对其进行反射；第二圆型照明部，其产生的光照射到测量对象，以使测量对象反射照明图像；多个成像部，拍摄从光束分离部和多个反射镜照射的光栅图像或者照明图像；控制部，接收所述多个成像部拍摄的光栅图像或者照明图像，以计算测量对象的三维形状。

7. 发明授权

CN101182996B 利用阴影莫尔法的三维形状测量装置失效
公开(公告)号：CN101182996B
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN200710090649.7
申请日：2007-03-30
申请人：株式会社高永科技
发明人：全文荣 , 尹相圭
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01B11/25
摘要：本发明提供利用阴影莫尔法的三维形状测量装置，其能够与测量对象物的形状无关地使多个照明部选择性地接通/关闭以测量测量对象物的三维形状。该装置包括：光栅移送部，其具有光栅移送部件、光栅移送机构、和线性导向件；光束分离器部，设置在光栅移送部的上方，并包括第三滤光器、第三透镜和光束分离器；辅助照明部，向光束分离器部照射第一照明；成像部，对透过光束分离器部的反射图像进行摄像；多个照明部，分别包括第二照明源、第二透镜和第二滤光器；控制部，分别对光栅移送部、辅助照明部、成像部和照明部进行控制，在反射图像由成像部摄像时将接收反射图像以测量测量对象物的三维形状，并根据测量对象物的形状控制多个照明部的接通/关闭。

8. 发明公开

CN101960253A 三维形状测量装置及测量方法有权
公开(公告)号：CN101960253A
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200980107016.X
申请日：2009-02-25
申请人：株式会社高永科技
发明人：李承埈 , 高光一 , 全文荣 , 尹相圭 , 金弘珉 , 许浈
IPC分类号： G01B11/24 , G01B11/25 , G06F9/00 , G02B27/00 , G02B5/00
摘要：本发明公开一种可以提高测量精度的三维形状测量装置及测量方法。三维形状测量装置包含平台、至少一个照明部、多个摄像部以及控制部。平台支撑测量对象。照明部包含光源及光栅，以朝测量对象照射光栅图案光。摄像部在不同方向拍摄被测量对象反射的光栅图像。控制部使用摄像部拍摄的光栅图像，计算测量对象的三维形状。如此，通过主摄像部以及辅助摄像部拍摄光栅图像，可以更加迅速、精确地测定测量对象的三维形状。

9. 发明授权

CN107087388B 基板检查装置系统及基板检查方法有权
公开(公告)号：CN107087388B
公开(公告)日：2020-02-28
申请号：CN201710081172.X
申请日：2013-11-05
申请人：株式会社高永科技
发明人：李承埈 , 全文荣 , 李南昊
IPC分类号： H05K13/08
摘要：基板检查装置系统包括SPI装置、电子部件装载装置、AOI装置及信息传递部。SPI装置用于获取涂布于基板上的焊膏的第一三维信息，基于第一三维信息，根据已设定的第一限差范围，检查焊膏的不良与否。电子部件装载装置用于装载电子部件，使得电子部件与焊膏在涂布有焊膏的基板上相互粘接。并且，AOI装置用于获取电子部件与焊膏粘接的焊点的第二三维信息，基于第二三维信息，根据已设定的第二限差范围，检查电子部件装载的不良与否。并且，信息传递部将焊膏的第一三维信息传递给AOI装置，或者，将焊点的第二三维信息传递给SPI装置。由此，能够设定更有效的检查条件，从而显著减少各装置的不良率。

10. 发明授权

CN100338434C 三维图像测量装置失效无效口审无效申请诉讼
公开(公告)号：CN100338434C
公开(公告)日：2007-09-19
申请号：CN200480003759.X
申请日：2004-02-05
申请人：株式会社高永科技
发明人：高光一 , 成银莹 , 全文荣
IPC分类号： G01B11/25
摘要：本发明涉及一种三维图像测量装置，一种三维图像测量装置，包括：XYZ轴移动装置，其安装于基底元件上；工作台，其安装于所述基底元件上，用于将测量对象移动到测量位置并随后支撑所述测量对象，所述工作台具有设置在其一侧的预定的基准面；图像获取装置，其中，所述图像获取装置被所述XYZ轴移动装置向着X、Y和Z轴移动，以N次的次数将光栅图像扫描到被支撑和固定于所述工作台的所述测量对象的一侧，获取被所述测量对象N次改变的光栅图像，并且交替地以N次的次数将所述光栅图像扫描到所述测量对象的另一侧，获取被所述测量对象N次改变的光栅图像；发光装置，其安装于所述图像获取装置的一侧，用于产生和发射具有预定波长的光；以及控制单元，通过控制所述工作台和所述XYZ轴移动装置，所述控制单元将从安装于所述图像获取装置的一侧的所述发光装置产生的光照射到设定于所述工作台的一侧的基准面，随后通过所述图像获取装置接收反射光的图像，测量垂直距离，从而恒定地维持所述测量对象和所述图像获取装置之间的焦距，并且接收从所述图像获取装置获取的所述被改变的光栅图像，从而产生三维图像。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式