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    • 7. 发明专利
    • 半導体装置
    • 半导体器件
    • JP2015106609A
    • 2015-06-08
    • JP2013247145
    • 2013-11-29
    • サンケン電気株式会社株式会社神戸製鋼所神鋼リードミック株式会社
    • 藤本 健治一原 主税三井 俊幸
    • H01L23/29H01L23/31H01L23/50
    • H01L2224/32245H01L2224/48091H01L2224/48247H01L2224/73265
    • 【課題】リードフレームと半導体チップとの線膨張係数の差によって発生する応力に起因する破損が抑制された半導体装置を提供する。 【解決手段】半導体チップと、半導体チップが配置される中央領域及び中央領域の周囲に隣接する外周領域を有するリードフレームと、リードフレームと半導体チップを固着するダイアタッチ材と、半導体チップを覆ってリードフレーム上に配置される封止樹脂とを備え、リードフレームの外周領域に、中央領域と外周領域との境界から外周領域の外縁に向かって旋回しながら放射状に延伸する複数のスリットが形成され、スリットの幅が中央領域から遠ざかるにつれて広くなるように形成されている。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供能够抑制由引线框架和半导体芯片之间的线膨胀系数差产生的应力引起的损伤的半导体器件。解决方案:半导体器件包括:半导体芯片; 具有布置有半导体芯片的中心区域的引线框架和与中心区域的周边相邻的周边区域; 引线框架和半导体芯片彼此结合的管芯附着材料; 以及布置在引线框架上以覆盖半导体芯片的封装树脂。 在引线框架的周边区域中,形成从中心区域和周边区域之间的边界向周边区域的外边缘径向延伸和旋转的多个狭缝,使得狭缝的宽度随着它们的离开而变宽 远离中部地区。