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1. 发明专利

JP2015172945A 設備状態監視方法およびその装置有权
标题翻译：设备状态监测方法及其设备
公开(公告)号：JP2015172945A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：JP2015090282
申请日：2015-04-27
申请人：株式会社日立製作所
发明人：渋谷久恵 , 前田俊二
IPC分类号： G05B23/02
摘要：【課題】プラントなどの設備における異常予兆検知は、正常状態をモデル化しモデルとの比較により異常判定を行うが、多様な正常状態を持つ場合においても、正常を異常と判定する誤報の発生を防止し、異常判定の根拠の説明や、異常予兆と事象の関連付けを可能とする。【解決手段】異常予兆検知では、設備101から出力されるイベント信号をもとに運転状態別にモード分割し、モード毎に正常モデルを作成し、モード毎に学習データの十分性をチェックし、その結果に応じて設定したしきい値を用いて異常識別を行うようにした。また、診断では、横軸を結果事象、縦軸を原因事象とする頻度マトリクスに作成しておきそれを利用して故障の発生を予測する。結果事象は故障イベント、原因事象は、異常測度がしきい値を超えたセンサ信号を量子化したものとする原因事象の入力とした。【選択図】図1A
摘要翻译：要解决的问题：为了能够防止错误地通知错误地判定为异常的错误发生的发生，以解释异常判定的接地，并且即使在各种正常状态是异常状态时也将异常标志与事件相关联存在，同时通过对正常状态进行建模来进行异常判定，并且在诸如工厂的设施中的异常标志检测的情况下将正常状态与模型进行比较。解决方案：在异常标志检测中，分割模式被设置为对应于操作根据从设施101输出的事件信号，根据每个模式创建正常模型，每个模式检查学习数据的充分性，并且使用响应于检查结果设置的阈值来执行异常识别。此外，在诊断中，使用横坐标轴指示结果事件并且使用频率矩阵来预测指示原因事件的纵坐标轴并且发生故障的频率矩阵。作为结果事件输入故障事件，并且输入指示异常测量超过阈值的传感器信号量化的原因事件作为原因事件。

2. 发明专利

JP2015129751A 検査方法及びその装置有权
标题翻译：检测方法及其装置
公开(公告)号：JP2015129751A
公开(公告)日：2015-07-16
申请号：JP2014262005
申请日：2014-12-25
申请人：株式会社日立製作所
发明人：酒井薫 , 前田俊二 , 丸山重信
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/30
摘要：【課題】複雑形状をした物体の外観検査において、目視では検出困難な形状の不良を定量的に評価し、検出する物体の外観検査方法及びその装置を提供する。【解決手段】物体の外観を検査する方法を、検査対象物体5を載置して少なくとも一方向に連続的に移動させながら検査対象物体5を撮像して検査対象物体5の表面のテクスチャ情報を含む検査対象物体5の画像を取得しながら検査対象物体5の表面凹凸情報を取得し、この取得した検査対象物体5の表面凹凸情報から検査対象物体5の立体形状を復元し、取得した画像と復元した検査対象物体5の立体形状とから表面テクスチャを持った物体の外観情報を得、この得られた外観情報から複数の特徴を抽出し、この抽出した複数の特徴のうち少なくとも1つの特徴を予め設定した参照データの前記少なくとも1つの特徴に対応する特徴と比較して検査対象となる物体の外観を評価するようにした。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种物体的外观检查方法，该方法在复杂形状的物体的外观检查中定量评价在要检测的目视检查中难以检测的形状的缺陷，并提供一种用于外观检查方法的装置。解决方案：一种用于检查物体的外观的方法被构造成：加载检查对象物5; 在至少一个方向上连续移动检查对象物体的同时对检查对象物进行成像; 在获取检查对象物5的表面上的纹理信息的检查对象物5的图像的同时获取检查对象物5的表面不均匀信息; 从所取得的检查对象物5的表面不均匀信息中恢复检查对象物5的三维形状; 从所获取的图像和检查对象物体5的恢复的三维形状获得具有表面纹理的物体的外观信息; 从获得的外观信息中提取多个特征，将多个提取的特征中的至少一个特征与对应于预设参考数据的至少一个特征的特征进行比较; 并且评估作为检查对象的对象的外观。

3. 发明专利

JP5740459B2 設備状態監視方法有权
标题翻译：设备状态监测方法
公开(公告)号：JP5740459B2
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：JP2013250712
申请日：2013-12-04
申请人：株式会社日立製作所
发明人：渋谷久恵 , 前田俊二
IPC分类号： G05B23/02

4. 发明专利

JP5778305B2 異常検知方法及びそのシステム有权
标题翻译：异常检测方法和系统
公开(公告)号：JP5778305B2
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：JP2014048365
申请日：2014-03-12
申请人：株式会社日立製作所
发明人：前田俊二 , 渋谷久恵
IPC分类号： G06Q50/04 , G06Q50/06 , G05B23/02
CPC分类号： Y02P90/30

5. 发明专利

JP6076751B2 異常診断方法およびその装置有权
标题翻译：异常诊断方法和装置
公开(公告)号：JP6076751B2
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：JP2013009316
申请日：2013-01-22
申请人：株式会社日立製作所
发明人：渋谷久恵 , 前田俊二
IPC分类号： G05B23/02
CPC分类号： G06T7/001 , F01D21/003 , F01D21/14 , F01D25/00 , G01M15/14 , G05B23/0235 , G06K9/46 , G06K9/52 , G06K9/6215 , G06K9/6267 , G06K9/627 , G06K9/6272 , G06T11/206 , F05D2260/80 , F05D2270/708 , G06K2009/4666 , Y02T50/671

6. 发明专利

JP5913903B2 形状検査方法およびその装置有权
标题翻译：形状检查方法及装置
公开(公告)号：JP5913903B2
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：JP2011232468
申请日：2011-10-24
申请人：株式会社日立製作所
发明人：谷口敦史 , 酒井薫 , 丸山重信 , 前田俊二
IPC分类号： G01B11/24 , G01B21/20

7. 发明专利

JP6040215B2 検査方法有权
公开(公告)号：JP6040215B2
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：JP2014262005
申请日：2014-12-25
申请人：株式会社日立製作所
发明人：酒井薫 , 前田俊二 , 丸山重信
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/30

8. 发明专利

JP5945350B2 設備状態監視方法およびその装置有权
标题翻译：设备状态监测方法和装置
公开(公告)号：JP5945350B2
公开(公告)日：2016-07-05
申请号：JP2015090282
申请日：2015-04-27
申请人：株式会社日立製作所
发明人：渋谷久恵 , 前田俊二
IPC分类号： G05B23/02

9. 发明专利

JP5808605B2 異常検知・診断方法、および異常検知・診断システム有权
标题翻译：异常检测和诊断方法及异常检测和诊断系统，
公开(公告)号：JP5808605B2
公开(公告)日：2015-11-10
申请号：JP2011178316
申请日：2011-08-17
申请人：株式会社日立製作所
发明人：前田俊二 , 渋谷久恵
IPC分类号： G05B23/02
CPC分类号： G01D18/006 , G01M99/00 , G05B23/0283

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