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1. 发明专利

JP2020003378A 化学分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020003378A
公开(公告)日：2020-01-09
申请号：JP2018123943
申请日：2018-06-29
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：高麗友輔 , 佐々木幸太 , 前田淳 , 山田あずさ , 小野哲義
IPC分类号： B01F11/02 , G01N35/02
摘要：【課題】検体と試薬の攪拌性能を向上させた化学分析装置を提供する。【解決手段】複数の超音波素子202と、超音波波形を発生する波形発生器203と、複数の超音波素子202の中から、駆動させる超音波素子202の位置及び数を判定する判定器207と、判定結果に基づいて、波形発生器203と駆動させる超音波素子202とのインピーダンスを整合する可変整合回路205と、複数の超音波素子202の中から、駆動させる超音波素子202を選択する切替器209と、を備える化学分析装置100。【選択図】図2

2. 发明专利

JP6609489B2 電解質分析装置有权
公开(公告)号：JP6609489B2
公开(公告)日：2019-11-20
申请号：JP2016036556
申请日：2016-02-29
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：三宅雅文 , 小野哲義 , 岸岡淳史
IPC分类号： G01N27/416 , G01N27/28 , G01N27/26 , G01N27/38

3. 发明专利

JP6594431B2 イオン濃度測定装置有权
公开(公告)号：JP6594431B2
公开(公告)日：2019-10-23
申请号：JP2017535285
申请日：2016-07-01
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：渡部祥人 , 小沢理 , 小野哲義 , 三宅雅文
IPC分类号： G01N27/416 , G01N27/333 , G01N27/26

4. 发明专利

JP2018116002A 自動分析装置、自動分析装置における廃液方法、及び、三方電磁弁审中-公开
公开(公告)号：JP2018116002A
公开(公告)日：2018-07-26
申请号：JP2017008090
申请日：2017-01-20
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：小沢理 , 原田邦男 , 岸岡淳史 , 山本遇哲 , 石毛悠 , 小原賢信 , 小野哲義
IPC分类号： G01N35/10
CPC分类号： G01N35/02 , G01N35/10
摘要：【課題】真空容器を常時減圧状態とすることにより任意のタイミングでの廃液の吸引が可能な廃液装置を提供する。【解決手段】自動分析装置は、試料を測定する測定部を含む複数の測定ユニットと、第1経路を介して前記複数の測定ユニットと接続された吸引容器と、第2経路を介して前記吸引容器と接続された減圧排気系と、第3経路を介して前記吸引容器に接続された排出部と、前記第2経路に配置された圧力調整機構と、前記減圧排気系によって前記吸引容器を減圧排気するように制御する制御部とを備える。【選択図】図3

5. 发明专利

JP6650358B2 自動分析装置有权
公开(公告)号：JP6650358B2
公开(公告)日：2020-02-19
申请号：JP2016130426
申请日：2016-06-30
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：小沢理 , 石毛悠 , 本間智子 , 岸岡淳史 , 小原賢信 , 小野哲義
IPC分类号： G01N27/416 , G01N1/10 , G01N35/02

6. 发明专利

JP2019186372A 電極構造审中-公开
公开(公告)号：JP2019186372A
公开(公告)日：2019-10-24
申请号：JP2018075095
申请日：2018-04-10
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：池田宇亨 , 小野哲義 , 中土裕樹 , 三宅雅文
IPC分类号： H01L23/28 , H01L27/10 , G01N27/28 , G01N27/416 , G01N27/333 , H01L21/56
摘要：【課題】開発期間や開発コストを増大させないで半導体デバイスの破壊を防止することが可能な電極構造を提供する。【解決手段】半導体デバイス103を樹脂104でモールドして形成された電極100である。電極100は、半導体デバイス103の表面に形成され第1の厚さ(t1)を有する第1の樹脂モールド部と、半導体デバイス103の裏面に形成され第1の厚さよりも大きい第2の厚さ(t2)を有する第2の樹脂モールド部と、第1の樹脂モールド部における半導体デバイス103の端部に対応する部分に形成された露出部105とを有する。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2019039701A 化学分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019039701A
公开(公告)日：2019-03-14
申请号：JP2017159964
申请日：2017-08-23
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：高麗友輔 , 前田淳 , 小野哲義 , 大竹仁 , 田中佳幸
IPC分类号： G01N1/38 , B01F11/02 , G01N35/02
摘要：【課題】撹拌流の作用を増加させて撹拌性能を向上し、少量の液量のサンプルと試薬の撹拌を可能とする化学分析装置を提供する。【解決手段】超音波を出力する圧電素子からなる撹拌素子411に、圧電素子の厚み振動の共振周波数を変化するための波形を、波形発生器を使って印加する。撹拌素子411を構成する圧電素子は、超音波412の伝搬方向に対する水平方向(x方向)の厚みが傾斜して変化する構成を備えることにより共振周波数を変化させ、これにより反応容器413内で音響流発生位置である圧電素子からの距離414を変化することができる。これにより、反応容器413内の撹拌流の作用を増加させて撹拌性能を向上することができる。【選択図】図4

8. 发明专利

JP6556547B2 フロー型電解質濃度測定装置及びそれを用いた電解質濃度測定方法有权
公开(公告)号：JP6556547B2
公开(公告)日：2019-08-07
申请号：JP2015152614
申请日：2015-07-31
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：岸岡淳史 , 小沢理 , 三宅雅文 , 小野哲義
IPC分类号： G01N27/28 , G01N27/416 , G01N27/401

9. 发明专利

JP6185065B2 陰イオンセンサ有权
公开(公告)号：JP6185065B2
公开(公告)日：2017-08-23
申请号：JP2015527198
申请日：2014-04-21
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：鈴木晶子 , 小野哲義 , 岸岡淳史
IPC分类号： G01N27/416 , G01N27/333
CPC分类号： G01N27/333 , G01N33/48707

10. 发明专利

JP2016061694A 流路一体型センサ审中-公开
标题翻译：一体式传感器
公开(公告)号：JP2016061694A
公开(公告)日：2016-04-25
申请号：JP2014190424
申请日：2014-09-18
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：小澤理 , 石毛悠 , 本間智子 , 坂本健 , 小野哲義 , 三宅雅文 , 針替充
IPC分类号： G01N27/416 , G01N27/28
摘要：【課題】液残りが少なく、微量試料を測定可能な流路一体型センサを提供する。【解決手段】直線状の流入流路3、直線状の流出流路4及び内部液が封入され内部電極が挿入される空間5を有する筐体2と、イオン選択性感応膜8を備える。流入流路3と流出流路4は、一端で互いに交差すると共に他端がそれぞれ筐体の表面に開口し、流入流路3と流出流路4の交差部は少なくとも流入流路側が流路開口部によって前記空間と連通し、イオン選択性感応膜8は流路開口部を塞ぐように空間内に配置され、流入流路中における試料液の流れの方向と、流路に面するイオン選択性感応膜8の膜面法線とがなす角度は90°以上180°未満である。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种通道集成传感器，其中少量液体保留并且能够测量微型样品。解决方案：通道集成传感器包括离子选择敏感膜8和包括线性流入通道3的壳体2 ，线性流出通道4和填充有内部液体并且内部电极插入其中的空间5。流入通道3和流出通道4的一端彼此相交，而另一端分别在壳体2的表面上敞开。至少流入通道3和流出物的相交处的流入通道3侧通道4通过通道开口与空间5连通。离子选择敏感膜8设置在空间5中以阻挡通道开口。由流入通道3中的样品溶液的流动方向形成的角度和离子选择敏感膜8的面向通道的表面的法线等于或大于90°并且小于180°选择的图：图 1

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