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1. 发明专利

JP5903305B2 画像処理装置及び画像処理方法有权
公开(公告)号：JP5903305B2
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：JP2012070321
申请日：2012-03-26
申请人：東芝デジタルメディアエンジニアリング株式会社 , 東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：石過壮 , 富澤雅美
IPC分类号： G06T5/00 , H04N1/409 , H04N5/21

2. 发明专利

JP5809920B2 画像処理方法及び装置有权
标题翻译：图像处理方法和设备
公开(公告)号：JP5809920B2
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：JP2011227094
申请日：2011-10-14
申请人：東芝デジタルメディアエンジニアリング株式会社 , 東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：石過壮 , 富澤雅美
IPC分类号： G01N23/02 , H04N5/213

3. 发明专利

JP5982245B2 画像処理装置及び画像処理方法有权
标题翻译：图像处理装置和图像处理方法
公开(公告)号：JP5982245B2
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：JP2012214503
申请日：2012-09-27
申请人：東芝デジタルメディアエンジニアリング株式会社 , 東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：小笠原裕規 , 石過壮 , 花田剛彦 , 富澤雅美
IPC分类号： H04N1/401 , G06T5/00 , H04N5/232

4. 发明专利

JP2020169969A 放射線透視検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020169969A
公开(公告)日：2020-10-15
申请号：JP2019080508
申请日：2019-04-03
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：神山民彦 , 富澤雅美
IPC分类号： G01N23/046 , G01N23/044 , G01N23/04
摘要：【課題】干渉による放射線源や放射線検出器の破損を回避しつつ、最適な拡大率で鮮明な画像を得る放射線透視検査装置を提供する。【解決手段】X線源13からのX線ビーム17を空間分解能をもって検出するX線検出器14と、X線ビーム17内で張設状態または屈設状態で被検体12を載置する曲成可能な薄シート15を有する放射線透視検査装置。【選択図】図1

5. 发明专利

JP2019219307A 高速度放射線撮像装置および撮像方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019219307A
公开(公告)日：2019-12-26
申请号：JP2018117646
申请日：2018-06-21
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：富澤雅美 , 小湊宏 , 小畠光法
IPC分类号： G01N23/04
摘要：【課題】フォトン数の増加を無駄なく画像のSN比の向上に寄与させることができる高速度放射線撮像装置および撮像方法を提供する。【解決手段】被検査物2を透過したX線を可視光変換器3で検出し、可視光データとして出力する。可視光変換器3から出力される可視光を高速度カメラ4により所定のフレームレートで撮影する。高速度カメラ4が撮影した画像データを記憶装置51に保存する。記憶装置51に保存されている単位時間当たりの画像データ中から所定数のフレームを選択し、選択したフレーム数よりも単位時間当たりのフレーム数が少ない画像データを生成する。生成されたフレーム数が少ない画像データに基づいて動画像を生成し、表示装置54に出力する。【選択図】図1

6. 发明专利

JP6690819B2 コンピュータ断層撮影装置有权
公开(公告)号：JP6690819B2
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：JP2016075452
申请日：2016-03-16
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：大門弘典 , 富澤雅美 , 山本輝夫 , 岩澤純一
IPC分类号： G01N23/046

7. 发明专利

JP2019132727A 放射線検査装置及び放射線検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2019132727A
公开(公告)日：2019-08-08
申请号：JP2018015631
申请日：2018-01-31
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：富澤雅美 , 渡邉洋貴
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/18
摘要：【課題】空孔や異物の存在位置に関わらず、空孔や異物の検出精度を向上させることのできる放射線検査装置及び放射線検査方法を提供する。【解決手段】放射線検査装置は、放射線を照射する放射線源2と、放射線源2の照射範囲に位置し、被検体1を載置可能なステージ4と、ステージ4を挟んで放射線源2とは反対側に位置し、被検体1を透過した放射線を検出する検出器3と、検出器3から得た被検体1の二次元の透視情報を画像化する処理装置6と、処理装置6により得られた画像を表示する表示装置7と、を備える。そして、処理装置6は、被検体1の位置が異なる二つの透過データの比を算出し、二次元の比画像を生成する演算部62を有し、表示装置7は、演算部62が生成した比画像を表示する。【選択図】図1

8. 发明专利

JP2018136289A 断層像撮影装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018136289A
公开(公告)日：2018-08-30
申请号：JP2017045441
申请日：2017-02-21
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：富澤雅美
IPC分类号： A61B6/03 , G01N23/046
摘要：【課題】X線検出器から画像記憶部への画像データの転送時間を削減し、また、画像記憶部に必要な記憶容量を削減し、高速に断層像を得ることができる断層像撮影装置を提供する。【解決手段】被検査物3にX線を照射するX線発生装置1と、被検査物3を透過したX線を像(X線透過像)として捕えるX線検出器2と、被検査物3を載置して回転または平行移動、またはその両方を行う機構を有するテーブル4と、X線検出器2から転送されるX線透過像のデータを記憶する透過像データ記憶部9と、その被検査物3の複数の方向からX線検出器2が捕えたX線透過像から単数または複数の断層像群として再構成する画像再構成部10と、X線検出器2の視野内で画像を転送する領域を設定する手段である画像転送領域設定部7を有し、X線透過像から画像転送領域設定部7で設定した部分だけを選択的に画像再構成部10へ送る断層像撮影装置。【選択図】図1

9. 发明专利

JP2018128401A X線透視検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018128401A
公开(公告)日：2018-08-16
申请号：JP2017022720
申请日：2017-02-10
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：新井佑也 , 富澤雅美 , 内田敏徳
IPC分类号： G01N23/04
摘要：【課題】X線発生器とカメラの光軸を一致させ、検査対象物の外観と内部構造の対応関係を容易に把握することのできるX線透視検査装置を提供する。【解決手段】X線発生器1は検査対象物3に対してX線を照射する。X線検出器2はX線発生器1の光軸上に設置されて検査対象物3を透過したX線を受光する。カメラ5はX線発生器1とは異なる方向の光軸を有し、X線発生器1の照射範囲外の位置に設置される。反射鏡4はX線発生器1の光軸上に配置され、検査対象物3の外観像をカメラ5に対して反射させるもので、検査対象物3から反射鏡4に至るカメラ5の光軸とX線発生器1の光軸が一致するように配置される。画像表示部8はX線検出器2によって取得された検査対象物3のX線透視画像と、カメラ5によって取得された検査対象物の外観画像とを表示する。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2021120209A 立体物造形装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021120209A
公开(公告)日：2021-08-19
申请号：JP2020025693
申请日：2020-01-30
申请人：東芝ITコントロールシステム株式会社
发明人：神山民彦 , 富澤雅美
IPC分类号： B29C64/25 , B29C64/379 , B29C64/386 , B33Y30/00 , B33Y50/00 , B22F3/105 , B22F3/16 , B29C64/153
摘要：【課題】造形時における材料粉末の溶融状態及び溶融・結合された造形材料の積層状態を容易に検査することができる、パウダーベッド方式の立体物造形装置を提供する。【解決手段】サンプル形成部7は立体物造形部4の側方に設けられる。サンプル箱10はサンプル形成部7内に取出可能に配置され、内部に材料粉末が充填される。レーザ照射器14は立体物造形部及びサンプル形成部の上方に配置され、3次元方向に移動する。不活性ガスが充填された密閉室15は立体物造形部、リコータ5、サンプル形成部及びレーザ照射器を密閉する。隔壁16は密閉室内に設けられ、立体物造形部とサンプル形成部とを気密に区画する。第1シャッタ18は密閉室に設けられ、第2シャッタ20は隔壁に設けられ、第1シャッタの開放時に閉鎖される。サンプル形成部内のサンプルを取り出して放射線検査装置21に搬送する機構22を有する。【選択図】図1

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