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1. 发明专利

TWI279672B 錯誤診斷方法和其進行之電路診斷 FAULT DIAGNOSIS METHOD AND CIRCUIT DIAGNOSIS BY THE SAME 失效
简体标题：错误诊断方法和其进行之电路诊断 FAULT DIAGNOSIS METHOD AND CIRCUIT DIAGNOSIS BY THE SAME
公开(公告)号：TWI279672B
公开(公告)日：2007-04-21
申请号：TW094109665
申请日：2005-03-28
申请人：曼特製圖股份有限公司 MENTOR GRAPHICS CORPORATION
发明人：程梧佟 CHENG, WU TUNG , 蔡坤翰 TSAI, KUN HAN , 黃瑜 HUANG, YU , 湯瑪拉帕尼納葛斯 TAMARAPALLI, NAGESH , 拉伊斯基詹努茲 RAJSKI, JANUSZ
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G01R31/318547 , G06F11/267
摘要：所揭示者為一種用於執行錯誤診斷的方法、裝置及系統。在某些所揭示的具體實施例中，提供了可用於診斷來自已壓縮的測試回應之錯誤的方法。舉例而言，在一例示的具體實施例中，係接收到一至少部份以掃描為基礎之測試電路及一用以壓縮在該測試電路當中所捕捉的測試回應的一壓縮器之電路描述。並決定出由該壓縮器對於在該測試電路所捕捉的該等測試回應所執行的一轉換函數。一用於評估未壓縮的測試回應之診斷程序被修正為一已併入了該轉換函數於其中之已修正的診斷程序。本發明亦提供了電腦可讀取媒體，其包含用以致使一電腦來執行任何所揭示方法之電腦可執行指令。類似地，本發明亦提供電腦可讀取媒體，其包含可由任何所揭示方法識別的錯誤候選者表列，或是由所揭示方法產生或修正的電路描述。
简体摘要：所揭示者为一种用于运行错误诊断的方法、设备及系统。在某些所揭示的具体实施例中，提供了可用于诊断来自已压缩的测试回应之错误的方法。举例而言，在一例示的具体实施例中，系接收到一至少部份以扫描为基础之测试电路及一用以压缩在该测试电路当中所捕捉的测试回应的一压缩器之电路描述。并决定出由该压缩器对于在该测试电路所捕捉的该等测试回应所运行的一转换函数。一用于评估未压缩的测试回应之诊断进程被修正为一已并入了该转换函数于其中之已修正的诊断进程。本发明亦提供了电脑可读取媒体，其包含用以致使一电脑来运行任何所揭示方法之电脑可运行指令。类似地，本发明亦提供电脑可读取媒体，其包含可由任何所揭示方法识别的错误候选者表列，或是由所揭示方法产生或修正的电路描述。

2. 发明专利

TW200622275A 積體電路產率及品質分析方法與系統 INTEGRATED CIRCUIT YIELD AND QUALITY ANALYSIS METHODS AND SYSTEMS 审中-公开
简体标题：集成电路产率及品质分析方法与系统 INTEGRATED CIRCUIT YIELD AND QUALITY ANALYSIS METHODS AND SYSTEMS
公开(公告)号：TW200622275A
公开(公告)日：2006-07-01
申请号：TW094130394
申请日：2005-09-05
申请人：曼特製圖股份有限公司 MENTOR GRAPHICS CORPORATION
发明人：拉伊斯基詹努茲 RAJSKI, JANUSZ , 陳綱 CHEN, GANG , 奇姆馬丁 KEIM, MARTIN , 湯瑪拉帕尼納葛斯 TAMARAPALLI, NAGESH , 沙瑪馬尼許 SHARMA, MANISH , 唐華興 TANG, HUAXING
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G06F11/2273 , G01R31/01 , G01R31/2846 , G01R31/2853 , G01R31/2894 , G01R31/31704 , G01R31/31835
摘要：本文揭示一種用以測試、分析和改善積體電路產出和品質之方法、設備和系統。例如，在一實施例中，至少部分從一組設計製造規則中獲取一組設計缺陷擷取規則；決定在一或多電路測試期間所應用的電路測試刺激；評估導因於所應用的電路測試之測試回應來識別失敗的積體電路，並且識別在該失敗的積體電路內發生的該應用電路測試附隨之一或多潛在缺陷類型；收集有關發生潛在缺陷類型的該失敗積體電路內重複識別的資訊；以及分析該收集的資訊來決定依照該實體配置呈現在積體電路製造中潛在缺陷類型的可能性。
简体摘要：本文揭示一种用以测试、分析和改善集成电路产出和品质之方法、设备和系统。例如，在一实施例中，至少部分从一组设计制造守则中获取一组设计缺陷截取守则；决定在一或多电路测试期间所应用的电路测试刺激；评估导因于所应用的电路测试之测试回应来识别失败的集成电路，并且识别在该失败的集成电路内发生的该应用电路测试附随之一或多潜在缺陷类型；收集有关发生潜在缺陷类型的该失败集成电路内重复识别的信息；以及分析该收集的信息来决定依照该实体配置呈现在集成电路制造中潜在缺陷类型的可能性。

3. 发明专利

TW200606632A 無關於壓縮器之錯誤診斷 COMPACTOR INDEPENDENT FAULT DIAGNOSIS 失效
简体标题：无关于压缩器之错误诊断 COMPACTOR INDEPENDENT FAULT DIAGNOSIS
公开(公告)号：TW200606632A
公开(公告)日：2006-02-16
申请号：TW094109665
申请日：2005-03-28
申请人：曼特製圖股份有限公司 MENTOR GRAPHICS CORPORATION
发明人：程梧佟 CHENG, WU TUNG , 蔡坤翰 TSAI, KUN-HAN , 黃瑜 HUANG, YU , 湯瑪拉帕尼納葛斯 TAMARAPALLI, NAGESH , 拉伊斯基詹努茲 RAJSKI, JANUSZ
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G01R31/318547 , G06F11/267
摘要：所揭示者為一種用於執行錯誤診斷的方法、裝置及系統。在某些所揭示的具體實施例中，提供了可用於診斷來自已壓縮的測試回應之錯誤的方法。舉例而言，在一例示的具體實施例中，係接收到一至少部份以掃描為基礎之測試電路及一用以壓縮在該測試電路當中所捕捉的測試回應的一壓縮器之電路描述。並決定出由該壓縮器對於在該測試電路所捕捉的該等測試回應所執行的一轉換函數。一用於評估未壓縮的測試回應之診斷程序被修正為一已併入了該轉換函數於其中之已修正的診斷程序。本發明亦提供了電腦可讀取媒體，其包含用以致使一電腦來執行任何所揭示方法之電腦可執行指令。類似地，本發明亦提供電腦可讀取媒體，其包含可由任何所揭示方法識別的錯誤候選者表列，或是由所揭示方法產生或修正的電路描述。
简体摘要：所揭示者为一种用于运行错误诊断的方法、设备及系统。在某些所揭示的具体实施例中，提供了可用于诊断来自已压缩的测试回应之错误的方法。举例而言，在一例示的具体实施例中，系接收到一至少部份以扫描为基础之测试电路及一用以压缩在该测试电路当中所捕捉的测试回应的一压缩器之电路描述。并决定出由该压缩器对于在该测试电路所捕捉的该等测试回应所运行的一转换函数。一用于评估未压缩的测试回应之诊断进程被修正为一已并入了该转换函数于其中之已修正的诊断进程。本发明亦提供了电脑可读取媒体，其包含用以致使一电脑来运行任何所揭示方法之电脑可运行指令。类似地，本发明亦提供电脑可读取媒体，其包含可由任何所揭示方法识别的错误候选者表列，或是由所揭示方法产生或修正的电路描述。

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