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1. 发明专利

TW200736636A 可動式探針單元及檢查裝置 MOVABLE PROBE UNIT AND INSPECTING APPARATUS 审中-公开
简体标题：可动式探针单元及检查设备 MOVABLE PROBE UNIT AND INSPECTING APPARATUS
公开(公告)号：TW200736636A
公开(公告)日：2007-10-01
申请号：TW096102678
申请日：2007-01-24
申请人：日本麥克隆尼股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
发明人：福士俊雄 FUKUSHI, TOSHIO , 三浦一佳 MIURA, KAZUYOSHI , 齊藤裕樹 SAITOH, HIROKI
IPC分类号： G01R
摘要：本發明的課題是在於對於尺寸不同的液晶面板5,使作為接觸子的探針13之調整作業的作業性提昇。用以解決課題之手段為,為使探針塊12的探針13接觸於液晶面板5進行實驗的檢查裝置。支承探針塊12之可動式探針單元21具備有:主基座22;支承探針塊12之資料訊號側基座23;在任意的位置支承資料訊號側基座23之複合交叉連桿24;可滑動地被支承於主基座22,以支承探針塊12之閘門訊號側基座25;將資料訊號側基座23及閘門訊號側基座25分別定位於設定位置並加以固定之定位固定治具27;及將所有的複數個探針塊12同時地定位於各自的設定位置並加以支承之探針塊用定位固定治具29。
简体摘要：本发明的课题是在于对于尺寸不同的液晶皮肤5,使作为接触子的探针13之调整作业的作业性提升。用以解决课题之手段为,为使探针块12的探针13接触于液晶皮肤5进行实验的检查设备。支承探针块12之可动式探针单元21具备有:主基座22;支承探针块12之数据信号侧基座23;在任意的位置支承数据信号侧基座23之复合交叉连杆24;可滑动地被支承于主基座22,以支承探针块12之闸门信号侧基座25;将数据信号侧基座23及闸门信号侧基座25分别定位于设置位置并加以固定之定位固定治具27;及将所有的复数个探针块12同时地定位于各自的设置位置并加以支承之探针块用定位固定治具29。

2. 发明专利

TW200745566A 探針組件及檢查裝置 PROBE UNIT AND INSPECTING APPARATUS 审中-公开
简体标题：探针组件及检查设备 PROBE UNIT AND INSPECTING APPARATUS
公开(公告)号：TW200745566A
公开(公告)日：2007-12-16
申请号：TW096109970
申请日：2007-03-22
申请人：日本麥克隆尼股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
发明人：齋藤豐和 SAITOH, TOYOKAZU , 赤平惠 AKAHIRA, MEGUMI , 三浦一佳 MIURA, KAZUYOSHI
IPC分类号： G01R , G02F
摘要：【課題】不需將探針組件31向前倒下,就可從外側裝卸探針組件31內側面的零件,來改良維修時的作業性。【解決手段】液晶面板37的檢查用的一種探針組件31。具備:支撐整體的固定塊體40、及被支撐於該固定塊體40的安裝塊體41、及一體安裝於該安裝塊體41的支撐塊體42、及被插入並支撐於該支撐塊體42的探針組裝體34、及被支撐於前述支撐塊體42內側面並與前述探針組裝體34電連接的連接纜線部35。在前述支撐塊體42設置比前述安裝塊體41的寬度更擴大的擴大部70,在前述支撐塊體42設置將固定前述連接纜線部35用的螺栓72從裝置本體的外側裝卸於前述擴大部70用的螺栓孔71。
简体摘要：【课题】不需将探针组件31向前倒下,就可从外侧装卸探针组件31内侧面的零件,来改良维修时的作业性。【解决手段】液晶皮肤37的检查用的一种探针组件31。具备:支撑整体的固定块体40、及被支撑于该固定块体40的安装块体41、及一体安装于该安装块体41的支撑块体42、及被插入并支撑于该支撑块体42的探针组装体34、及被支撑于前述支撑块体42内侧面并与前述探针组装体34电连接的连接缆线部35。在前述支撑块体42设置比前述安装块体41的宽度更扩大的扩大部70,在前述支撑块体42设置将固定前述连接缆线部35用的螺栓72从设备本体的外侧装卸于前述扩大部70用的螺栓孔71。

3. 发明专利

TW200902988A 探針單元及檢查裝置 PROBE UNIT AND INSPECTION APPARATUS 审中-公开
简体标题：探针单元及检查设备 PROBE UNIT AND INSPECTION APPARATUS
公开(公告)号：TW200902988A
公开(公告)日：2009-01-16
申请号：TW097110594
申请日：2008-03-25
申请人：日本麥克隆尼股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
发明人：小山內康晃 OSANAI, YASUAKI , 三浦一佳 MIURA, KAZUYOSHI , 齊藤裕樹 SAITO, HIROKI , 福士俊雄 FUKUSHI, TOSHIO
IPC分类号： G01R
摘要：本發明之課題為:可安全且可以一人作業進行探針單元的更換作業。本發明之解決手段為:具備:探針載置台,被固定於本體側;探針組合體,具有與液晶面板等檢查對象板之電極直接接觸的探針;和探針基座,在被支持於上述探針載置台的狀態下支持上述探針組合體,並且上述探針基座具備:1個基準板部;1或2個以上的調整板部;和位置調整機構,設置於此等基準板部與調整板部之間及各調整板部之間且調整各調整板部的位置。上述基準板部係在不會偏移於上述探針載置台之特定位置下被安裝,且上述調整板部係在可容許於上述探針載置台上偏移的狀態下被安裝。
简体摘要：本发明之课题为:可安全且可以一人作业进行探针单元的更换作业。本发明之解决手段为:具备:探针载置台,被固定于本体侧;探针组合体,具有与液晶皮肤等检查对象板之电极直接接触的探针;和探针基座,在被支持于上述探针载置台的状态下支持上述探针组合体,并且上述探针基座具备:1个基准板部;1或2个以上的调整板部;和位置调整机构,设置于此等基准板部与调整板部之间及各调整板部之间且调整各调整板部的位置。上述基准板部系在不会偏移于上述探针载置台之特定位置下被安装,且上述调整板部系在可容许于上述探针载置台上偏移的状态下被安装。

4. 发明专利

TW200837355A 探針單元及檢查裝置 PROBE UNIT AND INSPECTION APPARATUS 审中-公开
简体标题：探针单元及检查设备 PROBE UNIT AND INSPECTION APPARATUS
公开(公告)号：TW200837355A
公开(公告)日：2008-09-16
申请号：TW096142706
申请日：2007-11-12
申请人：日本麥克隆尼股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
发明人：中山佳美 NAKAYAMA, YOSHIMI , 三浦一佳 MIURA, KAZUYOSHI
IPC分类号： G01R , H01L
摘要：本發明之課題在於可確實地防止導引薄膜產生剝離。本發明之解決手段為使用於檢查對象板的檢查之探針單元及檢查裝置。係具備:電性接觸於上述檢查對象板之電路的電極並施加檢查訊號之探針組裝體;及將該探針組裝體及外部裝置予以電性連接之連接排線部;將上述探針組裝體之基端部的針部所接觸之FPC排線的端子予以覆蓋而設置導引薄膜;該導引薄膜係具備:與上述FPC排線的端子為相同數目且分別設置於與各端子整合一致的位置之導孔;及設置於配合FPC板的前端側緣部的角部之位置之彎折部。
简体摘要：本发明之课题在于可确实地防止导引薄膜产生剥离。本发明之解决手段为使用于检查对象板的检查之探针单元及检查设备。系具备:电性接触于上述检查对象板之电路的电极并施加检查信号之探针组装体;及将该探针组装体及外部设备予以电性连接之连接排线部;将上述探针组装体之基端部的针部所接触之FPC排线的端子予以覆盖而设置导引薄膜;该导引薄膜系具备:与上述FPC排线的端子为相同数目且分别设置于与各端子集成一致的位置之导孔;及设置于配合FPC板的前端侧缘部的角部之位置之弯折部。

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