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1. 发明专利

TW201920963A 電性連接裝置审中-公开
简体标题：电性连接设备
公开(公告)号：TW201920963A
公开(公告)日：2019-06-01
申请号：TW107128167
申请日：2018-08-13
申请人：日商日本麥克隆尼股份有限公司 , KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
发明人：那須美佳 , NASU, MIKA , 村本剛 , MURAMOTO, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073 , H01L21/66
摘要：本發明提供一種探針可與被檢查體以及配置在基板上的焊墊穩定接觸的電性連接裝置。本發明之電性連接裝置具備：探針10，具有分別使前端部從筒部11之兩端部的開口端露出的頂側柱塞121及底側柱塞122，並且在筒部11之兩端部的中間的區域形成有外徑與筒部11之主體部不同的制動區域13；以及探針頭20，具有制動區域13及筒部11的主體部當中的外徑相對較細的區域會通過，且外徑相對較粗的區域無法通過的中間導件23，並且以相對較細的區域貫穿中間導件23的狀態保持探針10，探針10構成為在兩端部與制動區域13之間分別朝軸方向伸縮自如，當探針10朝軸方向伸縮時，相對較粗的區域壓接在中間導件23上。
简体摘要：本发明提供一种探针可与被检查体以及配置在基板上的焊垫稳定接触的电性连接设备。本发明之电性连接设备具备：探针10，具有分别使前端部从筒部11之两端部的开口端露出的顶侧柱塞121及底侧柱塞122，并且在筒部11之两端部的中间的区域形成有外径与筒部11之主体部不同的制动区域13；以及探针头20，具有制动区域13及筒部11的主体部当中的外径相对较细的区域会通过，且外径相对较粗的区域无法通过的中间导件23，并且以相对较细的区域贯穿中间导件23的状态保持探针10，探针10构成为在两端部与制动区域13之间分别朝轴方向伸缩自如，当探针10朝轴方向伸缩时，相对较粗的区域压接在中间导件23上。

2. 发明专利

TWI682180B 電性連接裝置有权
简体标题：电性连接设备
公开(公告)号：TWI682180B
公开(公告)日：2020-01-11
申请号：TW107128167
申请日：2018-08-13
申请人：日商日本麥克隆尼股份有限公司 , KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
发明人：那須美佳 , NASU, MIKA , 村本剛 , MURAMOTO, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073 , H01L21/66

3. 发明专利

TW201538984A 接觸檢查裝置审中-公开
简体标题：接触检查设备
公开(公告)号：TW201538984A
公开(公告)日：2015-10-16
申请号：TW103145004
申请日：2014-12-23
申请人：日本麥克隆尼股份有限公司 , KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
发明人：村本剛 , MURAMOTO, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R1/067
摘要：提供可以使接觸件和被檢查體之電性連接安定的接觸檢查裝置。接觸檢查裝置具備與被檢查體接觸而進行檢查之接觸件，上述接觸件具備基體部分和與被檢查體接觸之前端部分，上述前端部分具備擁有可撓性之複數的端子，上述複數的端子被構成在該端子被推壓至上述被檢查體之狀態下，受到施加於上述接觸件之軸線方向之壓縮力而朝與上述軸線方向交叉之方向彎曲，該接觸檢查裝置係在上述接觸件之上述前端部分被推壓至上述被檢查體之狀態下，藉由上述複數的端子分別彎曲，推壓上述被檢查體，且各端子和上述被檢查體被電性連接。
简体摘要：提供可以使接触件和被检查体之电性连接安定的接触检查设备。接触检查设备具备与被检查体接触而进行检查之接触件，上述接触件具备基体部分和与被检查体接触之前端部分，上述前端部分具备拥有可挠性之复数的端子，上述复数的端子被构成在该端子被推压至上述被检查体之状态下，受到施加于上述接触件之轴线方向之压缩力而朝与上述轴线方向交叉之方向弯曲，该接触检查设备系在上述接触件之上述前端部分被推压至上述被检查体之状态下，借由上述复数的端子分别弯曲，推压上述被检查体，且各端子和上述被检查体被电性连接。

4. 发明专利

TWI561824B 接觸檢查裝置有权
简体标题：接触检查设备
公开(公告)号：TWI561824B
公开(公告)日：2016-12-11
申请号：TW103145004
申请日：2014-12-23
申请人：日本麥克隆尼股份有限公司 , KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS
发明人：村本剛 , MURAMOTO, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R1/067

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