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1. 发明专利

TW201432280A 磁阻抗元件及其製造方法审中-公开
简体标题：磁阻抗组件及其制造方法
公开(公告)号：TW201432280A
公开(公告)日：2014-08-16
申请号：TW102133003
申请日：2013-09-12
申请人：愛知製鋼股份有限公司 , AICHI STEEL CORPORATION
发明人：西畑克彦 , NISHIHATA, KATSUHIKO , 伊藤秀信 , ITO, HIDENOBU , 內藤憲和 , NAITOH, NORIKAZU , 松川久常 , MATSUKAWA, HISATSUNE
IPC分类号： G01R33/09
CPC分类号： H01F27/29 , G01R33/063 , H01F27/2823 , H01F37/005 , H01F41/34 , Y10T29/4902
摘要： [課題]提供可兼顧高輸出化及小型化的磁阻抗元件(MI元件)。[解決手段]本發明之MI元件之特徵為：周繞被配設在基板(11)上的磁敏線(12)的檢測線圈(13)係由以下構成：沿著基板的平坦面而形成，與磁敏線呈交叉之由膜狀導體所成的第一配線部(131)；關於磁敏線，形成在第一配線部的相反側，且與磁敏線呈交叉之由膜狀導體所成的第二配線部(132)；及在磁敏線的兩側被絕緣部所圍繞，朝基板的法線方向延伸存在而將第一配線部及第二配線部的預定位置相連結之由柱狀導體或筒狀導體所成的連結部(133、134)。藉由設置如上所示之連結部，可形成精細的配線部，可達成檢測線圈的精細間距化進而兼顧MI元件的高輸出化及小型化。
简体摘要： [课题]提供可兼顾高输出化及小型化的磁阻抗组件(MI组件)。[解决手段]本发明之MI组件之特征为：周绕被配设在基板(11)上的磁敏线(12)的检测线圈(13)系由以下构成：沿着基板的平坦面而形成，与磁敏线呈交叉之由膜状导体所成的第一配线部(131)；关于磁敏线，形成在第一配线部的相反侧，且与磁敏线呈交叉之由膜状导体所成的第二配线部(132)；及在磁敏线的两侧被绝缘部所围绕，朝基板的法线方向延伸存在而将第一配线部及第二配线部的预定位置相链接之由柱状导体或筒状导体所成的链接部(133、134)。借由设置如上所示之链接部，可形成精细的配线部，可达成检测线圈的精细间距化进而兼顾MI组件的高输出化及小型化。

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