专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TWI563275B 自動化測試設備與測試方法有权
简体标题：自动化测试设备与测试方法
公开(公告)号：TWI563275B
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：TW102107281
申请日：2013-03-01
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：費迪亞尼約翰 , FREDIANI, JOHN , 奈米克安卓 , NIEMIC, ANDREW
IPC分类号： G01R31/3177 , G11C29/56
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/31907

2. 发明专利

TW201433803A 具有於可現場規劃閘陣列區塊中的混合協定引擎之測試器审中-公开
简体标题：具有于可现场规划闸数组区块中的混合协定发动机之测试器
公开(公告)号：TW201433803A
公开(公告)日：2014-09-01
申请号：TW102107280
申请日：2013-03-01
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：費迪亞尼約翰 , FREDIANI, JOHN , 奈米克安卓 , NIEMIC, ANDREW
IPC分类号： G01R31/3177 , G11C29/56
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/318307
摘要：本發明呈現一種能夠執行半導體器件之高速測試的自動化測試設備。該自動化測試設備包含一用於控制一測試程式之系統控制器，其中該系統控制器耦接至一匯流排。測試器系統進一步包含亦耦接至該匯流排之複數個模組，其中每一模組可操作以測試多個受測試器件(DUT)。該等模組中之每一者包含耦接至該匯流排之一測試器處理器、以及以通訊方式耦接至該測試器處理器之多個可組配區塊。該等可組配區塊中之每一者可操作以與一相關聯DUT通訊，且進一步可操作以藉由一通訊協定來規劃以用於對該相關聯受測試器件來回傳達測試資料。
简体摘要：本发明呈现一种能够运行半导体器件之高速测试的自动化测试设备。该自动化测试设备包含一用于控制一测试进程之系统控制器，其中该系统控制器耦接至一总线。测试器系统进一步包含亦耦接至该总线之复数个模块，其中每一模块可操作以测试多个受测试器件(DUT)。该等模块中之每一者包含耦接至该总线之一测试器处理器、以及以通信方式耦接至该测试器处理器之多个可组配区块。该等可组配区块中之每一者可操作以与一相关联DUT通信，且进一步可操作以借由一通信协定来规划以用于对该相关联受测试器件来回传达测试数据。

3. 发明专利

TWI547702B 自動化測試設備裝置、用其來進行測試之方法以及測試器系統有权
简体标题：自动化测试设备设备、用其来进行测试之方法以及测试器系统
公开(公告)号：TWI547702B
公开(公告)日：2016-09-01
申请号：TW102107280
申请日：2013-03-01
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：費迪亞尼約翰 , FREDIANI, JOHN , 奈米克安卓 , NIEMIC, ANDREW
IPC分类号： G01R31/3177 , G11C29/56
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/318307

4. 发明专利

TW201433804A 具有記憶體加速及用於可現場規劃閘陣列區塊中自動型樣產生之加速的測試器审中-公开
简体标题：具有内存加速及用于可现场规划闸数组区块中自动型样产生之加速的测试器
公开(公告)号：TW201433804A
公开(公告)日：2014-09-01
申请号：TW102107281
申请日：2013-03-01
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：費迪亞尼約翰 , FREDIANI, JOHN , 奈米克安卓 , NIEMIC, ANDREW
IPC分类号： G01R31/3177 , G11C29/56
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/31907
摘要：本發明呈現一種能夠執行半導體器件之一高速測試的自動化測試設備。該自動化測試設備裝置包含一電腦系統，其包含一測試器處理器，其中該測試器處理器以通訊方式耦接至多個FPGA組件。該等多個FPGA組件中之每一者耦接至一記憶體模組且包含：可操作以接收來自測試器處理器之命令及資料的一上游埠；可操作以與來自多個DUT之一個別DUT通訊之一下游埠；以及多個硬體加速器電路，其中該等加速器電路中之每一者係組配來與該等多個DUT中之一者通訊。該等多個硬體加速器電路中之每一者包含：一型樣產生器電路，其可組配來自動地產生將要寫入至該等多個DUT中之一者的測試型樣資料；以及一比較器電路，其係組配來比較自該等多個DUT中之該一者讀取的資料與寫入至該等多個DUT中之該一者的測試型樣資料。
简体摘要：本发明呈现一种能够运行半导体器件之一高速测试的自动化测试设备。该自动化测试设备设备包含一电脑系统，其包含一测试器处理器，其中该测试器处理器以通信方式耦接至多个FPGA组件。该等多个FPGA组件中之每一者耦接至一内存模块且包含：可操作以接收来自测试器处理器之命令及数据的一上游端口；可操作以与来自多个DUT之一个别DUT通信之一下游端口；以及多个硬件加速器电路，其中该等加速器电路中之每一者系组配来与该等多个DUT中之一者通信。该等多个硬件加速器电路中之每一者包含：一型样产生器电路，其可组配来自动地产生将要写入至该等多个DUT中之一者的测试型样数据；以及一比较器电路，其系组配来比较自该等多个DUT中之该一者读取的数据与写入至该等多个DUT中之该一者的测试型样数据。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式