专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TWI300848B 熔絲檢查電路及其檢查方法失效
简体标题：熔丝检查电路及其检查方法
公开(公告)号：TWI300848B
公开(公告)日：2008-09-11
申请号：TW095109448
申请日：2006-03-20
申请人：富晶電子股份有限公司 FORTUNE SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：黃一洲 , 吳曉龍
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G11C17/16
摘要：一種熔絲檢查電路及其檢查方法,第一檢查電路被系統電壓源所驅動,係檢查熔絲之第一端的電壓値,以輸出第一參考電壓,第二檢查電路被系統電壓源所驅動,係檢查熔絲之第二端的電壓値,以輸出第二參考電壓,類比比較器根據第一參考電壓與第二參考電壓的差値,判斷熔絲是否已被燒斷,於熔絲的燒錄過程中,第一參考電壓與第二參考電壓之差値較小,以延長類比比較器的反應時間,於熔絲的讀取過程中,第一參考電壓與第二參考電壓之差値較大,以縮短類比比較器的反應時間。
简体摘要：一种熔丝检查电路及其检查方法,第一检查电路被系统电压源所驱动,系检查熔丝之第一端的电压値,以输出第一参考电压,第二检查电路被系统电压源所驱动,系检查熔丝之第二端的电压値,以输出第二参考电压,模拟比较器根据第一参考电压与第二参考电压的差値,判断熔丝是否已被烧断,于熔丝的刻录过程中,第一参考电压与第二参考电压之差値较小,以延长模拟比较器的反应时间,于熔丝的读取过程中,第一参考电压与第二参考电压之差値较大,以缩短模拟比较器的反应时间。

2. 发明专利

TWI298495B 具有雙電壓源之熔絲記憶位元與其電源供應方法失效
简体标题：具有双电压源之熔丝记忆比特与其电源供应方法
公开(公告)号：TWI298495B
公开(公告)日：2008-07-01
申请号：TW095109446
申请日：2006-03-20
申请人：富晶電子股份有限公司 FORTUNE SEMICONDUCTOR CORPORATION.
发明人：黃一洲 , 吳曉龍
IPC分类号： G11C
CPC分类号： G11C17/16
摘要：一種具有雙電壓源之熔絲記憶位元與其電源供應方法,熔絲連接修整電壓源,第一檢查電路與第二檢查電路被系統電壓源所驅動,檢查電路依據熔絲之第一端與第二端的電位差,以判斷熔絲是否被燒斷。
简体摘要：一种具有双电压源之熔丝记忆比特与其电源供应方法,熔丝连接修整电压源,第一检查电路与第二检查电路被系统电压源所驱动,检查电路依据熔丝之第一端与第二端的电位差,以判断熔丝是否被烧断。

3. 发明专利

TWI300938B 燒錄檢查方法及其電路失效
简体标题：刻录检查方法及其电路
公开(公告)号：TWI300938B
公开(公告)日：2008-09-11
申请号：TW095109447
申请日：2006-03-20
申请人：富晶電子股份有限公司 FORTUNE SEMICONDUCTOR CORPORATION.
发明人：黃一洲 , 吳曉龍
IPC分类号： G11C
CPC分类号： G11C17/16
摘要：一種燒錄檢查電路,一第一檢查電路被系統電壓源所驅動,檢查熔絲之第一端的電壓値,以輸出第一參考電壓,一第二檢查電路被系統電壓源所驅動,係檢查熔絲之第二端的電壓値,以輸出第二參考電壓,一比較器根據第一參考電壓與第二參考電壓的差値,判斷熔絲是否已被燒斷。
简体摘要：一种刻录检查电路,一第一检查电路被系统电压源所驱动,检查熔丝之第一端的电压値,以输出第一参考电压,一第二检查电路被系统电压源所驱动,系检查熔丝之第二端的电压値,以输出第二参考电压,一比较器根据第一参考电压与第二参考电压的差値,判断熔丝是否已被烧断。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式