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    • 2. 发明专利
    • LSI晶片試驗裝置
    • LSI芯片试验设备
    • TWI377352B
    • 2012-11-21
    • TW094133825
    • 2005-09-28
    • 學校法人慶應義塾
    • 黑田忠廣溝口大介三浦典之
    • G01R
    • G01R31/315G01R31/3025
    • 提供一種適用於測試藉由感應性耦合進行基板間通訊的電子電路,即使未使用測試用焊墊也可測試電子電路的電子電路試驗裝置作為課題,在由第一,第二發訊線圈(21a,21b),及第一,第二收訊線圈(23c,23b)產生的感應性耦合所構成的通訊通道,介入探針(15),藉由測試器(11),緩衝器(12,13),及Tx/Px開關(14)來測試LSI。由此,在電子電路試驗裝置不必設置與電子電路的焊墊或引入線接觸的針而可延長壽命。
    • 提供一种适用于测试借由感应性耦合进行基板间通信的电子电路,即使未使用测试用焊垫也可测试电子电路的电子电路试验设备作为课题,在由第一,第二发讯线圈(21a,21b),及第一,第二收讯线圈(23c,23b)产生的感应性耦合所构成的通信信道,介入探针(15),借由测试器(11),缓冲器(12,13),及Tx/Px开关(14)来测试LSI。由此,在电子电路试验设备不必设置与电子电路的焊垫或引入线接触的针而可延长寿命。
    • 4. 发明专利
    • 電子電路
    • 电子电路
    • TWI364106B
    • 2012-05-11
    • TW094104197
    • 2005-02-14
    • 學校法人慶應義塾
    • 黑田忠廣溝口大介由司米拉滋 平堤 由司夫三浦典之櫻井貴康
    • H01L
    • H05K1/165H01F17/0006H01F2038/143H01L25/0657H01L2224/32145H01L2225/06527H05K1/0237H05K1/0239Y10T29/49002
    • 本發明之課題
      提供一種即使跨過將3片以上基板3維安裝的基板,來傳送訊號時,亦可有效傳送訊號之電子電路。

      本發明之解決手段
      以3層堆疊LSI(大型積體電路)晶片,形成跨越3晶片之匯流排。於第1~第3LSI晶片11a、11b、11c上,以配線形成第1~第3送訊線圈13a、13b、13c,以及第1~第3收訊線圈15a、15b、15c。此等3對之送收訊線圈13、15之開口之中心係配置為一致。依此,3對之送收訊線圈13、15係形成感應偶合,而可進行通訊。第1~第3送訊線圈13a、13b、13c係分別連接有第1~第3送訊電路12a、12b、12c,而第1~第3收訊線圈15a、15b、15c則分別連接有第1~第3收訊電路14a、14b、14c。
    • 本发明之课题 提供一种即使跨过将3片以上基板3维安装的基板,来发送信号时,亦可有效发送信号之电子电路。 本发明之解决手段 以3层堆栈LSI(大型集成电路)芯片,形成跨越3芯片之总线。于第1~第3LSI芯片11a、11b、11c上,以配线形成第1~第3送讯线圈13a、13b、13c,以及第1~第3收讯线圈15a、15b、15c。此等3对之送收讯线圈13、15之开口之中心系配置为一致。依此,3对之送收讯线圈13、15系形成感应偶合,而可进行通信。第1~第3送讯线圈13a、13b、13c系分别连接有第1~第3送讯电路12a、12b、12c,而第1~第3收讯线圈15a、15b、15c则分别连接有第1~第3收讯电路14a、14b、14c。