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1. 发明专利

JP2015141151A 計測装置及び橋梁検査方法有权
标题翻译：测量装置和桥梁检查方法
公开(公告)号：JP2015141151A
公开(公告)日：2015-08-03
申请号：JP2014015269
申请日：2014-01-30
申请人：国立大学法人和歌山大学 , ジェイアール西日本コンサルタンツ株式会社 , 株式会社ヒカリ
发明人：藤垣元治 , 生駒昇 , 玉井博貴 , 浅井大介
IPC分类号： G01B11/16
摘要：【課題】橋桁等の計測対象物の動きを容易に計測する計測装置及び橋梁検査方法を提供する。【解決手段】計測装置1は、撮像部11と、撮像部11が出力した画像データを処理する処理部12とを備える。撮像部11は、計測対象物に複数設けられた格子パターン2を所定の時間間隔で撮像して画像データを出力する。処理部12は、格子パターン2が写っている複数の画像処理領域21内の各画像データに対して、2つの時点間における格子パターン2の変位を算出する。これにより、複数の格子パターン2の変位が一度に計測される。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于容易地测量诸如桥梁的测量对象的运动的测量装置和桥梁检查方法。测量装置1包括成像部分11和处理部分12，其处理成像部分11输出的图像数据。成像部分11以预定的时间间隔对布置在测量对象上的多个网格图案2进行成像，并输出图像数据。处理部12计算包含网格图案2的多个图像处理区域21中的图像数据中的每个图像数据的两个时间点之间的网格图案2的位移。多个网格图案2的位移在时间。

2. 发明专利

JP6323929B2 計測装置及び橋梁検査方法有权
公开(公告)号：JP6323929B2
公开(公告)日：2018-05-16
申请号：JP2014015269
申请日：2014-01-30
申请人：国立大学法人和歌山大学 , ジェイアール西日本コンサルタンツ株式会社 , 株式会社ヒカリ
发明人：藤垣元治 , 生駒昇 , 玉井博貴 , 浅井大介
IPC分类号： G01B11/16 , G01B11/26

3. 发明专利

JP6871561B2 変位を測定する方法有权
公开(公告)号：JP6871561B2
公开(公告)日：2021-05-12
申请号：JP2016159212
申请日：2016-08-15
申请人：国立大学法人福井大学 , 国立大学法人和歌山大学 , 4Dセンサー株式会社 , ジェイアール西日本コンサルタンツ株式会社
发明人：藤垣元治 , 村田頼信 , 冨田大樹 , 森本吉春 , 柾谷明大 , 楠芳之 , 栗林賢一 , 得津明弘 , 矢島秀治
IPC分类号： G01B11/16 , G06T7/00 , G01B11/02

4. 发明专利

JP2018028439A 変位を測定する方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018028439A
公开(公告)日：2018-02-22
申请号：JP2016159212
申请日：2016-08-15
申请人：国立大学法人福井大学 , 国立大学法人和歌山大学 , 4Dセンサー株式会社 , ジェイアール西日本コンサルタンツ株式会社
发明人：藤垣元治 , 村田頼信 , 冨田大樹 , 森本吉春 , 柾谷明大 , 楠芳之 , 栗林賢一 , 得津明弘 , 矢島秀治
IPC分类号： G01B11/16 , G06T7/00 , G01B11/02
摘要：【課題】橋桁等の測定対象物の変位を容易に計測する計測方法を提供する。【解決手段】本発明による変位計測は、先ず、測定対象物の撮像をおこない、次に、測定対象物の撮影画像に1次元フーリエ変換(FFT)を適用し、さらに、測定対象物の横幅もしくは縦幅に対応する空間周波数成分に対して1次元逆フーリエ変換(IFFT)を適用して位相解析を行い、測定対象物の変位前後の位相解析による位相の位相差から測定対象物の変位量を算出する。【選択図】図11

5. 发明专利

JP6420159B2 形状計測装置および形状計測方法审中-公开
公开(公告)号：JP6420159B2
公开(公告)日：2018-11-07
申请号：JP2015003566
申请日：2015-01-09
申请人：国立大学法人和歌山大学
发明人：藤垣元治 , 小浦洋平
IPC分类号： G01B11/25

6. 发明专利

JP5901051B2 変位検出警報システム有权
标题翻译：位移探测报警系统
公开(公告)号：JP5901051B2
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：JP2011204249
申请日：2011-09-20
申请人：国立大学法人和歌山大学
发明人：藤垣元治 , 森田慎
IPC分类号： G01B11/00 , G08B21/10 , G08B25/00 , G01D21/00

7. 发明专利

JP5818341B2 形状計測装置および形状計測方法有权
标题翻译：形状测定装置和形状测定方法
公开(公告)号：JP5818341B2
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：JP2010277516
申请日：2010-12-13
申请人：国立大学法人和歌山大学
发明人：藤垣元治 , 森本吉春 , 柾谷明大 , 松本真吾
IPC分类号： G06T1/00 , G01B11/25

8. 发明专利

JP2016128785A 形状計測装置および形状計測方法审中-公开
标题翻译：形状测量装置和形状测量方法
公开(公告)号：JP2016128785A
公开(公告)日：2016-07-14
申请号：JP2015003566
申请日：2015-01-09
申请人：国立大学法人和歌山大学
发明人：藤垣元治 , 小浦洋平
IPC分类号： G01B11/25
摘要：【課題】計測対象物体の形状を高速かつ高精度、さらには広い計測範囲で計測することができる装置および方法を提案する。【解決手段】計測対象物体Oに所定の形状の格子パターンを投影するための投影用光を発光する複数の光源11aと、投影用光を通過させて格子パターンを形成する格子基板11bとを有する格子パターン投影部11と、格子パターンが投影された計測対象物体Oを撮影する撮影部12と、撮影された計測対象物体Oの画像に対して位相解析処理を施して計測対象物体Oの形状を求める解析部13とを備え、複数の光源11aは、格子基板11bからの距離が異なる複数の位置の各々に少なくとも1つ配置されていることを特徴とする。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够快速，精确地并且在宽的测量范围内提出测量对象物体的形状的装置和方法。解决方案：形状测量装置包括：具有多个的格子图案投影单元11 光源11a，其通过使投影光通过晶格衬底而发射用于将具有预定形状的格子图案投射到测量对象物O和投影光栅的栅格基板11b，形成晶格图案; 成像单元12对投影了格子图案的测量对象物体O进行成像; 以及分析单元13，通过对测量对象物体O拍摄的图像进行相位分析来获得测量对象物体O的形状，光源11a分别布置在与格子衬底11b分开不同的不同位置不同的距离，并且具有至少一个光源的位置。选择图：图1

9. 发明专利

JP2015172487A 形状計測装置および形状計測方法有权
标题翻译：形状测量装置和形状测量方法
公开(公告)号：JP2015172487A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：JP2014047412
申请日：2014-03-11
申请人：国立大学法人和歌山大学
发明人：藤垣元治 , 島淳
IPC分类号： G06T1/00 , G01B11/25
摘要：【課題】格子投影法での計測において、反射率が異なる領域の境界付近に発生する誤差を低減することが可能な物体表面の反射率の変化に対する三次元計測誤差低減方法とその装置を提供する。【解決手段】カメラと、カメラの周囲に設置した複数の格子投影装置を用いて、各画素において重みを求めておき、その値を元にしてそれぞれの前記格子投影装置を用いて得られた高さ分布の重み付け平均を画素ごとに行う三次元計測方法である。計測を行う前に、基準面を用いて投影格子の位相の傾きと高さ方向の傾きを調べ、これらを元に重み分布の算出を行う。重み分布の算出後、それぞれの格子投影装置を用いて計測を行い、複数の計測結果を得る。そして、重み分布を用いて、それぞれの計測結果の合成を行う。【選択図】図14
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于物体表面中的反射率的变化的三维测量误差减小方法，其中，通过栅格投影法的测量可以减少在反射率不同的区域之间的边界周围发生的误差，并提供三维测量误差减小方法的装置。解决方案：根据本发明的公开涉及一种三维测量方法，其使用相机和安装在摄像机附近的多个栅格投影装置以获得每个像素中的权重，并且基于权重的值来执行通过对于每个像素使用各个栅格投影装置获得的高度分布的加权平均值。在测量之前，三维测量方法被配置为：使用参考平面来检查投影网格的相位的倾斜度和高度方向上的倾斜度; 基于其倾斜度和倾斜度来计算重量分布; 在计算重量分布后，使用每个电网投影装置进行测量; 并使用权重分布来合成各自的计算结果。

10. 发明专利

JP5825622B2 変位・ひずみ分布計測光学系と計測手法有权
标题翻译：位移和应变分布测量光学系统与测量技术
公开(公告)号：JP5825622B2
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：JP2011086797
申请日：2011-04-08
申请人：国立大学法人和歌山大学
发明人：藤垣元治 , 西谷陸 , 森本吉春
IPC分类号： G01B11/16

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