专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明申请

WO2018110843A1 형광수명 측정장치 및 측정방법 审中-公开
公开(公告)号：WO2018110843A1
公开(公告)日：2018-06-21
申请号：PCT/KR2017/013139
申请日：2017-11-17
申请人： (주) 인텍플러스 , 재단법인 오송첨단의료산업진흥재단
发明人： 이상윤 , 강민구 , 원영재 , 이승락 , 박병준 , 김병연
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00 , G02B26/10 , G01J1/44 , G02B21/06
摘要： 본 발명의 일 실시예에 따른 형광수명 측정장치는 조사광을 발생시키는 조사광 발생부, 상기 조사광으로 형광 분자를 포함하는 샘플을 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 검출부, 상기 수집된 형광 광자를 제1클럭 신호, 상기 샘플을 통하지 않은 조사광을 제2클럭 신호로 변환하는 변환부, 상기 변환부로부터 수집된 형광 광자의 형광수명을 분석하는 제1모듈, 상기 제1모듈로부터 샘플의 관심영역(ROI, Range of interesting)을 지정하는 제어부, 상기 관심영역에 대응되는 형광 광자의 형광수명을 분석하는 제2모듈을 포함한다.

2. 发明授权

KR101835815B1 형광수명 측정장치 및 측정방법 有权
标题翻译：荧光寿命测量装置和测量方法
公开(公告)号：KR101835815B1
公开(公告)日：2018-03-07
申请号：KR1020160172862
申请日：2016-12-16
申请人： (주) 인텍플러스 , 재단법인 오송첨단의료산업진흥재단
发明人： 이상윤 , 강민구 , 원영재 , 이승락 , 박병준 , 김병연
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00 , G02B26/10 , G01J1/44 , G02B21/06
CPC分类号： G01J1/44 , G01J2001/4453 , G01J2001/4466 , G01N21/6458 , G02B21/0076 , G02B21/06 , G02B26/105
摘要： 본발명의일 실시예에따른형광수명측정장치는조사광을발생시키는조사광발생부, 상기조사광으로형광분자를포함하는샘플을조사하여생성되는형광광자를수집하는형광광자검출부,상기수집된형광광자를제1클럭신호, 상기샘플을통하지않은조사광을제2클럭신호로변환하는변환부, 상기변환부로부터수집된형광광자의형광수명을분석하는제1모듈, 상기제1모듈로부터샘플의관심영역(ROI, Range of interesting)을지정하는제어부, 상기관심영역에대응되는형광광자의형광수명을분석하는제2모듈을포함한다.
摘要翻译：根据本发明实施例的荧光寿命测量设备包括：荧光光子检测单元，用于收集通过用照射光照射包含荧光分子的样品而产生的荧光光子; 第一模块，用于分析从转换部分收集的荧光光子的荧光寿命;第二模块，用于分析从第一模块收集的荧光光子的荧光寿命; 第二个模块用于分析对应于感兴趣区域的荧光光子的荧光寿命。

3. 发明申请

WO2012044061A2 영상 데이터 고속 송／수신 방법 및 장치 审中-公开
标题翻译：用于高速发送/接收图像数据的方法和设备
公开(公告)号：WO2012044061A2
公开(公告)日：2012-04-05
申请号：PCT/KR2011/007141
申请日：2011-09-28
申请人： (주) 인텍플러스 , 강민구 , 구자철 , 이상윤 , 임쌍근
发明人： 강민구 , 구자철 , 이상윤 , 임쌍근
IPC分类号： G06T1/60 , H04N5/77
CPC分类号： G06F3/005 , G06T1/60 , H04N5/765
摘要： 본 발명은 이미지 센서에서 출력되는 영상 데이터를 전송 채널의 대역폭에 상응하는 속도로 하나 이상의 전송 채널을 통해 순차적으로 전송하는 단계와, 하나 이상의 전송 채널을 통해 수신되는 영상 데이터를 하나 이상의 전송 채널 각각의 대역폭을 합한 전체 대역폭에 해당하는 속도로 프레임 스토어에 순차적으로 기록하는 단계를 포함하는 영상 데이터 고속 송수신 방법과 이를 구현하기 위한 장치이다.
摘要翻译：本发明提供一种用于传输图像数据的方法，所述方法包括：以与传输信道的带宽相对应的速度，通过一个或多个传输信道顺序地传输从图像传感器输出的图像数据; 并且以与一个或多个传输信道中的每个传输信道的带宽的总带宽相对应的速度将数据顺序地记录到帧存储器，以及用于实现该装置的设备。

4. 发明申请

WO2018088827A1 3차원 형상 측정 장치 및 측정 방법 审中-公开
标题翻译： 3D形状测量装置和测量方法
公开(公告)号：WO2018088827A1
公开(公告)日：2018-05-17
申请号：PCT/KR2017/012693
申请日：2017-11-09
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 이상윤 , 강민구 , 이현민 , 손재호
IPC分类号： G02B27/22 , G01N21/95 , G01N21/01
CPC分类号： G01N21/01 , G01N21/95 , G02B27/22
摘要： 본 발명의 일 실시예에 따른 3차원 형상 측정 장치는 측정 대상이 안착되는 측정평면, 측정 대상을 조사하는 제1광원, 측정 대상으로부터 반사된 광을 수광하는 제1렌즈 및 제1렌즈에 수광된 광을 수집하여 이미지 데이터로 변환하는 제1이미지 획득수단을 포함하는 제1이미지 모듈, 측정 대상을 조사하는 제2광원, 측정 대상으로부터 반사된 광을 수광하는 제2렌즈 및 제2렌즈에 수광된 광을 수집하여 이미지 데이터로 변환하는 제2이미지 획득수단을 포함하는 제2이미지 모듈 및 제1이미지 모듈 및 제2이미지 모듈로부터 이미지를 획득하고, 이미지 프로세싱하여 측정 대상을 검출하는 제어부를 포함하며, 제1이미지 모듈 및 제2이미지 모듈은 측정 대상을 기준으로 좌우 대칭으로 배치된다.
摘要翻译：
三维形状测量装置根据本发明的一个实施例中，第一，用于接收所述光从第一光源反射，用于照射测量平面的测量对象，将被测量的测定对象安装第二通过接收从第二光源反射的光收集由所述透镜和所述第一透镜接收的光线，用于照射第一成像模块的测量对象，包括：第一图像拾取测量对象装置，用于转换所述图像数据以及第二图像获取单元，其获取由所述第二透镜接收的光并将所述光转换成图像数据;以及第二图像获取单元，其从所述第一图像模块和所述第二图像模块获取图像，其中第一图像模块和第二图像模块相对于测量对象对称布置。

5. 发明申请

WO2014014181A1 기판 검사 및 리페어 방법 审中-公开
标题翻译：检查和维修基板的方法
公开(公告)号：WO2014014181A1
公开(公告)日：2014-01-23
申请号：PCT/KR2013/002033
申请日：2013-03-14
申请人： (주)인텍플러스
发明人： 임쌍근 , 강민구 , 송준호 , 이현민 , 한철희
IPC分类号： G01N21/88 , G02F1/13
CPC分类号： G01N21/95684 , G01N2021/95638 , G01N2021/95661 , G02F2001/136254
摘要： 본 발명은 기판의 패턴검사를 통해 불량위치를 검사하고, 영상비교를 통해 불량위치의 단락 또는 단선여부를 판별한 뒤 그에 대응하는 복원이 이루어지도록 신호를 출력하여 자동적으로 불량부위가 복원될 수 있도록 하는 기판 검사 및 리페어 방법에 관한 것으로, 기판의 패턴결함을 광학적으로 검사하고, 이를 기록한 정보를 전송하는 검사단계와, 상기 전송된 패턴결함의 정보에 기초하여 상기 패턴결함의 단락 또는 단선 여부를 판별하는 판독단계와, 상기 패턴결함에 대한 단락 또는 단선 정보를 인식하여, 리페어 작업을 수행하는 복원단계를 포함한다.
摘要翻译：本发明涉及一种能够通过基板的图案检查来检查缺陷位置的基板检查和修复方法，通过图像比较来确定导线是否在缺陷位置被短路或切断，并且输出对应于执行确定的结果，使得可以自动恢复缺陷部分，并且该方法包括：光学检查基板的图案缺陷并发送关于图案缺陷的记录信息的检查步骤; 基于所发送的关于图案缺陷的信息来确定图案缺陷是否具有短路或切割线的读取步骤; 以及恢复步骤，通过识别关于图案缺陷的短路或切断线信息进行修理工作。

6. 发明申请

WO2018182125A1 다중지수감소함수 형태의 실험데이터를 고속으로 분석하는 형광수명 측정장치 및 그 측정방법 审中-公开
公开(公告)号：WO2018182125A1
公开(公告)日：2018-10-04
申请号：PCT/KR2017/013142
申请日：2017-11-17
申请人： 연세대학교 산학협력단 , (주) 인텍플러스
发明人： 김덕영 , 황원상 , 김동은 , 강민구
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00 , G02B21/08
摘要： 본 발명의 일 실시예에 따른 형광수명 측정장치는 조사광을 발생시키는 조사광 발생부, 상기 조사광으로 형광 분자를 포함하는 적어도 하나 이상의 시료를 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 검출부, 상기 형광 광자를 증폭시켜 형광 신호로 변환하는 변환부 및 상기 형광 신호의 함수를 적분한 값에 시뮬레이션 함수를 곱한 함수를 이용해 형광 신호의 함수의 데이터를 분석하는 계측부를 포함한다.

7. 发明申请

WO2013039340A2 평판 패널 검사방법 审中-公开
标题翻译：检查平板的方法
公开(公告)号：WO2013039340A2
公开(公告)日：2013-03-21
申请号：PCT/KR2012/007352
申请日：2012-09-13
申请人： (주)인텍플러스 , 손재호 , 이현민 , 강민구 , 이상윤 , 임쌍근
发明人： 손재호 , 이현민 , 강민구 , 이상윤 , 임쌍근
IPC分类号： G01N21/956 , G01B11/30 , G02F1/13
CPC分类号： G06T7/0004 , G01N21/95 , G01N2021/9513 , G02F1/1309 , G06T2207/30121 , H04N7/18
摘要： 평판 패널을 검사하는 방법을 개시한다. 평판 패널 검사방법은, 평판 패널과 카메라 중 적어도 어느 하나를 수평 이동시켜 카메라를 평판 패널의 측정 위치에 배치하는 단계; 측정 위치에서 평판 패널의 피측정물에 대해 카메라의 초점을 자동으로 맞추는 단계; 카메라의 초점이 맞춰진 상태에서 카메라를 현재 위치를 중심으로 설정 구간 내에서 상하 이동시켜가며 피측정물에 대해 다수의 영상을 획득하는 단계; 및 획득된 다수의 영상 중 피측정물에 대한 선명도가 가장 높은 영상을 선택한 후, 선택된 영상을 처리하여 피측정물의 불량 여부를 판별하는 단계를 포함한다.
摘要翻译：公开了一种用于检查平板的方法。用于检查平板的方法包括以下步骤：通过水平移动平板和相机中的至少一个来将相机布置在平板的测量位置; 在测量位置相对于平板测量对象自动聚焦相机; 在对照相机进行聚焦时，基于相机的当前位置垂直移动设定区域内的相机，来获取测量对象的多个图像; 在所获取的图像中选择具有用于测量目标的最高定义的图像; 处理所选图像; 并且确定测量目标是否有缺陷。

8. 发明申请

WO2018135734A1 3차원 형상 측정 장치 및 측정 방법 审中-公开
公开(公告)号：WO2018135734A1
公开(公告)日：2018-07-26
申请号：PCT/KR2017/012695
申请日：2017-11-09
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 이상윤 , 강민구 , 이현민 , 손재호
IPC分类号： G01B11/24
摘要： 본 발명의 일 실시예에 따른 3차원 형상 측정 장치는 측정 대상이 안착되는 측정평면, 측정 대상을 조사하는 광원, 광원으로부터 조사된 광을 투영시키는 렌즈 및 상기 측정 대상의 표면으로부터 반사되는 영상을 촬상하는 이미지 획득수단을 포함하는 3차원 형상 측정 장치에 있어서, 상기 렌즈 및 이미지 획득수단에 의해 결상되는 초점 영역은 광이 형상되는 면과 일치하도록 렌즈 및 이미지 획득수단이 배치된다.

9. 发明申请

WO2018117434A1 아날로그 평균지연 방법에서 수집한 신호로부터 가상의 형광분포 모델을 통해 최소자승오차를 계산하여 2개 이상의 형광수명 성분을 구하는 형광수명 측정장치 및 그 측정방법 审中-公开
公开(公告)号：WO2018117434A1
公开(公告)日：2018-06-28
申请号：PCT/KR2017/013140
申请日：2017-11-17
申请人： 연세대학교 산학협력단 , (주) 인텍플러스
发明人： 김덕영 , 황원상 , 김동은 , 강민구
IPC分类号： G01N21/64 , G01J1/44
摘要： 본 발명의 일 실시예에 따른 형광수명 측정장치는 조사광을 발생시키는 조사광 발생부, 조사광으로 형광 분자를 포함하는 적어도 하나 이상의 시료를 조사하여 생성되는 형광 광자의 형광 신호를 수집하는 형광 광자 검출부, 수집된 형광 신호의 함수와 시뮬레이션 함수에 대하여 최소 자승법을 이용하여 형광수명을 계산하는 계측부를 포함한다.

10. 发明申请

WO2013151191A1 평판패널 기판의 자동광학검사 방법 및 그 장치 审中-公开
标题翻译：用于自动光学检测平板基板的方法和装置
公开(公告)号：WO2013151191A1
公开(公告)日：2013-10-10
申请号：PCT/KR2012/002437
申请日：2012-04-02
申请人： (주) 인텍플러스 , 강민구 , 이현민 , 한원섭 , 이상윤 , 임쌍근
发明人： 강민구 , 이현민 , 한원섭 , 이상윤 , 임쌍근
IPC分类号： G01N21/88 , G06T7/00
CPC分类号： G01N21/88 , G01N2021/9513 , G06T7/001 , G06T2207/30121
摘要： 본 발명에 따른 평판패널 기판의 자동광학검사 방법은, 상기 기판의 일부 영역을 촬영하고, 각각이 촬영한 영상 내에 주기적으로 반복하여 존재하는 셀 레이아웃 패턴인 단위 영상들에 기초하여 기준 영상을 생성하는 단계, 각 단위 영상들을 상기 기준 영상과 비교하여 결함의 존부를 판정하고 기판에 결함이 존재할 경우 결함의 위치 정보를 획득하는 단계 및 획득한 결함의 위치정보를 출력하는 단계를 포함한다.
摘要翻译：根据本发明，一种用于平板基板的自动光学检测的方法包括以下步骤：对基板的一部分进行成像并基于单位图像生成参考图像，每个图像周期性地是单元布局图案，重复存在于拍摄图像中; 将每个单位图像与参考图像进行比较以确定缺陷的存在，并且如果在基板上存在缺陷，则获取关于缺陷位置的信息; 并输出所获取的关于缺陷位置的信息。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式