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1. 发明申请

US20130338959A1 SWITCHING-TYPE CATEGORIZING AND TESTING STRUCTURE OF RFIC 审中-公开
标题翻译： RFIC的切换类型分类和测试结构
公开(公告)号：US20130338959A1
公开(公告)日：2013-12-19
申请号：US13523895
申请日：2012-06-15
申请人： YUN-PENG HO , Liang-Po Chen
发明人： YUN-PENG HO , Liang-Po Chen
IPC分类号： G06F19/00
CPC分类号： G06F11/22
摘要： A switching-type categorizing and testing apparatus of a Radio Frequency integrated Circuit (RFIC) is used to test and categorize at least one RFIC module. The apparatus comprises at least one testing module and a plurality of categorizing modules. The testing module is used to test the RFIC module, and the categorizing modules comprise a first categorizing module and a second categorizing module. The testing module tests the RFIC module within one of the two categorizing modules at the same when the other categorizing module categorizes the RFIC module already tested. The present invention may further increase the testing and categorizing quantity so as to achieve the fast and cost-saving advantages.
摘要翻译：使用射频集成电路（RFIC）的开关式分类和测试装置来测试和分类至少一个RFIC模块。该装置包括至少一个测试模块和多个分类模块。测试模块用于测试RFIC模块，并且分类模块包括第一分类模块和第二分类模块。当其他分类模块对已经测试的RFIC模块进行分类时，测试模块将在两个分类模块之一内测试RFIC模块。本发明可以进一步增加测试和分类数量，从而实现快速和节省成本的优点。

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