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    • 2. 发明申请
    • VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTIMIERUNG DER TRENNMETHODE FÜR EIN GEGEBENES PROBENSYSTEM MITTELS ASYMMETRISCHER FELDFLUSSFRAKTIONIERUNG
    • 方法和设备优化的切割方法对于给定的采样系统使用非对称场流分级
    • WO2009046887A1
    • 2009-04-16
    • PCT/EP2008/008184
    • 2008-09-26
    • WYATT TECHNOLOGY EUROPE GMBHJOHANN, ChristophSCHUCH, HorstKALTENBORN, AlgeSCHUMACHER, Matthias
    • JOHANN, ChristophSCHUCH, HorstKALTENBORN, AlgeSCHUMACHER, Matthias
    • G01N30/86G06F17/50G06K9/00G01N30/00
    • G01N30/0005G01N30/8658G01N2030/003G01N2030/0045
    • Um ein Verfahren zur Optimierung der Trennmethode für ein gegebenes Probensystem mittels asymmetrischer Feldflussfraktionierung anzugeben, mittels dessen für ein vorgegebenes Optimierungsziel die optimalen geometrischen Parameter des Trennkanales und/oder die optimalen Prozessparameter zur Durchführung des Trennvorganges auf einfache Weise ermittelbar sind, schlägt die Erfindung vor, zunächst lediglich mit Hilfe einer Testmessung mit einem bereits vorhandenen Trennkanal (1) ein Fraktogramm für das Probensystem mit den zu analysierenden Probenbestandteilen durchzuführen. Aus diesem Fraktogramm werden dann die Retentionszeiten beispielsweise für zwei Peaks entnommen, die zu zwei zu analysierenden Probenbestandteilen unterschiedlicher Diffusionskoeffizienten gehören. Anschließend wird dann die Retentionszeit des ersten Peaks zusammen mit den vorgegebenen geometrischen Parametern des Trennkanales (1) und den vorgegebenen Prozessparametern, welche zu dem gemessenen Fraktogramm geführt haben, in einen Computer (7) eingegeben, welcher aus diesen Parametern mittels eines Simulationsprogrammes den Diffusionskoeffizienten berechnet, der diesem zu analysierenden Probenbestandteil zugeordnet ist. Schließlich wird mittels des Simulationsprogrammes ein dem gemessenen Fraktogramm entsprechendes (berechnetes) Fraktogramm auf einem Bildschirm dargestellt, und es werden alle relevanten Parameter so lange variiert, bis sich auf dem Bildschirm des Computers ein optimales Fraktogramm ergibt. Die zur Erlangung dieses berechneten Fraktogrammes vorgegebenen Parameter werden schließlich für die tatsächlich durchzuführenden Messungen und/oder für die Herstellung eines neuen Trennkanales (1) verwendet.
    • 用于使用不对称场流分级优化分离方法对于给定的样品的系统,通过该分离通道和/或用于执行该分离过程的最佳工艺参数的最佳几何参数被确定为以简单的方式在给定优化目标装置提供一种方法,本发明提出,首先 仅通过测试测量与现有的分离通道的装置(1),以执行与所述分析物样品成分的采样系统的fractogram。 然后保留时间被除去,例如,这fractogram的两个峰,属于两个样本待分析不同扩散系数的部件。 然后第一峰的与分离信道(1)的预定的几何参数的保留时间被输入和预定的工艺参数,这些都导致了所测量的fractogram在计算机(7),那么,这是从这些参数由仿真程序中的扩散系数来计算 与此相关联的样本待分析成分。 最后,对应于所测量(计算)fractogram一个fractogram由模拟程序的装置显示在屏幕上,和所有相关的参数是变化的,直到计算机的画面上的最佳fractogram结果。 和/或用于一种新颖的分离通道(1)的制造中所要执行的预定顺序获得该计算出的参数Fraktogrammes最终用于实际测量。