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    • 3. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM BESTIMMEN EINER BESCHICHTUNGSDICKE
    • 一种用于确定涂层厚度
    • WO2012136471A1
    • 2012-10-11
    • PCT/EP2012/054859
    • 2012-03-20
    • SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFTMELZER-JOKISCH, TorstenOPPERT, AndreasTHOMAIDIS, Dimitrios
    • MELZER-JOKISCH, TorstenOPPERT, AndreasTHOMAIDIS, Dimitrios
    • G01B11/06B05B12/08F01D5/18C23C14/54G01B5/06
    • G01B11/0616B05B7/20B05B12/084B05B12/12C23C14/547F01D25/285F05D2260/83G01B11/0683G01B11/24
    • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen der Dicke der während eines Bauteilbeschichtungsprozesses auf ein Bauteil aufgetragenen Beschichtung, wobei das Verfahren die Schritte aufweist: Definieren eines Koordinatenursprungs, insbesondere an einer Position des zu beschichtenden Bauteils, die während des Beschichtungsprozesses keinem Verzug unterworfen ist; Befestigen von wenigstens zwei jeweils eine Referenzebene definierenden Referenzelementen an Bauteilpositionen, die während des Beschichtungsprozesses einem Verzug unterworfen sind; Durchführen einer ersten geometrischen Vermessung des Bauteils und der an diesem gehaltenen Referenzelemente vor der Durchführung des Bauteilbeschichtungsprozesses; Beschichten des Bauteils; Durchführen einer zweiten geometrischen Vermessung des beschichteten Bauteils und der an diesem gehaltenen Referenzelemente; Berechnen des Bauteilverzugs basierend auf verzugsbedingten Lageänderungen der durch die Referenzelemente definierten Referenzebenen; Berechnen der Dicke der auf das Bauteil aufgetragenen Beschichtung basierend auf einem Vergleich von im Rahmen der geometrischen Vermessungen erfassten Geometriedaten und unter Berücksichtigung des ermittelten Bauteilverzugs und Entfernen der Referenzelemente.
    • 本发明涉及一种用于一部件涂覆工艺涂覆期间确定施加到部件的厚度,所述方法包括以下步骤:要被涂覆限定在所述部件的位置的坐标原点,特别是,这是不进行在涂覆过程中的任何失真; 在每种情况下确保至少两个参考平面限定装置的位置,这是受在涂覆过程中的失真的基准元件; 执行部件,并进行涂敷处理部件在该现有保持的基准元件的第一几何测量; 涂覆的组件; 进行涂敷的部件和保持在其上的参考元件的第二几何测量; 计算基于由所述参考元件限定的参考平面的位置的延迟失真有关的变化的部件; 在部件上所施加的涂层的厚度来计算基于所述几何数据的测量中检测到一个几何比较,考虑到所确定的延迟部件和移除所述参考元件。