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    • 8. 发明授权
    • MRAM device including digital sense amplifiers
    • MRAM器件包括数字读出放大器
    • US06188615B1
    • 2001-02-13
    • US09430611
    • 1999-10-29
    • Frederick A. PernerKenneth J. EldredgeLung T. Tran
    • Frederick A. PernerKenneth J. EldredgeLung T. Tran
    • G11C1604
    • G11C11/15G11C7/067G11C16/32
    • Resistance of a selected memory cell in a Magnetic Random Access Memory (“MRAM”) device is sensed by a read circuit including a direct injection charge amplifier, an integrator capacitor and a digital sense amplifier. The direct injection charge amplifier supplies current to the integrator capacitor while maintaining an equipotential voltage on non-selected memory cells in the MRAM device. As the direct injection charge amplifier applies a fixed voltage to the selected memory cell, the sense amplifier measures integration time of a signal on the integrator. The signal integration time indicates whether the memory cell MRAM resistance is at a first state (R) or a second state (R+&Dgr;R).
    • 通过包括直接注入电荷放大器,积分器电容器和数字读出放大器的读取电路来检测磁性随机存取存储器(“MRAM”)器件中的所选存储单元的电阻。 直接注入电荷放大器向积分器电容器提供电流,同时在MRAM器件中的未选择的存储单元上保持等电位电压。 由于直接注入电荷放大器对所选择的存储单元施加固定电压,所以读出放大器测量积分器上信号的积分时间。 信号积分时间表示存储单元MRAM电阻是处于第一状态(R)还是第二状态(R + DELTAR)。