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    • 2. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR AUFBEREITUNG VON SPEKTROSKOPISCHEN MESSDATEN
    • 法制备光谱测量的
    • WO2006079455A1
    • 2006-08-03
    • PCT/EP2006/000294
    • 2006-01-14
    • F.HOFFMANN-LA ROCHE AGROCHE DIAGNOSTICS GMBHMÖCKS, JoachimPETRICH, WolfgangKÖHLER, Walter
    • MÖCKS, JoachimPETRICH, WolfgangKÖHLER, Walter
    • G01N21/27G01N21/25
    • G01N21/253G01N21/274
    • Beschrieben wird ein Verfahren zur Aufbereitung von spektroskopischen Meßdaten, die an einer Probe auf einem Probenaufnahmef eld eines Probenträgers mit mehreren Probenaufnahmefeldern gemessen wurden, umfassend die Schritte: Durchführen einer spektroskopischen Referenzmessung an einem Referenzfeld, vorzugsweise einem leeren ersten Proenaufnahmefeld, des Probenträgers zum Ermitteln einer Referenz-Lichtintensität I R1 als erste Referenzdaten vor oder nach dem Durchführen einer spektroskopischen Probenmessung an der auf einem zweiten Probenaufnahmefeld des Probenträgers aufgebrachten Probe zum Ermitteln einer Proben-Lichtintensität I P als Probenmeßdaten; Durchführen einer Korrekturmessung an dem zweiten Probenaufnahmefeld vor dem Aufbringen der Probe zum Ermitteln einer Korrektur-Lichtintensität I K als Korrekturdaten; Durchführen einer zweiten Referenzmessung an dem Referenzfeld vor oder nach der Korrekturmessung, zum Ermitteln einer zweiten Referenz-Lichtintensität I R2 als zweite Referenzdaten, wobei zwischen der zweiten Referenzmessung und der Korrekturmessung ein so kleiner Zeitraum liegt, daß zeitabhängige Schwankungen von Umgebungsbedingungen vernachlässigbar sind; Aufbereiten der Probenmeßdaten durch rechnerisches Kompensieren eines Einflusses des Probenträgers auf die Proben-Lichtintensität IP unter Verwendung der Korrektur-Lichtintensität I K , wobei zur Kompensation von zeitabhängigen Störeinflüssen die Proben-Lichtintensität I P mit der ersten Referenz-Lichtintensität I R1 und die Korrektur-Lichtintensität I K mit der zweiten Referenz-Lichtintensität I R2 gewichtet werden.
    • 公开的是用于已上在样品载体的Probenaufnahmef场具有多个样品接受区的样品进行测量的分光测定数据的制备方法,包括以下步骤:在一个参考场,优选一个空第一Proenaufnahmefeld,用于确定参考样品支架进行分光基准测量 -LichtintensitätI R1 为第一基准数据之前或执行施加到样品载体样品的第二样品接收场用于确定样品的光强度I涂层的光谱样本测量后 P 如Probenmeßdaten; 执行所述第二样品的样品的应用程序之前接收场的校正测量,以确定校光强度I ķ作为校正数据; 执行参考场的第2参照测定的校正测量之前或之后,以确定第二基准光强度I R2 作为第二基准数据,这是第2参照测定以及校正测量之间的时间这样的小周期是依赖于时间的波动 是可忽略的环境条件; 通过计算准备Probenmeßdaten通过使用校正的光强度补偿所述样品载体与样品的光强度IP的影响I ķ,其中,用于时间依赖性的干扰的补偿,该样品的光强度I P > R1 和校正光强度I ķ R2 与所述第一基准光强度I