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    • 9. 发明申请
    • SAMPLE HOLDER FOR SURFACE AND/OR CROSS-SECTION MICROSCOPY ANALYSIS OF A SOLID SAMPLE
    • 用于固体样品的表面和/或横截面显微镜分析的样品支架
    • WO2018002047A1
    • 2018-01-04
    • PCT/EP2017/065850
    • 2017-06-27
    • TOTAL S.A.ELECTRICITE DE FRANCE - EDFCENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUEECOLE POLYTECHNIQUEINSTITUT PHOTOVOLTAIQUE D'ILE DE FRANCE - IPVF
    • NARCHI, PaulFARCI, Frédéric
    • G01Q30/20G02B21/34H01J37/20H02S50/10
    • The invention concerns sample holder (1). According to the invention, that the sample holder (1) comprises a sample receiving portion (5) rigidly linking a first portion (101) to a second portion (102), the first portion (101) comprising means for mechanically maintaining a holding surface (2) in contact with a portion of back-side surface (12) of the sample (10), the first portion (101, 201, 301) integrating at least one connector (7, 17, 19) configured for transmitting electric energy or electro-magnetic energy generated by an excitation source, to one or several areas of the front-side surface (11) and/or back-side surface (12) of the sample (10) and said sample holder (1, 21, 31) comprising at least one outer bearing surface (108) arranged for positioning said sample (10) in a microscope instrument for analysis on said front-side surface (11), back-side surface (12) and/or on a cross-section of the sample (10).
    • 本发明涉及样品架(1)。 根据本发明,样品架(1)包括将第一部分(101)刚性连接到第二部分(102)的样品接收部分(5),第一部分(101)包括用于机械地保持保持表面 (10)的背侧表面(12)的一部分接触的第一部分(101,201,301),所述第一部分(101,201,301)集成至少一个连接器(7,17,19),所述连接器被构造用于传输电能 或由激励源产生的电磁能施加到样品(10)的前侧表面(11)和/或后侧表面(12)的一个或多个区域,并且所述样品保持器(1,21, 31),其包括至少一个外部支承表面(108),该外部支承表面(108)被布置成用于将所述样品(10)定位在用于在所述前侧表面(11),后侧表面(12)上和/ 样本(10)的一部分。

    • 10. 发明公开
    • IMAGERIE MONO-PIXEL HYPER-SPECTRALE RÉSOLUE EN TEMPS
    • EP3742135A1
    • 2020-11-25
    • EP19315037.2
    • 2019-05-20
    • Centre National de la Recherche ScientifiqueInstitut Photovoltaique D'Ile de France (IPVF)Ecole PolytechniqueTOTAL SEEDF
    • Lombez, LaurentBercegol, AdrienOry, Daniel
    • G01J3/00G01N21/25G01N21/31H03M7/30
    • Système d'imagerie (10, 30) hyper-spectrale résolu en temps d'un échantillon (3) comprenant : une source de rayonnement adaptée pour illuminer l'échantillon de manière répétable, un premier système optique (5) configuré pour former une image I de l'échantillon sur un modulateur spatial de lumière (6) formant un masque de transmission ou de réflexion P, un processeur (12) relié au modulateur spatial de lumière et configuré pour faire varier le masque de transmission ou de réflexion P pour chaque répétition de l'illumination, un deuxième système optique (7) adapté pour focaliser le rayonnement transmis ou réfléchi par le modulateur spatial de lumière de manière à former, dans son plan focal image, une image partielle S = P . I ;
      ledit système d'imagerie étant caractérisé en ce qu'il comprend:
      un dispositif dispersif (8) comprenant une fente placée dans le plan focal image du deuxième système optique, ledit dispositif dispersif étant adapté pour séparer spatialement les différentes longueurs d'onde du rayonnement transmis ou réfléchi par le modulateur spatial de lumière ;
      une caméra à balayage de fente agencée de manière à être illuminée par le rayonnement issu du dispositif dispersif (9) et configurée pour acquérir une pluralité d'images partielles résolues en temps de l'échantillon associées à des masques de transmission ou de réflexion P respectifs et différents, ladite caméra à balayage de fente étant reliée au processeur (12) et ledit processeur étant également configuré pour combiner lesdites images partielles de l'échantillon de manière à construire un cube image I tot 4D formant une image résolue en temps et en longueur d'onde de l'échantillon
      et procédé d'imagerie hyper-spectrale résolu en temps d'un échantillon correspondant.