专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

US11971350B2 Method and THz measuring device for measuring a measurement object using electro-magnetic radiation 有权
公开(公告)号：US11971350B2
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：US17048387
申请日：2019-04-18
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： Ralph Klose
IPC分类号： G01N21/3581 , G01B11/06 , G01S17/08
CPC分类号： G01N21/3581 , G01B11/06 , G01S17/08
摘要： The invention relates to a method for THz measuring a measurement object (3), including at least the following steps:

phase or a pre-measurement, in which e.g. a first THz transmission beam (112) of a THz transceiver of a THz measuring device (2) is emitted at a first frequency range and having a first bandwidth along an optical axis towards the measurement object (3) and THz radiation reflected from a boundary surface of the measurement object (3) is detected,
determining, whether a measurement object (3) has been detected,
if the measurement object (3) has been detected, determining a current distance of the THz measuring devices (2) or the THz transceiver from the boundary surface (St5),
comparing the determined des current distance with a distance limit, and
when the distance limit has not been exceeded, subsequent initiation of a main measurement or indication of an initiation of the main measurement,
phase of the main measurement, in which a main measurement THZ transmission beam is emitted along the optical axis towards the measurement object and reflected THz radiation is detected, whereby, preferably, a second bandwidth of the main measurement THZ transmission beam is wider than the first bandwidth, whereby measured characteristics, e.g. a layer thickness or material composition, are determined from the emitted main measurement THZ transmission beam and the detected reflected THz radiation,
putting out the measurement result.

2. 发明申请

US20220057333A1 THZ MEASURING DEVICE AND THZ MEASURING METHOD FOR DETERMINING DEFECTS IN MEASURING OBJECTS 有权
公开(公告)号：US20220057333A1
公开(公告)日：2022-02-24
申请号：US17276293
申请日：2019-08-28
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： Ralph KLOSE
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/3581
摘要： The invention relates to a preferably portable THz measuring apparatus (1) for determining impurities (3) in a, in particular, stationary measured object (2), the THz measuring apparatus (1) comprising:
an antenna array (4) including at least one active THz transmitter, e.g. transceiver (12), emitting a THz transmission beam (15) along an optical axis (A), and a plurality of THz receivers (14), arranged under a fixed spatial arrangement in relation to the THz transmitter (12) and synchronised with the THz receiver, detect reflected THz radiation (16) and putting out THz measuring signals (S1), a controller device (5), receiving the THz measuring signals (S1) and determining impurities (3) as reflections having occurred outside ordinary boundary surfaces (2a, 2b) of the measured object (2). Hereby, the THz-Receiver (14) may also transmit temporarily, in particular alternatingly. The user can adjust the measuring apparatus, whereby the position can be determined by an accelerometer (18) and temporal integration so as to obtain further measuring data.

3. 发明授权

US11835467B2 THz measuring device and THz measuring method for determining defects in measuring objects 有权
公开(公告)号：US11835467B2
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：US17276293
申请日：2019-08-28
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： Ralph Klose
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/3581
CPC分类号： G01N21/8806 , G01N21/3581 , G01N21/8851
摘要： The invention relates to a preferably portable THz measuring apparatus (1) for determining impurities (3) in a, in particular, stationary measured object (2), the THz measuring apparatus (1) comprising:

an antenna array (4) including at least one active THz transmitter, e.g. transceiver (12), emitting a THz transmission beam (15) along an optical axis (A), and
a plurality of THz receivers (14), arranged under a fixed spatial arrangement in relation to the THz transmitter (12) and synchronised with the THz receiver, detect reflected THz radiation (16) and putting out THz measuring signals (S1),
a controller device (5), receiving the THz measuring signals (S1) and determining impurities (3) as reflections having occurred outside ordinary boundary surfaces (2a, 2b) of the measured object (2).

Hereby, the THz-Receiver (14) may also transmit temporarily, in particular alternatingly. The user can adjust the measuring apparatus, whereby the position can be determined by an accelerometer (18) and temporal integration so as to obtain further measuring data.

4. 发明申请

US20210381828A1 MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING A MEASUREMENT OBJECT, IN PARTICULAR A PLASTIC PROFILE 有权
公开(公告)号：US20210381828A1
公开(公告)日：2021-12-09
申请号：US17311134
申请日：2019-12-06
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： Ralph KLOSE
IPC分类号： G01B15/02 , G01B15/04
摘要： The invention relates to a measuring system (2) for measuring a measured object, in particular a plastic profile (3), said measuring system (2) comprising: an antenna arrangement (4) made of a plurality of THz transceivers (5) each at times actively emitting a THz transmission beam (6) and at times passively receive reflected THz radiation (11), where said antenna arrangement (4) puts out measuring signals (S1) of the measurements of the THz transceivers (5), an adjustment means (12) for adjusting the antenna matrix (4) into several measuring positions (MP1, MP2, MP3) along an adjustment direction (m1, m2), e.g. on a circular path around the measured object (3), a controller and evaluation device (14) for receiving and evaluating the measuring signals (S1) which is configured in such a way that the measuring signals (S1) of said several THz transceivers (5) in said several measuring positions (MP1, MP2, . . . ) are evaluated by means of an SAR evaluation process and a virtual model (VM) of the boundary surfaces (8) of the measured object (3) is created, and subsequently the controller and evaluation device (14) determines layer thicknesses (d, d4) between the boundary surfaces (8) from the virtual model (VM).

5. 发明授权

US11874105B2 Measurement system and method for measuring a measurement object, in particular a plastic profile 有权
公开(公告)号：US11874105B2
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：US17311134
申请日：2019-12-06
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： Ralph Klose
IPC分类号： G01B15/02 , G01B15/04 , G01S13/26 , G01S13/90 , G01S3/26
CPC分类号： G01B15/02 , G01B15/04 , G01S3/26 , G01S13/9027
摘要： The present disclosure relates to a measuring system for measuring a measured object, in particular a plastic profile, said measuring system comprising:

an antenna arrangement of THz transceivers each at times actively emitting a THz transmission beam and passively receiving reflected THz radiation,
where said antenna arrangement outputs measuring signals of the measurements of the THz transceivers,
an adjustment means for adjusting the antenna arrangement into several measuring positions along an adjustment direction,
a control and evaluation device for receiving and evaluating the measuring signals which is configured such that the measuring signals are evaluated by means of a synthetic aperture radar evaluation process and a virtual model of the boundary surfaces of the measured object is created, and
subsequently the control and evaluation device determines layer thicknesses between the boundary surfaces from the virtual model.

6. 发明申请

WO2017198262A1 VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR REGELUNG UND STEUERUNG VON ROHREXTRUSIONSANLAGEN 审中-公开
标题翻译：控制和控制管挤压装置的方法和装置
公开(公告)号：WO2017198262A1
公开(公告)日：2017-11-23
申请号：PCT/DE2017/100420
申请日：2017-05-17
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： BÖHM, Roland
IPC分类号： B29C47/90 , B29C47/92 , B29C47/22
CPC分类号： B29C48/907 , B29C48/09 , B29C48/30 , B29C48/327 , B29C48/903 , B29C48/92 , B29C2948/92123 , B29C2948/92152 , B29C2948/92171 , B29C2948/92447 , B29C2948/92904
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Regelung und Steuerung von Rohrextrusionsanlagen unter Einbeziehung von Messdaten eines produzierten Rohres (4), wobei ein aus einem Ringspalt (11) einer Extrudereinheit (1) austretender Schmelzeschlauch (4') mit Übermaß in eine nachfolgende Kalibriervorrichtung (6) einläuft. Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein derartiges Verfahren zur Verfügung zu stellen, welches mit Messwerten arbeitet, die eine optimale Fahrweise der Extrusionsanlage auch bei einem Dimensionswechsel gewährleisten. Gelöst wird diese Aufgabe dadurch, dass zwischen Extrusionswerkzeug (3) und Kalibriervorrichtung (6) an mehreren Stellen exakt der Durchmesser, die Wandstärke, etwaige Formabweichungen und das Durchhängen des Schmelzeschlauches (4') ermittelt wird, und diese Messwerte bzw. daraus berechnete Daten zur Regelung und Steuerung der Extrusionsanlage herangezogen werden.
摘要翻译：
本发明涉及一种用于调节和管挤出设备控制用一种内含制造的管（4）的测量数据，其中的一个挤出机单元的一个环形间隙（11）一种（1）出现的熔体管（4“）＆＃;＆＃;＆＃;＆＃;＆＃;＆＃; 进入后续的校准装置（6）。本发明的一个目的是提供这样一种方法，即使在尺寸变化期间也能确保挤出设备的最佳操作的测量值。凝胶ouml; ST是此目的是通过以下事实挤压工具（3）之间和校准装置（6）在几个点精确地直径，壁＆AUML; RKE，在形状和通过H＆AUML任何偏差;熔体管（4“）的NTS被确定，并且这些测量值或由此计算出的数据可用于控制和控制挤出设备。

7. 发明申请

WO2018072789A1 TERAHERTZ-MESSGERÄT 审中-公开
标题翻译：太赫兹METER
公开(公告)号：WO2018072789A1
公开(公告)日：2018-04-26
申请号：PCT/DE2017/100891
申请日：2017-10-17
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： KLOSE, Ralph , BÖHM, Roland
IPC分类号： G01B11/06 , G01B21/04 , G01S17/08 , G01N21/3581
摘要： Die Erfindung betrifft ein ΤΉz-Messgerät (1) zur Ermittlung mindestens einer Schichtdicke (a1, a2, a3, a4) eines Prüfobjektes (20, 120, 220), wobei das Messgerät (1) aufweist: eine THz-Sende- und Empfangseinheit (14) zum Aussenden von THz-Strahlung (15) entlang einer optischen Achse (A) und zum Empfangen reflektierter THz-Strahlung (16) entlang der optischen Achse (A), eine Steuereinheit (10) zur Ansteuerung der Sende- und Empfangseinheit (14). Hierbei ist das THz-Messgerät (1) vorzugsweise tragbar mit einem Griffbereich (34) zum Ergreifen und Positionieren durch den Benutzer aufweist, wobei es an einem vorderen Endbereich (5), insbesondere einer Formblende (5), eine Auflagekontur (7) mit mehreren Anlagepunkten (P, P1, P2, P3, P4) zur Anlage an einer gekrümmten Oberfläche (18) des Prüfobjektes (20, 120, 220) aufweist, zur senkrechten Positionierung an der Oberfläche (18, 118, 218).
摘要翻译：本发明涉及一种用于确定样本对象（20,120,220）的至少一个层厚度（a1，a2，a3，a4）的测量装置（1），所述测量装置 T（1），包括：用于沿光轴（a）发送THz辐射（15）和用于沿光轴（a）接收反射的THz辐射（16）太赫兹发射机和接收机单元（14），控制单元（10），用于控制发送和接收单元（14）。在此，太赫兹测量仪器BEAR优选吨（1）穿有用于由使用者抓握和定位的手柄部分（34），由此，在前端部（5），特别是模板（5），支撑轮廓（7）具有用于接合样本对象（20,120,220）的曲面（18）以在表面（18）上垂直定位的多个邻接点（P，P1，P2，P3，P4），118,218）。

8. 发明申请

WO2017129183A1 MESSVERFAHREN UND MESSVORRICHTUNG ZUM ERMITTELN EINER MATERIALDICKE ODER SCHICHTDICKE EINES PRÜFOBJEKTES 审中-公开
标题翻译：测量方法和测量器具，用于确定材料厚度或厚度的测试对象
公开(公告)号：WO2017129183A1
公开(公告)日：2017-08-03
申请号：PCT/DE2017/100055
申请日：2017-01-27
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： THIEL, Marius
IPC分类号： G01B11/06 , G01N21/3581
CPC分类号： G01B11/0616
摘要： Die Erfindung betrifft ein Messverfahren und eine Messvorrichtung (1) zur Vermessung eines Prüfobjektes (2), wobei die Messvorrichtung aufweist: einen Sender (3) zum Aussenden von ausgesandter Strahlung (4) in einem Mikrowellen- oder Terahertz-Bereich unter einem nicht-senkrechten Einfallswinkel (a) auf eine Oberseite (2a) eines Prüfobjektes (2), eine Empfangszeile (8) zur ortsaufgelösten Messung einer Signalamplitude (S) der reflektierten Strahlung (7), die an der Oberseite (2a) und nach Durchtritt durch das Prüfobjekt (2) an der Unterseite (2b) des Prüfobjektes (2) reflektierte Teil- Reflexionsstrahlen (4a, 4c) enthält, in Abhängigkeit einer Messrichtung (x), die nicht parallel zur Ausfallsrichtung der reflektierten Strahlung (7) verläuft, eine Steuer- und Recheneinrichtung (12), die zur Ermittlung von Maximalwerten (x1, x2) aus der gemessenen Signalamplitude (S), Ermittlung eines Signalabstandes (dx) der Maximalwerte (x1, x2) und Berechnung einer Materialdicke (d) oder Schichtdicke aus zumindest dem Einfallswinkel (a) und dem Signalabstand (dx) ausgebildet ist.
摘要翻译：
本发明涉及一种测量方法和测量装置（1），用于测量一个镨导航用途fobjektes（2），所述测量装置包括：一个发射器（3），用于（4）在微波传输发射的辐射 - 或太赫兹范围内的入射角的非正常角度（a）至一个镨导航用途fobjektes（2），接收线（8），用于空间分辨＆oUML的顶侧（2a）中;斯登测量反射辐射（7）的信号振幅（S），在顶部（2a）和通过镨导航用途fobjekt（2）下侧通过后（2b）的镨导航用途fobjektes的（2）的反射部分反射的光束（4A，4C）包含HOLDS，在依赖BEAR测量方向的依赖（x）的离开不平行于所述反射的辐射（7）＆AUML的出射方向; UFT，一个控制和计算装置（12），用于从信号距离的测量的信号振幅（S），确定确定最大值（X1，X2）（ dx）的最大值（x1，x2）和至少由入射角（α）和信号距离（dx）形成材料厚度（d）或层厚的计算。

9. 发明申请

WO2020114561A1 MESSSYSTEM UND VERFAHREN ZUR VERMESSUNG EINES MESSOBJEKTES, INSBESONDERE EINES KUNSTSTOFF-PROFILS 审中-公开
公开(公告)号：WO2020114561A1
公开(公告)日：2020-06-11
申请号：PCT/DE2019/101055
申请日：2019-12-06
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： KLOSE, Ralph
IPC分类号： G01B11/06 , G01N21/3581 , G01N21/952 , G01N21/954 , G01S7/41 , G01S13/90
摘要： Die Erfindung betrifft ein Messsystem (2) zur Vermessung eines Messobjektes, insbesondere eines Kunststoff profils (3), wobei das Messsystem (2) aufweist: - eine Antennenanordnung (4) aus mehreren THz- Transceivern (5), die jeweils zeitweise aktiv einen THz-Sendestrahl (6) aussenden und zeitweise passiv reflektierte THz-Strahlung (11) aufnehmen, - wobei die Antennenanordnung (4) Messsignale (S1) der Messungen der THz-T ransceiver (5) ausgibt, - eine Verstelleinrichtung (12) zum Verstellen der Antennenmatrix (4) in mehrere Messpositionen (MP1, MP2, MP3) entlang einer Verstellrichtung (m1, m2), z.B. einer Kreisbogenbahn um das Messobjekt (3), - eine Steuer- und Auswerteeinrichtung (14) zur Aufnahme und Auswertung der Messsignale (S1), die derartig eingerichtet ist, dass die Messsignale (S1) der mehreren THz-Transceiver (5) in den mehreren Messpositionen (MP1, MP2,...) durch ein SAR-Auswerteverfahren ausgewertet werden und ein virtuelles Modell (VM) der Grenzflächen (8) des Messobjekts (3) ausgebildet wird, und - nachfolgend die Steuer- und Auswerteeinrichtung (14) aus dem virtuellen Modell (VM) Schichtdicken (d, d4) zwischen den Grenzflächen (8) ermittelt.

10. 发明申请

WO2019201396A1 VERFAHREN UND THZ-MESSGERÄT ZUR VERMESSUNG EINES MESSOBJEKTES MIT ELEKTROMAGNETISCHER STRAHLUNG 审中-公开
公开(公告)号：WO2019201396A1
公开(公告)日：2019-10-24
申请号：PCT/DE2019/100366
申请日：2019-04-18
申请人： INOEX GMBH INNOVATIONEN UND AUSRÜSTUNGEN FÜR DIE EXTRUSIONSTECHNIK
发明人： KLOSE, Ralph
IPC分类号： G01B11/06 , G01S17/00 , G01N21/3581 , G01S13/88
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur THz-Vermessung eines Messobjektes (3), mit folgenden Schritten: Phase einer Vormessung, in der ein erster THz-Sendestrahl (112) eines THz-Transceivers eines THz-Messgeräts (2) in einem ersten Frequenzbereich und mit einer ersten Bandbreite auf das Messobjekt (3) ausgestrahlt wird und von einer Grenzfläche des Messobjektes (3) reflektierte THz-Strahlung detektiert wird; Ermitteln, ob ein Messobjekt (3) erfasst ist; falls das Messobjekt (3) erfasst ist, Ermitteln eines aktuellen Abstandes des THz-Messgeräts (2) oder des THz-Transceivers von der Grenzfläche (St5); Vergleichen des ermittelten aktuellen Abstandes mit einem Grenzabstand; und bei Unterschreiten des Grenzabstandes nachfolgend Einleiten einer Hauptmessung oder Anzeigen einer Einleitung der Hauptmessung; Phase der Hauptmessung, in der ein Hauptmessung-THZ- Sendestrahl entlang der optischen Achse auf das Messobjekt eingestrahlt wird und reflektierte THz-Strahlung detektiert wird, wobei vorzugsweise eine zweite Brandbreite des Hauptmessungs-THz-Sendestrahls größer als die erste Bandbreite ist; wobei aus dem ausgesandten Hauptmessungs-THz-Sendestrahl und der detektierten reflektierten THz-Strahlung Messeigenschaften, z.B. eine Schichtdicke oder Materialzusammensetzung, ermittelt wird; Ausgeben des Messergebnisses.

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式