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1. 发明申请

WO2005074789A1 KURZKOHÄRENZ-INTERFEROMETRISCHE LÄNGENMESSUNG AM AUGE 审中-公开
标题翻译：短相干干涉测量长度测量EYES ON
公开(公告)号：WO2005074789A1
公开(公告)日：2005-08-18
申请号：PCT/EP2005/001164
申请日：2005-02-04
申请人： CARL ZEISS MEDITEC AG , FERCHER, Adolf, Friedrich
发明人： FERCHER, Adolf, Friedrich
IPC分类号： A61B3/10
CPC分类号： A61B3/102
摘要： Die kurzkohärenz-interferometrische Längenmessung am Auge hat 2 Probleme: Erstens fallen Messfokus und Kohärenzfenster meist nicht zusammen, zweitens benötigt der Scanvorgang entlang der Augenachse Zeit. Beides hat schlechte Signalqualität und ungenaue Messungen zur Folge. Es wird ein Kurzkohärenz-Interferometer angemeldet, in dem ein 90-Grad-Spiegel und eine Fokussieroptik gemeinsam eine periodische Hin-und-her Bewegung so ausführen, dass der von der Fokussieroptik erzeugte und mittels einer Relais-Optik auf das Auge abgebildete Messstrahlfokus synchron mit dem Kohärenzfenster von der Cornea entlang der optischen Achse des Auges bis zur Fovea centralis bewegt wird. Weiters werden mittels mehrerer Reflektoren unterschiedliche Weglängen in den Mess- und Referenzstrahlengängen erzeugt, so dass sich der Scanvorgang auf Strecken kleiner als die optische Länge des Auges beschränkt. Eine vorteilhafte Implementierung der vorliegenden Erfindung erfolgt auf Basis faseroptischer Interferometer. Hierbei werden die erfindungsgemäss ausgestalteten Referenz- und Mess-Interferometerarme mit den Armen eines faseroptischen Interferometers kombiniert.
摘要翻译：在眼睛上的短相干干涉长度测量有两个问题：一是测量聚焦和连贯性窗口落在大多不在一起，其次，需要沿的眼睛时的轴扫描。两者都有差的信号质量和不准确的测量结果。它被应用于短相干干涉仪，其中90度的反射镜和一个聚焦光学系统一起执行周期性回的往复运动，使得由聚焦光学器件产生并同步地由中继光学部件成像到眼睛的测量光束聚焦角膜的相干性窗口被沿着眼睛的中央凹光轴移动。此外，在使用多个反射器的测量光束和参考光束路径被生成不同的路径长度，使得扫描被限制到距离小于所述眼睛的光学长度。本发明的有利的实施方式是基于光纤干涉仪。在此，本发明设计的参考和测量干涉仪相结合，与光纤干涉仪的臂。

2. 发明申请

WO2006015717A1 FOURIER-DOMAIN OCT RAY-TRACING AM AUGE 审中-公开
标题翻译：傅里叶域OCT光线追踪EYES ON
公开(公告)号：WO2006015717A1
公开(公告)日：2006-02-16
申请号：PCT/EP2005/008090
申请日：2005-07-26
申请人： CARL ZEISS MEDITEC AG , FERCHER, Adolf, Friedrich
发明人： FERCHER, Adolf, Friedrich
IPC分类号： A61B3/107
CPC分类号： A61B3/102 , A61B3/103
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein ophthalmologisches Messverfahren, welches mittels Kurzkohärenz-Interferometrie anhand von Stützpunkten dreidimensionale Strukturen der Grenzflächen eines Auges darstellen kann. Dabei wird die Pupille von einer kurzkohärenten Beleuchtungsquelle (1) in mehreren Punkten beleuchtet. Die in diesen Punkten von den Grenzflächen und Oberflächen des Auges (13) reflektierte Messstrahlung (18) wird mit einer Referenzstrahlung (17) überlagert. Die so erzeugten Messdaten werden durch ein Beugungsgitter (16) spektral aufgespalten, auf ein zweidimensionales Detektorarray (15) abgebildet und an eine Steuereinheit weitergeleitet, die eine dreidimensionale Struktur aller intraokulären Grenzflächen und Oberflächen des Auges (13) ermittelt. Beidem vorgeschlagenen Fourier Domain OCT Verfahren erfolgt die Darstellung der dreidimensionalen Strukturen vorzugsweise mittels Spline- oder Polygonflächen. Dabei ist es möglich die Tiefenpositionen der Messstrahlen in vielen Pupillenpunkten mit einer einzigen Aufnahme der Array-Kamera zu bestimmen, indem die Pupille mit einem Blendenraster beleuchtet wird und der Referenzspiegel einen periodischen Phasenraster enthält.
摘要翻译：本发明涉及一种眼科测定方法，其可以表示基于碱眼睛的接口的三维结构短相干干涉测量的装置。在这种情况下，短的相干照明源（1）的光瞳中的几个点被照亮。所述在这些点由眼睛（13）的界面和表面反射的与参考辐射（17）被叠加的测量辐射（18）。由此产生的测量数据通过一衍射光栅（16）成像的二维检测器阵列（15）上，并转发到其确定眼睛（13）的所有眼内界面和表面的三维结构的控制部进行分光分裂。既提出傅立叶域OCT的方法进行三维结构的呈现，优选通过花键或多边形表面的装置。可能的是，在许多瞳孔点与所述相机阵列的单杆，以确定测量光束的深度位置，通过瞳孔有孔格照明和参考反射镜包括一个周期性相位栅格。

3. 发明申请

WO2007065670A3 INTERFEROMETRIC SAMPLE MEASUREMENT 审中-公开
标题翻译：干涉测量法
公开(公告)号：WO2007065670A3
公开(公告)日：2007-10-11
申请号：PCT/EP2006011738
申请日：2006-12-06
申请人： ZEISS CARL MEDITEC AG , FERCHER ADOLF FRIEDRICH , LEITGEB RAINER
发明人： FERCHER ADOLF FRIEDRICH , LEITGEB RAINER
IPC分类号： A61B3/10 , G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02004 , A61B3/102 , G01B9/02019 , G01B9/02028 , G01B9/02044 , G01B9/02058 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70
摘要： The invention relates to a device for the interferometric measurement of a sample, in particular the eye, comprising an interferometer arrangement which comprises a first measurement beam path, through which a measurement beam falls onto the sample, and a first reference beam path, through which a reference beam runs, which is applied to the measuring beam for interference. The interferometer arrangement comprises a second measuring beam path and/or second reference beam path, whereby the optical wave lengths thereof are different from one of the first beam paths. The wave length difference is selected according to a distance of two measuring areas which are arranged at a distance in the depth direction of the sample.
摘要翻译：本发明描述了用于对样品进行干涉测量的装置，尤其是眼睛的具有通过该测量光束入射在样品上，并通过该参考光束穿过所述测量光束，以一第一参考光束路径中的第一测量光束路径的干涉仪被带到干扰，其中，所述干涉仪装置具有第二测量和/或第二参考光束路径中，它/它们的光路长度不同于第一光路的所述一个不同的，其中所述路径长度差根据间隔开的在样本范围的深度方向上的两个之间的距离来选择。

4. 发明申请

WO2007065493A1 INTERFEROMETRISCHE PROBENMESSUNG 审中-公开
标题翻译：干涉测量样品测量
公开(公告)号：WO2007065493A1
公开(公告)日：2007-06-14
申请号：PCT/EP2006/008970
申请日：2006-09-14
申请人： CARL ZEISS MEDITEC AG , FERCHER, Adolf, Friedrich , LEITGEB, Rainer
发明人： FERCHER, Adolf, Friedrich , LEITGEB, Rainer
IPC分类号： A61B3/10 , G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02004 , A61B3/1005 , A61B3/102 , G01B9/02019 , G01B9/02028 , G01B9/02044 , G01B9/02058 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70
摘要： Es wird eine Vorrichtung beschrieben zur interferometrischen Messung einer Probe (P), insbesondere des Auges (A), mit einer Interferometeranordnung (1), welche einen ersten Meßstrahlengang, durch den ein Meßstrahl auf die Probe fallt, und einen ersten Referenzstrahlengang (R) aufweist, durch den ein Referenzstrahl lauft, der mit dem Meßstrahl zur Interferenz gebracht wird, wobei die Interferometeranordnung einen zweiten Meß- und/oder zweiten Referenzstrahlengang (R2) aufweist, dessen/deren optischen Weglange sich von der eines der ersten Strahlengange unterscheidet, wobei die Weglangendifferenz gemäß einem Abstand zweier in Tiefenrichtung der Probe beabstandeter Meßbereiche (5, 6, 7) gewählt ist.
摘要翻译：一种装置被用于对样品（P）的干涉测量所描述的，特别是眼（A）的，与干涉仪（1），其具有通过该测量光束落在样品和第一参考光束路径中的第一测量光束路径（R）通过其带来了与探测光束的干扰，其中，所述干涉仪的第二测量和/或第二参考光束（R2），它/它们的光路长度不同于第一光路的所述一个不同的，其中所述路径长度的参考光束运行根据两个间隔开的在样本范围的深度方向（图5，6，7）被选择之间的距离。

5. 发明申请

WO1984004810A1 METHOD AND DEVICE FOR THE CONTACT-FREE MEASUREMENT OF THE ACTUAL POSITION AND/OR THE PROFILE OF ROUGH SURFACES 审中-公开
标题翻译：用于实时位置的接触式测量和/或粗糙表面轮廓的方法和装置
公开(公告)号：WO1984004810A1
公开(公告)日：1984-12-06
申请号：PCT/EP1984000152
申请日：1984-05-19
申请人： FIRMA CARL ZEISS , FERCHER, Adolf, Friedrich , HU, Hong, Zhang
发明人： FIRMA CARL ZEISS
IPC分类号： G01B11/30
CPC分类号： G01B9/02007 , G01B9/02002 , G01B11/303
摘要： Laser light having at least two different wavelengths is directed to the surface (8) to be measured. On the path of the light beams there is arranged a ray divider (4) generating a reference light beam which is reflected on a reference plane surface (5). In the interference plane of the reflected light a frange pattern is formed amongst which a bright laser frange is selected for all wavelengths by means of a measuring diaphragm (31) of which the diameter is smaller than that of a laser frange. Behind the measuring diaphragm (21), the two wavelengths are separated from each other and the phase difference between the signals of the different wavelengths is measured. Said phase difference is transformed into a signal proportional to the distance between the measuring point and the reference surface and is displayed. It is advisable to frequency-shift the reference light beam with respect to the object light by means of a heterodyne device (7).
摘要翻译：具有至少两个不同波长的激光被引导到待测量的表面（8）。在光束的路径上布置有产生参考光束的光线分割器（4），该参考光束被反射在参考平面（5）上。在反射光的干涉平面中，形成一个奇异的图案，其中通过其直径小于激光轮廓的直径的测量膜（31）为所有波长选择明亮的激光器。在测量光圈（21）的后面，两个波长彼此分离，并且测量不同波长的信号之间的相位差。所述相位差被变换为与测量点和参考表面之间的距离成比例的信号并被显示。建议通过外差装置（7）将参考光束相对于物体光进行频移。

6. 发明申请

WO2010017954A2 OPTICAL COHERENCE REFLECTOMETRY WITH DEPTH RESOLUTION 审中-公开
标题翻译：低分辨率光学KOHÄRENZREFLEKTROMETRIE
公开(公告)号：WO2010017954A2
公开(公告)日：2010-02-18
申请号：PCT/EP2009005811
申请日：2009-08-11
申请人： ZEISS CARL MEDITEC AG , HACKER MARTIN , BARTH ROLAND , BERGNER ROLAND , BISSMANN WILFRIED , VON BUENAU RUDOLF , EBERSBACH RALF , KOSCHMIEDER INGO , FERCHER ADOLF FRIEDRICH , GRAJCIAR BRANISLAV
发明人： HACKER MARTIN , BARTH ROLAND , BERGNER ROLAND , BISSMANN WILFRIED , VON BUENAU RUDOLF , EBERSBACH RALF , KOSCHMIEDER INGO , FERCHER ADOLF FRIEDRICH , GRAJCIAR BRANISLAV
IPC分类号： A61B3/10
CPC分类号： A61B3/1005
摘要： A device for performing measurements on an eye (4), in particular for measuring the depth of the anterior chamber, the lens thickness, the corneal thickness or the axial length, wherein the device comprises an interferometer (10), focuses at least one measurement beam (7, 8) into the eye (4) along an optical axis (OA), records backscattered radiation and interferometrically generates a measurement signal displaying structures of the eye by time-domain, spectral-domain or Fourier-domain coherence reflectometry, has an adjustment apparatus (13; 16; 17; 19; 21) for laterally and/or axially displacing the focus in the eye (4) or for varying a polarization state of the measurement beam (7, 8) and has a control apparatus (22) which actuates the interferometer, wherein the control apparatus (22) generates a plurality of A-scan individual signals from the backscattered radiation, combines these to an A-scan measurement signal and is designed such that it actuates the adjustment apparatus (13; 16; 17; 19; 21) for displacing the position of the focus or for varying the polarization while recording the backscattered radiation from which the control apparatus (22) generates the A-scan individual signals is being recorded and backscattered radiation contributes to the A-scan measurement signal in a plurality of different positions of the focus or in a plurality of different polarization states of the measurement radiation (7, 8).
摘要翻译：装置，用于测量在眼睛上（4），特别是用于测量前房深度，透镜厚度，角膜厚度或轴向长度，所述装置包括在眼睛中的干涉仪（10），至少一个测量光束（7,8）沿光轴（OA）（4）聚焦接收反向散射的辐射，并且干涉由时域而产生，Spektraldomänen-或傅立叶域Kohärenzreflektrometrie指示测量的信号，调节装置的眼睛的结构，以便于聚焦的横向和/或轴向位移（13; 21 16; 17; 19）在眼（4），或用于改变测量光束的偏振状态（7,8）和控制装置（22）驱动所述的干涉仪，所述从所述背散射辐射控制装置（22）产生的多个扫描的各个信号的，并总结A扫描测量信号，并且适于将所述调节装置（13; 16; 17; 19; 21），用于移动所述位置的焦点的，或到偏振变化的后向散射辐射的记录，从该控制装置（22）在焦点处或测量辐射的多个不同偏振状态的几个不同的位置产生的A扫描的各个信号，驱动器和后向散射辐射期间（7,8），用于 A扫描测量信号有贡献。

7. 发明申请

WO2006081998A1 VORRICHTUNG ZUR POSITIONSBESTIMMUNG VONEINANDER DISTANZIERTER BEREICHE IN TRANSPARENTEN UND/ODER DIFFUSEN OBJEKTEN 审中-公开
标题翻译： DEVICE用于确定透明和/或漫射物体隔开区域的位置
公开(公告)号：WO2006081998A1
公开(公告)日：2006-08-10
申请号：PCT/EP2006/000751
申请日：2006-01-28
申请人： CARL ZEISS MEDITEC AG , FERCHER, Adolf, Friedrich
发明人： FERCHER, Adolf, Friedrich
IPC分类号： G01B9/02 , G01N21/47 , A61B3/10
CPC分类号： G01B9/02028 , A61B3/1005 , G01B9/02058 , G01B9/0209 , G01B2290/35
摘要： Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Dicken-, Abstands- und/oder Profilbestimmung voneinander distanzierter Bereiche eines transparenten und/oder diffusen Objektes, insbesondere zur Messung von Abständen im Auge. Bei der Vorrichtung zur Positionsbestimmung unter Verwendung einer Interferometeranordnung nach dem Michelson-Prinzip ist zur Weglängenänderung im Referenz- oder Messstrahlengang eine Scanneinheit (2) angeordnet, die aus einem Scanntisch (5) besteht, der in entsprechenden Führungen translatorisch beweglich ist, wobei die Bewegungsrichtung einen Winkel α zum Referenzstrahl (1 ) einschließt, und bei der auf dem Scanntisch (5) mindestens zwei Referenzspiegel (3, 4) angeordnet sind, die in Richtung des Referenzstrahles (1) einen Anstand d aufweisen und sich seitlich geringfügig überlappen, so dass während der motorisch pendelnden Bewegung des Scanntisches (5) der Referenzstrahl (1) erst von dem ersten Referenzspiegel (3) und dann von dem zweiten Referenzspiegel (4) in sich reflektiert wird.
摘要翻译：本发明涉及一种设备，用于厚度，距离和/或透明和/或漫射物体的间隔区域的轮廓的确定，特别是用于在测量眼睛的距离。在用于确定使用干涉的位置基于迈克尔逊原理用于路径长度的扫描单元（2）在设置在所述参考或测量光束路径，其由扫描表（5），这是在相应引导件可平移运动的，其中的一个移动方向的装置角度α的参考光束（1）包括，并且其中，在所述扫描表（5）的至少两个参考镜（3,4）被布置，其具有在所述参考光束（1）一个适当性D和略微横向的方向上重叠，使得在扫描台（5）的参考光束的马达振动运动（1）只从第一参考反射镜（3）和（4）从第二基准镜被反射到自身。

8. 发明申请

WO2004064628A1 VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR MESSUNG DER DISPERSION IN TRANSPARENTEN MEDIEN 审中-公开
标题翻译：方法和装置，用于测量透明介质中的分散
公开(公告)号：WO2004064628A1
公开(公告)日：2004-08-05
申请号：PCT/EP2003/014279
申请日：2003-12-16
申请人： CARL ZEISS MEDITEC AG , FERCHER, Adolf, Friedrich
发明人： FERCHER, Adolf, Friedrich
IPC分类号： A61B5/00
CPC分类号： A61B5/1455 , A61B5/14532
摘要： Räumlich lokalisierte Dispersions- und Glukose-Messung mittels optischer Kurzkohärenz Interferenz-Refraktometrie Diese Anmeldung betrifft Verfahren und Anordnungen zur Messung der Dispersion und des Glukosegehalts in transparenten und teiltransparenten Geweben und Körperflüssigkeiten. Verfahren der Kurzkohärenz-Interferometrie und Spektral-Interferomefirie werden zur Messung der Gewebedicke als auch zur Messung der lokalen Dispersion modifiziert. In der auf Kurzkohärenz-Interferometrie basierenden Technik werden Teilinterferogramme aus dem Kurzkohärenz-Interferogramm G(τ) zur Dispersionsmessung benutzt, in der auf Spektral-Interferornetrie beruhenden Technik werden Teilbereiche aus dem ω-Spektrum des spektralen lnterferogramms zur Dispersionsmessung benutzt. Figur 6 zeigt eine auf Spektral-Interferometrie beruhende Anordnung. Eine zeitlich kurzkohärente Lichtquelle (1) beleuchtet das modifizierte MichelsonInterferometer. Der Strahlteiler (4) teilt den beleuchtenden Strahl in Messstrahl (5) und Referenzstrahl (6). Die aus dem Interferometer reflektierten Lichtwellen (45) und (6) treffen am Interferometerausgang auf das Spektrometer. Das registrierte spektrale Interferogramm i (ω) bildet die Basis für die Berechnung der Dispersionen verschiedener Ordnungen. Die Blickrichtung des Probandenauges wird dabei mittels eines Zielstrahls (32) fixiert.
摘要翻译：通过光学低相干干涉折射本申请涉及一种用于测量的分散和在透明和部分透明的组织和体液中的葡萄糖含量的方法和布置空间局部色散和葡萄糖测量。短相干干涉测量法和光谱Interferomefirie的方法进行修改，以测量组织厚度和用于测量局部色散。在基于短相干干涉测量技术Teilinterferogramme从短的相干干涉G（tau蛋白）可以在其中基于被用于分散体测量的光谱lnterferogramms的ω-光谱的光谱Interferornetrie技术部分被用于色散测量。图6是基于光谱干涉布置。在时间上短的相干光源（1）照射改性迈克尔逊。分束器（4）分割照明光束在测量光束（5）和参考光束（6）。反射的光波从所述干涉仪（45）和（6）在上分光计的干涉仪可以满足。注册光谱干涉I（欧米加）形成不同的订单分散体的计算的基础。被检者的眼睛的视线方向是由此通过对准光束（32）的固定。

9. 发明申请

WO2010017954A3 TIEFENAUFLÖSENDE OPTISCHE KOHÄRENZREFLEKTOMETRIE 审中-公开
公开(公告)号：WO2010017954A3
公开(公告)日：2010-02-18
申请号：PCT/EP2009/005811
申请日：2009-08-11
申请人： CARL ZEISS MEDITEC AG , HACKER, Martin , BARTH, Roland , BERGNER, Roland , BISSMANN, Wilfried , VON BÜNAU, Rudolf , EBERSBACH, Ralf , KOSCHMIEDER, Ingo , FERCHER, Adolf, Friedrich , GRAJCIAR, Branislav
发明人： HACKER, Martin , BARTH, Roland , BERGNER, Roland , BISSMANN, Wilfried , VON BÜNAU, Rudolf , EBERSBACH, Ralf , KOSCHMIEDER, Ingo , FERCHER, Adolf, Friedrich , GRAJCIAR, Branislav
IPC分类号： A61B3/10
摘要： Vorrichtung zur Messung an einem Auge (4), insbesondere zur Messung von Vorderkammertiefe, Linsendicke, Hornhautdicke oder Achslänge, wobei die Vorrichtung ein Interferometer umfaßt, mindestens einen Meßstrahl (7, 8) entlang einer optischen Achse (OA) in das Auge (4) fokussiert, rückgestreute Strahlung aufnimmt und durch Zeitdomänen-, Spektraldomänen- oder Fourierdomänen-Kohärenzreflektrometrie interferometrisch ein Strukturen des Auges anzeigendes Meßsignal erzeugt, eine Verstelleinrichtung zur lateralen und/oder axialen Verschiebung (P, T) des Fokus im Auge (4) oder zur Variation eines Polarisationszustandes des Meßstrahls (7, 8) und eine Steuereinrichtung, die das Interferometer ansteuert aufweist, wobei die Steuereinrichtung aus der rückgestreuten Strahlung mehrere A-Scan-Einzelsignale erzeugt und diese zu einem A-Scan- Meßsignal zusammenfaßt und so ausgebildet ist, daß sie die Verstelleinrichtung zur Verschiebung der Lage des Fokus oder zur Polarisationsvariation während der Aufnahme der rückgestreuten Strahlung, aus der die Steuereinrichtung die A-Scan-Einzelsignale erzeugt, ansteuert und rückgestreute Strahlung bei mehreren verschiedenen Lagen des Fokus oder mehreren verschiedenen Polarisationszuständen der Meßstrahlung (7, 8) zum A-Scan-Meßsignal beiträgt.

10. 发明申请

WO2007065670A2 INTERFEROMETRISCHE PROBENMESSUNG 审中-公开
标题翻译：干涉测量样品测量
公开(公告)号：WO2007065670A2
公开(公告)日：2007-06-14
申请号：PCT/EP2006/011738
申请日：2006-12-06
申请人： CARL ZEISS MEDITEC AG , FERCHER, Adolf, Friedrich , LEITGEB, Rainer
发明人： FERCHER, Adolf, Friedrich , LEITGEB, Rainer
IPC分类号： A61B3/10 , G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02004 , A61B3/102 , G01B9/02019 , G01B9/02028 , G01B9/02044 , G01B9/02058 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70
摘要： Es wird beschrieben eine Vorrichtung zur interferometrischen Messung einer Probe, insbesondere des Auges, mit einer Interferometeranordnung, welche einen ersten Meßstrahlengang, durch den ein Meßstrahl auf die Probe fällt, und einen ersten Referenzstrahlengang aufweist, durch den ein Referenzstrahl läuft, der mit dem Meßstrahl zur Interferenz gebracht wird, wobei die Interferometeranordnung einen zweiten Meß- und/oder zweiten Referenzstrahlengang aufweist, dessen/deren optischen Weglänge sich von der eines der ersten Strahlengänge unterscheidet, wobei die Weglängendifferenz gemäß einem Abstand zweier in Tiefenrichtung der Probe beabstandeter Meßbereiche gewählt ist.
摘要翻译：本发明描述了用于对样品进行干涉测量的装置，尤其是眼睛的具有通过该测量光束入射在样品上，并通过该参考光束穿过所述测量光束，以一第一参考光束路径中的第一测量光束路径的干涉仪被带到干扰，其中，所述干涉仪装置具有第二测量和/或第二参考光束路径中，它/它们的光路长度不同于第一光路的所述一个不同的，其中所述路径长度差根据间隔开的在样本范围的深度方向上的两个之间的距离来选择。

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