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    • 4. 发明申请
    • DISPOSITIF DE MESURE DE DEFORMATIONS DE SURFACE
    • 用于测量表面变形的装置
    • WO2005119171A1
    • 2005-12-15
    • PCT/FR2005/001274
    • 2005-05-23
    • INSIDIXLECOMTE, Jean-ClaudeFAYOLLE, Romain
    • LECOMTE, Jean-ClaudeFAYOLLE, Romain
    • G01B11/25
    • G01B11/162
    • Le dispositif permet la mesure de déformations d'au moins une surface (1) d'un échantillon (2) en fonction de la température. Des déformations suivant une direction perpendiculaire à un plan prédéterminé, par exemple le plan de la surface (1), sont mesurées par images composites. Des déformations dans ledit plan sont mesurées par corrélation d'images. Les mesures par corrélation d'images et par images composites utilisent une caméra (3) commune de détection de lumière visible. L'échantillon (2) est disposé dans une enceinte (6) transparente au moins localement à la lumière visible (L). Au moins un émetteur (9) infrarouge permet de créer une lumière infrarouge dans une bande spectrale largement non-détectée par la caméra (3).
    • 该装置使得可以根据温度测量样品(2)的至少一个表面(1)的变形。 在垂直于所确定的平面的方向上发生的变形,例如, 表面(1)的平面通过合成图像测量。 涉及图像和合成图像的相关性的测量使用公共照相机(3)来检测可见光。 样品(2)放置在对可见光(L)至少局部透明的外壳(6)中。 至少一个红外发射器(9)使得可以在大部分未被相机(3)检测到的频谱带中产生红外光。