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    • 4. 发明专利
    • DISPOSITIF D'ANALYSE D'UN ECHANTILLON
    • FR3076351A1
    • 2019-07-05
    • FR1763333
    • 2017-12-28
    • COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUEAVALUN
    • HUE JEANPOUTEAU PATRICKSABATTE GWENOLA
    • G01N21/17
    • L'invention concerne un dispositif d'analyse d'un échantillon comportant : - une source de lumière (11), configurée pour émettre une onde lumineuse (12), dite onde lumineuse incidente, vers un échantillon (10), la source de lumière étant couplée à un filtre spatial (18) ou non couplée à un filtre spatial ; - un support (10s), destiné à recevoir l'échantillon analysé, définissant une zone de support (Zs), de telle sorte que lorsque l'échantillon est disposé sur le support, il s'étend selon la zone de support; - un capteur d'image (16), configuré pour recevoir une image de l'échantillon illuminé par la source de lumière (11), aucune optique de grossissement ou de formation d'image n'étant disposé entre le capteur d'image et l'échantillon ; le dispositif étant caractérisé en ce qu'il comporte un diffuseur (17), disposé entre : - la source de lumière et la zone de support, lorsque la source de lumière et n'est pas couplée à un filtre spatial ; - ou entre le filtre spatial et la zone de support, lorsque la source de lumière est couplée un filtre spatial ; - ou entre la zone de support et le capteur d'image.