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1. 发明申请

WO2019179750A1 STRICKBEKLEIDUNG 审中-公开
公开(公告)号：WO2019179750A1
公开(公告)日：2019-09-26
申请号：PCT/EP2019/055162
申请日：2019-03-01
申请人： OBREZKINA, Anna
发明人： OBREZKINA, Anna
IPC分类号： D04B1/24
摘要： Die Erfindung betrifft eine Strickbekleidung (1) mit dreidimensionaler Textilformung für Körperwölbungen (2, 2', 2"). Bei einer solchen Strickbekleidung (1) soll eine optimale dreidimensionale Textilformung mit großem Volumen erzielt werden, bei der sich das Gestrick auch an große Volumen sauber anpaßt und optische Unterbrechungen des Anschmiegens des Gestricks an den Körper vermieden werden. Dies wird dadurch erreicht, daß die dreidimensionale Textilformung an dem Strickteil (5, 6) mit der Körperwölbung (2, 2', 2") bzw. den Körperwölbungen (2, 2', 2") dadurch erzielt wird, daß im Bereich einer Körperwölbung (2, 2', 2") innerhalb des Strickteils (5, 6), das diese bedeckt, entsprechend der Wölbung über mehrere Strickreihen eine Maschenzunahme auf der Außenseite des vorher aufgrund der Körperabmessungen bestimmten Mittelstücks des Gestricks stattfindet, danach eine Beibehaltung der Maschenzahl und dann eine Maschenabnahme, auch hier auf der Außenseite des vorher bestimmten Mittelstücks des Gestricks, wobei ohne eine temporäre Unterbrechung des Strickvorgangs für einzelne Maschenreihen, wie bei der Zwickel- oder Spickeltechnik, der Strickvorgang fortlaufend weitergeführt wird.

2. 发明申请

WO2018104030A1 GREIFER FÜR PRÜFKÖRPER, POSITIONIERVORRICHTUNG FÜR ROHPROBEN, HANDHABUNGSSYSTEM FÜR ROHPROBEN UND PRÜFKÖRPER SOWIE PRÜFSYSTEM FÜR VISKO-ELASTISCHE WERKSTOFFE 审中-公开
公开(公告)号：WO2018104030A1
公开(公告)日：2018-06-14
申请号：PCT/EP2017/079585
申请日：2017-11-17
申请人： MONTECH SYSTEM SOLUTIONS GMBH
发明人： BÄUERLEIN, Ralf
IPC分类号： B25J15/00 , B25J15/02 , B25J15/06 , G01N33/44 , G01N35/00 , B65G47/88 , B65G11/02
摘要： Die Erfindung betrifft einen Spieß-Greifer 6 zum einseitigen Greifen eines Prüfkörpers 3 aus visko-elastischen Werkstoffen mit einer Oberseite 3a und einem Randbereich 3b, wobei der Greifer eine Basis 6a und darin angeordnete Aufspießmittel 7, 7', 7'', 7''' aufweist, die parallel zur Oberseite 3a in den Randbereich 3b eines Prüfkörpers 3 einstechbar und so ausgestaltet sind, daß der Prüfkörper 3 drehfest von den Aufspießmitteln 7, 7', 7'', 7''' gehalten werden kann. Sie betrifft ferner einen Multifunktionsgreifer für einen Roboterarm, aufweisend - einen ersten Effektor 4 mit paarig aufeinander zu bewegbaren Greifbacken 5, 5' zur Aufnahme und zur bewegenden, positionierenden und sichernden Handhabung einer Rohprobe 2 vor und im Zusammenhang mit dem Stanzen von Prüfkörper 3, einen zweiten Effektor 6 mit einem Spieß-Greifer 6 nach einem der Ansprüche 1 bis 6 zur Aufnahme und weitergebenden Handhabung von Prüfkörpern 3 nach dem Stanzen, einen dritten Effektor 13 mit Saugmitteln zur weitergebenden und positionierenden Handhabung eines Prüfkörpers 3, einen vierten Effektor 14 mit Saugmitteln zur weitergebenden Handhabung einer Rohprobe 2, wobei jeder der Effektoren 4, 6, 13, 14 in seiner Position, seiner Lage zur Rohprobe 2 beziehungsweise Prüfkörper 3, seiner Ausrichtung, Anstellkraft und Bewegung steuerbar angeordnet und ausgestaltet ist. Sie betrifft ferner eine Vorrichtung 20 zum Positionieren von Rohproben 2 und Prüfkörpern 3, ein Handhabungssystem 1 für visko-elastische Rohproben 2 und Prüfkörper 3 sowie ein automatisiertes Prüfsystem für die Werkstoffprüfung von viskoelastischen Prüfkörpern 3.

3. 发明申请

WO2017055349A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNGEN ZUR MODULATION EINES STRAHLS ELEKTRISCH GELADENER TEILCHEN SOWIE ANWENDUNGSBEISPIELE FÜR DIE PRAKTISCHE ANWENDUNG SOLCHER VORRICHTUNGEN 审中-公开
标题翻译：方法和设备的带电粒子与应用电气梁的这种装置的实际应用调制
公开(公告)号：WO2017055349A1
公开(公告)日：2017-04-06
申请号：PCT/EP2016/073110
申请日：2016-09-28
申请人： CEOS CORRECTED ELECTRON OPTICAL SYSTEMS GMBH , FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH GMBH
发明人： POPPE, Ulrich , THUST , Andreas , DUNIN-BORKOWSKI, Rafal
IPC分类号： H05H9/00 , H05H9/04
CPC分类号： H05H9/005 , H05H9/048
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Modulation eines Strahls (1) elektrisch geladener Teilchen, wobei Pulse (46) ausgewählter Teilchen (6) einer vorgegebenen Geschwindigkeit ausgesondert werden, deren Pulsfolge mit der Periodendauer (5') eines Laserlichts (5) oder einem ganzzahligen Vielfachen davon synchron ist, diese Pulse (46) werden einem durch dieses Laserlicht (5) oder durch ein phasenkorreliertes Laserlicht gleicher Frequenz (25) erzeugten evaneszenten elektromagnetischen Feld (23) zugeführt, das die Pulse (46) der ausgewählten Teilchen (6) für den gewünschten Verwendungszweck moduliert. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Vorrichtung zur Erzeugung der Pulse (46) ausgewählter Teilchen (6), die durch ein mittels des Lasers (5) erzeugtes evaneszentes elektromagnetisches Feld (2) einer gekrümmten dielektrischen Struktur (4', 4", 4"') mittels Ablenkung und einer die Pulsdauer (6') bestimmenden Blende (7) ausgewählt werden. Die Erfindung betrifft auch eine weitere Vorrichtung (22), die durch das Laserlicht (5, 25) ein evaneszentes elektromagnetisches Feld (23) erzeugt, das die Pulse (46) ausgewählter Teilchen (6) für den jeweiligen Verwendungszweck moduliert.
摘要翻译：本发明涉及调节带电粒子束（1）的方法，所述选择的粒子（6）的脉冲（46）是分开的预定速度时，用激光光（5）的周期（5“）或整数倍的脉冲串这是在同步中，这些脉冲（46）是由该激光的光馈送到（5）或由相同的频率（25）的同相相关性的激光，该瞬态电磁场生成（23），用于将所选择的粒子（6）的脉冲（46）所需用途调制。本发明还涉及一种装置，用于产生选择的粒子的脉冲（46）（6），由激光的装置（5）（2）的弯曲的电介质结构中产生的瞬态电磁场（4”，4”，4" '）通过偏转和脉冲持续时间（6“），其限定膜片（7）的装置被选中。本发明还涉及通过激光（5,25）的另一装置（22），一瞬态电磁场（23）生成，调制预期用途选择的粒子（6）的脉冲（46）。

4. 发明授权

EP3768885B1 STRICKBEKLEIDUNG 有权转让
公开(公告)号：EP3768885B1
公开(公告)日：2022-05-11
申请号：EP19709656.3
申请日：2019-03-01
发明人： OBREZKINA, Anna
IPC分类号： D04B1/24

5. 发明公开

EP3792612A1 VORRICHTUNG ZUR VERARBEITUNG UND INFILTRIERUNG HISTOLOGISCHER UND BIOLOGISCHER PROBEN 有权
公开(公告)号：EP3792612A1
公开(公告)日：2021-03-17
申请号：EP18918312.2
申请日：2018-05-07
申请人： Tjan, Eleonora Iljinichna
发明人： Tjan, Eleonora Iljinichna
IPC分类号： G01N1/28 , B01F9/10 , B05C3/02
摘要： Eine Vorrichtung umfasst eine im Gehäuse eingeschlossene Drehvorrichtung, deren Drehachse horizontal angeordnet ist. Behälter für Probenkassetten sind auf der Drehachse befestigt und in Form eines vertikal angeordneten Rings verbunden. Die Vorrichtung hat Mittel, um die Drehachse mit verschiedenen Geschwindigkeiten zu drehen, und Gefäße mit Verarbeitungs- und Imprägnierflüssigkeiten, die außerhalb des Gehäuses angeordnet sind und mit diesem über Rohrleitungen für die Zufuhr und Ableitung dieser Flüssigkeiten verbunden sind.
Die Vorrichtung weist zusätzlich einen Mechanismus auf zur Ausrichtung der Behälter für die Probenkassetten auf, wobei der Mechanismus zwischen dem Behälterring und der Gehäusewand angeordnet ist und separate Mittel aufweist, um die Behälter für die Probenkassetten in horizontale oder geneigte Position zu verbringen.
Der Mechanismus zur Ausrichtung der Container kann in Form eines Zahnradgetriebe mit Zwischenritzeln, die mit einem zentralen Ritzel und Außenritzeln in Eingriff stehen oder in Form eines Planetengetriebe oder in Form eines Parallelogramm-Mechanismus ausgebildet sein.

7. 发明授权

EP2068344B1 Teilchenoptischer Korrektor für axialen und ausseraxialen Strahlengang 有权
标题翻译：用于轴向和轴外光路的粒子光学校正器
公开(公告)号：EP2068344B1
公开(公告)日：2015-10-21
申请号：EP08020365.6
申请日：2008-11-22
申请人： Ceos Corrected Electron Optical Systems GmbH
发明人： Zach, Joachim, Dr. , Rose, Harald, Prof., Dr.
IPC分类号： H01J37/153 , H01J37/26
CPC分类号： H01J37/153 , H01J37/26 , H01J2237/1534

8. 发明公开

EP4057487A1 ELEKTRISCHER TAUCHPUMPENMOTOR UND FÖRDERVORRICHTUNG, INSBESONDERE FÜR DIE GEOTHERMIE 审中-公开
公开(公告)号：EP4057487A1
公开(公告)日：2022-09-14
申请号：EP22154957.9
申请日：2022-02-03
申请人： Oil Dynamics GmbH
发明人： Limanowka, Andy
IPC分类号： H02K16/00 , H02K5/132 , H02K16/04 , H02K11/33 , H02K3/28
摘要： Die Erfindung betrifft einen elektrischen Tauchpumpenmotor (1), der zur Anordnung in einem Bohrloch (2) einer Tiefbohrung durch einen entsprechend geringen Durchmesser geeignet ist, aber zur Erzeugung einer ausreichenden Förderkapazität eine entsprechend große Länge für die jeweils erforderliche Leistung aufweist, in einer Bauart, die keine Stromzufuhr zum Rotor (3) erfordert.
Bei einem solchen ist eine Leistungssteigerung dadurch erzielbar, daß einem Rotor (3) mindestens zwei Statoren (4, 4', ... 4 n ) zugeordnet sind, welche mit separaten Stromzufuhren (5, 5', ... 5 n ) ausgestattet sind, wobei die Stromzufuhren (5, 5', ... 5 n ) von einer Stromquelle (6) an der Erdoberfläche (7) mit gleichem Strom und gleicher Spannung erfolgen.

9. 发明公开

EP3780064A1 TEILCHENOPTISCHER KORREKTOR FREI VON AXIALEN FEHLERN SECHSTER ORDNUNG UND ELEKTRONENMIKROSKOP MIT KORREKTOR 有权
公开(公告)号：EP3780064A1
公开(公告)日：2021-02-17
申请号：EP20186011.1
申请日：2020-07-15
申请人： Ceos Corrected Electron Optical Systems GmbH
发明人： Uhlemann, Dr., Stephan
IPC分类号： H01J37/153
摘要： Die Erfindung betrifft einen teilchenoptischen Korrektor (5) zum Korrigieren von Abbildungsfehlern, wobei der Korrektor (5) ein zentrales Multipolelement (2) der Länge L zur Erzeugung eines Hexapolfeldes ( Ψ HP2 ) in der Symmetrieebene (6) des Korrektors (5) sowie zwei äußere identische Multipolelemente (1, 3) der Länge L 'zur Erzeugung gleich starker Hexapolfelder (ψ HP1 , ψ HP3 ) und zwei Rundlinsendupletts (7 und 8) mit Rundlinsen (7', 7", 8', 8") aufweist.
Bei einem derartigen Korrektor wird der Dreilappfehler sechster Ordnung (D 6 ) dadurch vermieden, daß die Stärke des zentralen Hexapolfeldes ( Ψ HP2 ) zu den Stärken der beiden gleich starken äußeren Hexapolfelder ( Ψ HP1,3 ) derart gewählt ist, daß der dreizählige axiale Astigmatismus (A 2 ) verschwindet und die Stärken ( Ψ HP1,3 ) letzterer so gewählt sind, daß der Korrektor (5) insgesamt keinen sechszähligen axialen Astigmatismus (A 5 ) hat, daß der Abstand der Multipolelemente (1 und 3) von den der Symmetrieebene (6) weiter entfernten Rundlinsen (7", 8"), deren Brennweite ( f ') zuzüglich eines weiteren Abstands ( Δz ) entspricht, der so gewählt ist, daß für die gegebenen Längen L und L' der axiale Dreilappfehler vierter Ordnung (D 4 ) verschwindet, und daß die Länge ( L ) des zentralen Multipolelements (2) im Verhältnis zu den Längen ( L ') der Multipolelemente (1 und 3) derart gewählt ist, daß der axiale Dreilappfehler sechster Ordnung (D 6 ) - für das vorgegebene Verhältnis (M = f / f' ) der Brennweite ( f ') der zur Symmetrieebene (6) näheren Rundlinsen (7', 8') zu der Brennweite ( f ') der zur Symmetrieebene (6) weiter entfernten Rundlinsen (7", 8") - verschwindet.

10. 发明公开

EP2466613A3 Korrektor 有权
标题翻译：校对
公开(公告)号：EP2466613A3
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：EP11009523.9
申请日：2011-12-02
申请人： Ceos Corrected Electron Optical Systems GmbH
发明人： Zach, Joachim, Dr. , Uhlemann, Stephan, Dr.
IPC分类号： H01J37/153 , H01J37/28
CPC分类号： H01J37/153 , H01J2237/1534 , H01J2237/28 , H01J2237/2802
摘要： Die Erfindung betrifft einen Korrektor (10) für die Farb- und Öffnungsfehlerkorrektur bei einem Elektronenmikroskop mit im Strahlengang (7) nacheinander symmetrisch zu einer Symmetrieebene (8) angeordneten sechs Multipolelementen (1, 2, 3, 4, 5, 6), von denen alle zur Erzeugung von Quadrupolfeldern (1', 2', 3', 4', 5', 6') und das dritte (3) und vierte (4) auch zur Erzeugung von Oktupolfeldern (3", 4") dienen, wobei letztere gleichgerichtet und die Quadrupolfelder (1', 2', 3', 4', 5', 6') aller sechs Multipolelemente (1, 2, 3, 4, 5, 6) von einem zum nächsten um 90° gedreht und bezüglich Ihrer Feldstärken punktsymmetrisch zum Schnittpunkt der optischen Achse (11) mit der Symmetrieebene (8) sind, wobei durch das Zusammenwirken der als magnetische und elektrische Felder (3', 4') ausgebildeten Quadrupolfelder (3', 4') des dritten (3) und vierten (4) Multipolelements eine Farbfehlerkorrektur sowie mittels der Quadrupolfelder (1', 2', 3', 4', 5', 6') und der Oktupolfelder (3", 4") eine Öffnungsfehlerkorrektur möglich ist.
Ein solcher Korrektor (10) wird erfindungsgemäß dadurch gegenüber Schwankungen der elektrischen Energieversorgung unempfindlicher, daß im Quadrupolfeld (1') des ersten Quadrupolelements (1) ein stigmatisches Zwischenbild (9) der axialen Fundamentalbahnen (x α , y β ) entsteht und dieses Quadrupolfeld (1') derart eingestellt ist, daß astigmatische Zwischenbilder (12, 13) der außeraxialen Fundamentalbahnen (x γ , y δ ) im Bereich der Mitte der Quadrupolfelder (3', 4') des dritten (3) und vierten Multipolelements (4) entstehen und dort auch durch die Einstellung des Quadrupolfeldes (2') des zweiten Quadrupolelements (2) die axialen Fundamentalbahnen (x α , y β ) des gleichen Schnitts (x, y), in dem die Zwischenbilder (12, 13) der außeraxialen Fundamentalbahnen (x γ , y δ ) liegen, jeweils ein Maximum aufweisen.

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