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1. 发明专利

JP5655137B2 ＣＭＯＳ画像センサーの露光方法有权
标题翻译： CMOS图像传感器的曝光方法
公开(公告)号：JP5655137B2
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：JP2013512719
申请日：2010-06-04
申请人：深▲せん▼泰山在線科技有限公司Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd. , 深▲せん▼泰山在線科技有限公司Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd.
发明人：師丹▲い▼ , 周▲こん▼ , 迪 ▲うー▼ , 迪 ▲うー▼
IPC分类号： H04N5/353 , H04N5/341 , H04N5/345 , H04N5/374
CPC分类号： H04N5/341 , H01L27/14612 , H04N5/2353 , H04N5/2354 , H04N5/353

2. 发明专利

JP5567738B2 Structured light measurement method and system 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP5567738B2
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：JP2013509420
申请日：2010-05-07
申请人：深▲せん▼泰山在線科技有限公司Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd.
发明人：丹▲い▼ 師 , 迪呉 , 文闖趙 , ▲き▼ 謝
IPC分类号： G01B11/245 , G01B11/25
CPC分类号： G01B11/2545 , G06T7/521 , G06T2207/10012

3. 发明专利

JP2013525821A Structured light measurement method and system 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2013525821A
公开(公告)日：2013-06-20
申请号：JP2013509420
申请日：2010-05-07
申请人：深▲せん▼泰山在線科技有限公司Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd.
发明人：丹▲い▼ 師 , 迪呉 , 文闖趙 , ▲き▼ 謝
IPC分类号： G01B11/245 , G01B11/25
CPC分类号： G01B11/2545 , G06T7/521 , G06T2207/10012
摘要：【課題】本発明は従来技術の前記構造化光測定システムの測定精度が低い欠陥に対して、構造化光測定方法及び該方法を応用した構造化光測定システムに関する。
【解決手段】レーザーポイントの第一のカメラ（２１）における結像位置を利用して標定データベースの第一対応関係に従ってレーザーポイントの番号及び低精度深度を得、候補マッチングポイントを取得するように前記レーザーポイントの番号及び低精度深度によって前記レーザーポイントの第二のカメラ（２２）における結像位置を検索し、前記第一のカメラ（２１）の結像位置及び前記第一のカメラ（２１）の結像位置の前記第二のカメラ（２２）における候補マッチングポイントによってマッチングを完成し、マッチング結果を得るマッチング過程と、マッチング結果により前記第一のカメラ（２１）の結像位置とマッチングする前記第二のカメラ（２２）の結像位置を得、さらに前記標定データベースにおける第二対応関係に従って前記レーザーポイントの高精度位置を確定する計算過程とを含む構造化光測定方法である。前記測定方法を応用した構造化光測定システムである。
【選択図】図１
摘要翻译：一种结构光测量方法，包括：匹配处理，其中通过根据第一对应关系在第一相机（21）上使用激光点的成像位置来实现激光点的数量和低精度深度在校准数据库中，根据激光点的数量和低精度深度搜索激光点在第二相机（22）上的成像位置，以获得候选匹配点，则匹配处理为根据第一相机（21）的成像位置和第二相机（22）上的第一相机（21）的成像位置的候选匹配点完成，从而实现匹配结果; 以及计算处理，其中根据匹配结果实现与第一相机（21）的成像位置匹配的第二相机（22）的成像位置，然后由第二相位确定激光点的精确位置校准数据库中的对应关系。结构光测量系统利用上述测量方法。

4. 发明专利

JP2013531420A Cmos image sensor and the timing control method and exposure method 有权
公开(公告)号：JP2013531420A
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：JP2013512719
申请日：2010-06-04
申请人：深▲せん▼泰山在線科技有限公司Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd.
发明人：師丹▲い▼ , 周▲こん▼ , 迪 ▲うー▼
IPC分类号： H04N5/353 , H04N5/341 , H04N5/345 , H04N5/374
CPC分类号： H04N5/341 , H01L27/14612 , H04N5/2353 , H04N5/2354 , H04N5/353
摘要： The prevent invention discloses a CMOS image sensor, the timing control method and exposure method thereof. The CMOS image sensor includes a pixel array composed of a plurality of pixel lines and a control chip for controlling the pixel array. The control chip controls the pixel lines to expose in the exposure time during one exposure period of each pixel line, and then wait predetermined time after exposure time to output data. In the prevent invention, the exposure time of the CMOS image sensor is separated from the time of outputting data. Therefore, the working mode of the CMOS image sensor can be controlled more flexibly. Furthermore, by adopting the exposure method of controlling the pixel lines in the sub-array of the CMOS image sensor to expose synchronously provided by the present invention, the flash time of the light source is the same as the exposure time of each single sub-array, thereby improving the utilization efficiency of the light source power and ensuring real-time image sampling.

5. 发明专利

AU2010354500B2 CMOS image sensor, timing control method and exposure method thereof 未知
公开(公告)号：AU2010354500B2
公开(公告)日：2014-07-03
申请号：AU2010354500
申请日：2010-06-04
申请人： SHENZHEN TAISHAN ONLINE TECHNOLOGY CO LTD
发明人： SHI DANWEI , ZHOU KUN , WU DI
IPC分类号： H04N5/225 , H04N5/335
摘要： The prevent invention discloses a CMOS image sensor, the timing control method and exposure method thereof. The CMOS image sensor includes a pixel array composed of a plurality of pixel lines and a control chip for controlling the pixel array. The control chip controls the pixel lines to expose in the exposure time during one exposure period of each pixel line, and then wait predetermined time after exposure time to output data. In the prevent invention, the exposure time of the CMOS image sensor is separated from the time of outputting data. Therefore, the working mode of the CMOS image sensor can be controlled more flexibly. Furthermore, by adopting the exposure method of controlling the pixel lines in the sub-array of the CMOS image sensor to expose synchronously provided by the present invention, the flash time of the light source is the same as the exposure time of each single sub-array, thereby improving the utilization efficiency of the light source power and ensuring real-time image sampling.

6. 发明公开

EP2568253A1 STRUCTURED-LIGHT MEASURING METHOD AND SYSTEM 有权
标题翻译： VERFAHREN UND SYSTEM ZUR MESSUNG VON STRUKTURIERTEM LICHT
公开(公告)号：EP2568253A1
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：EP10850965.4
申请日：2010-05-07
申请人： Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd.
发明人： SHI, Danwei , WU, Di , ZHAO, Wenchuang , XIE,Qi
IPC分类号： G01B11/25 , G06T7/00
CPC分类号： G01B11/2545 , G06T7/521 , G06T2207/10012
摘要： A structured-light measuring method, includes: matching process, in which the number and the low-precision depth of a laser point are achieved by using the imaging position of the laser point on a first camera (21) according to a first corresponding relationship in a calibration database, and the imaging position of the laser point on a second camera (22) is searched according to the number and the low-precision depth of the laser point so as to acquire the candidate matching points, then the matching process is completed according to the imaging position of the first camera (21) and the candidate matching points of the imaging position of the first camera (21) on the second camera (22) so that a matching result is achieved; and computing process, in which the imaging position of the second camera (22) matching with the imaging position of the first camera (21) is achieved according to the matching result, and then the precision position of the laser point is determined by a second corresponding relationship in the calibration database. A structured-light measuring system utilizes the above measuring method.
摘要翻译：一种结构光测量方法，包括：匹配处理，其中通过根据第一对应关系在第一相机（21）上使用激光点的成像位置来实现激光点的数量和低精度深度在校准数据库中，根据激光点的数量和低精度深度搜索激光点在第二相机（22）上的成像位置，以获得候选匹配点，则匹配处理为根据第一相机（21）的成像位置和第二相机（22）上的第一相机（21）的成像位置的候选匹配点完成，从而实现匹配结果; 以及计算处理，其中根据匹配结果实现与第一相机（21）的成像位置匹配的第二相机（22）的成像位置，然后由第二相位确定激光点的精确位置校准数据库中的对应关系。结构光测量系统利用上述测量方法。

7. 发明授权

EP2568253B1 STRUCTURED-LIGHT MEASURING METHOD AND SYSTEM 有权
公开(公告)号：EP2568253B1
公开(公告)日：2021-03-10
申请号：EP10850965.4
申请日：2010-05-07
发明人： SHI, Danwei , WU, Di , ZHAO, Wenchuang , XIE,Qi
IPC分类号： G01B11/25 , G06T7/00

8. 发明授权

EP2352112B1 REMOTE CONTROL SYSTEM FOR ELECTRONIC DEVICE AND REMOTE CONTROL METHOD THEREOF 有权
标题翻译：远程控制系统的电子设备和控制方法
公开(公告)号：EP2352112B1
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：EP09818763.6
申请日：2009-09-10
申请人： Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd.
发明人： CHENG, Jun , ZHAO, Wenchuang , ZHOU, Kun , SHI, Danwei , LV, Shunzhi
IPC分类号： H04N21/422 , H04N5/44 , G06F3/03 , G06F3/01
CPC分类号： G06F3/0325 , G06F3/017 , H04N5/4403 , H04N21/42222

9. 发明授权

EP2450851B1 TARGET DETECTION METHOD AND APPARATUS AND IMAGE ACQUISITION DEVICE 有权
公开(公告)号：EP2450851B1
公开(公告)日：2019-05-08
申请号：EP10793520.7
申请日：2010-03-05
申请人： Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd.
发明人： SHI, Danwei , ZHOU, Kun
IPC分类号： G06T7/11 , G06T7/174 , G06T7/194

10. 发明公开

EP2579567A1 CMOS IMAGE SENSOR, TIMING CONTROL METHOD AND EXPOSURE METHOD THEREOF 审中-公开
标题翻译： CMOS-BILDSENSOR，ZEITSTEUERUNGSVERFAHREN UND BELICHTUNGSVERFAHRENDAFÜR
公开(公告)号：EP2579567A1
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：EP10852372.1
申请日：2010-06-04
申请人： Shenzhen Taishan Online Technology Co., Ltd.
发明人： SHI, Danwei , ZHOU, Kun , WU, Di
IPC分类号： H04N5/225 , H04N5/335
CPC分类号： H04N5/341 , H01L27/14612 , H04N5/2353 , H04N5/2354 , H04N5/353
摘要： The prevent invention discloses a CMOS image sensor, the timing control method and exposure method thereof. The CMOS image sensor includes a pixel array composed of a plurality of pixel lines and a control chip for controlling the pixel array. The control chip controls the pixel lines to expose in the exposure time during one exposure period of each pixel line, and then wait predetermined time after exposure time to output data. In the prevent invention, the exposure time of the CMOS image sensor is separated from the time of outputting data. Therefore, the working mode of the CMOS image sensor can be controlled more flexibly. Furthermore, by adopting the exposure method of controlling the pixel lines in the sub-array of the CMOS image sensor to expose synchronously provided by the present invention, the flash time of the light source is the same as the exposure time of each single sub-array, thereby improving the utilization efficiency of the light source power and ensuring real-time image sampling.
摘要翻译：本发明公开了一种CMOS图像传感器，其定时控制方法及其曝光方法。 CMOS图像传感器包括由多个像素线组成的像素阵列和用于控制像素阵列的控制芯片。控制芯片控制像素线在每个像素线的一个曝光期间的曝光时间内曝光，然后等待曝光时间之后的预定时间输出数据。在本发明中，CMOS图像传感器的曝光时间与输出数据的时间分离。因此，可以更灵活地控制CMOS图像传感器的工作模式。此外，通过采用控制CMOS图像传感器的子阵列中的像素线的曝光方法以由本发明提供的同步曝光，光源的闪光时间与每个单个子像素的曝光时间相同，从而提高光源功率的利用效率，保证实时图像采样。

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