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71. 发明公开

KR1020060021040A 도금장치의 리드프레임 공급부 无效
标题翻译： LEADFRAME装载装置的装置
公开(公告)号：KR1020060021040A
公开(公告)日：2006-03-07
申请号：KR1020040069846
申请日：2004-09-02
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 한상훈 , 이도우 , 이병천 , 엄태석 , 박경수
IPC分类号： H01L21/60
CPC分类号： H01L23/495 , H01L21/67144
摘要： 본 발명은 리드프레임 도금장치 내에 리드프레임을 공급하는 리드프레임 공급부(Leadframe loading assembly)에 관한 것으로서, 리드프레임을 상방향으로 상승시키는 리프트와, 그 리드프레임을 좌우방향으로 밀어주는 얼라이너(aligner)와, 그 얼라이너에 의해 밀려 이동되는 리드프레임의 측단부(側端部)와 접촉하는 고정블록 및 그 고정블록을 지지·고정하는 지지 플레이트(支持 plate)를 포함하는 백 플레이트(back plate)와, 그 백 플레이트에 의해 정렬된 상기 리드프레임을 들어올려 이동시키는 그리퍼(gripper)와, 이러한 그리퍼에 의해 부착되어진 리드프레임을 이송하는 이송벨트를 포함한다.
이에 따라, 리드프레임과의 접촉에 의한 고정블록 마모시 백 플레이트 전체를 교체할 필요없이 백 플레이트중 고정블록만 교체하면 되므로 종래에 비해 교체가 간편하고 신속해지며 제조단가가 감소된다.
리드프레임, 도금, 공급, 로딩, 백플레이트, 정렬, 블록

72. 发明公开

KR1020050029762A ＣＢＥＤ를 이용한 재료의 구조 분석 방법 无效
标题翻译：使用CBED的材料结构分析方法
公开(公告)号：KR1020050029762A
公开(公告)日：2005-03-28
申请号：KR1020030065531
申请日：2003-09-22
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 김미영 , 박경수 , 문영수
IPC分类号： G01N21/00
CPC分类号： G01N23/04
摘要： A method for analyzing a structure of a material using a CBED of a TEM is provided to obtain a disc type diffraction pattern by focusing electronic beam on a part of a sample. A structure analyzing method includes a step of detecting a test HOLZ line from a diffraction pattern. Then, a theoretical HOLZ line is detected by varying a TEM test condition and a structure constant value of a material based on the detected test HOLZ line. Then, the theoretical HOLZ line is compared with the detected test HOLZ, thereby determining the structure constant value of the material. In order to detect the test HOLZ line, an image of a diffraction pattern is pre-treated, the test HOLZ line is detected from the image, and the test HOLZ line is corrected.
摘要翻译：提供了使用TEM的CBED分析材料的结构的方法，以通过将电子束聚焦在样品的一部分上来获得盘型衍射图案。一种结构分析方法包括从衍射图案检测测试HOLZ线的步骤。然后，通过根据检测的测试HOLZ线改变TEM测试条件和材料的结构常数值来检测理论HOLZ线。然后，将理论HOLZ线与检测到的测试HOLZ进行比较，从而确定材料的结构常数值。为了检测HOLZ线，对衍射图案进行了预处理，从图像中检测到HOLZ线，校正了HOLZ线。

73. 发明授权

KR100455386B1 다수의 반도체 소자를 동시에 성형하는 성형 장비 失效
标题翻译： 다수의반도체자를동시에성형하는성형장장
公开(公告)号：KR100455386B1
公开(公告)日：2004-11-06
申请号：KR1020020025135
申请日：2002-05-07
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 이성수 , 이대성 , 박경수
IPC分类号： H01L21/56
CPC分类号： B29C45/02 , B29C45/021 , B29C45/14655 , B29C45/768 , B29C2945/76006 , B29C2945/76163 , B29C2945/76943 , H01L2224/45144 , H01L2224/48091 , Y10S425/228 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
摘要： Provided is a molding apparatus for molding simultaneously a plurality of semiconductor devices. The molding apparatus includes a mold, a plurality of plungers, and a plunger block. The mold is prepared to mold a plurality of semiconductor devices. The plurality of plungers are plunged into the mold to inject a molding compound that will encapsulate the semiconductor devices in the mold. The plurality of plungers are assembled with the plunge block to operate at the same time. Each of the plurality of plungers includes a load sensor and/or a contact sensor, so as to sense separately whether the plungers are improperly operating.
摘要翻译：提供了用于同时模制多个半导体器件的模制设备。成型设备包括模具，多个柱塞和柱塞块。模具准备成型多个半导体器件。将多个柱塞插入模具中以注入将封装半导体器件在模具中的模塑料。多个柱塞与插入块组装在一起以便同时操作。多个柱塞中的每一个柱塞都包括载荷传感器和/或接触传感器，以分别感测柱塞是否不正确地操作。

74. 发明公开

KR1020030079746A 몰딩 테블릿 공급 장치의 테블릿 감지 시스템 失效
标题翻译：模板供应装置的片材检测系统
公开(公告)号：KR1020030079746A
公开(公告)日：2003-10-10
申请号：KR1020030020541
申请日：2003-04-01
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 조경래 , 박경수 , 최주환
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： B29C45/768 , B29C45/02 , B29C45/462 , B29C2945/761 , B29C2945/76167 , B29C2945/76331 , B29C2945/76832 , Y10S53/90
摘要： PURPOSE: A tablet detecting system of a molding tablet supply apparatus is provided to be capable of accurately detecting the size of a tablet and reducing the possibility of malfunction by using a mechanical contact method. CONSTITUTION: A tablet detecting system(100) is provided with a push bar(110) inserted in a storage hole and raised as much as the size of a tablet(12) stored in the storage hole, a contact part(112) made of conductive material, formed at the upper portion of the push bar, an insulating plate(120) installed at the upper portion of the contact part, a conductive pad(130) made of conductive material, formed at the lower portion of the insulating plate, and a controller(140) electrically connected to the conductive pad. At this time, the contact part is mechanically connected to the conductive pad by the tablet having a predetermined size.
摘要翻译：目的：提供一种成型药片供给装置的片剂检测系统，能够通过机械接触方法精确地检测药片的尺寸并降低发生故障的可能性。构成：片剂检测系统（100）设置有插入存储孔中的推杆（110），并且与存储在存储孔中的片剂（12）的尺寸一样升高;接触部分（112）由导电材料，形成在推杆的上部，安装在接触部分的上部的绝缘板（120），形成在绝缘板的下部的由导电材料制成的导电垫（130）以及电连接到所述导电焊盘的控制器（140）。此时，接触部分通过具有预定尺寸的片剂机械连接到导电垫。

75. 发明公开

KR1019990070782A 상변화형광기록매체의기록방법 失效
公开(公告)号：KR1019990070782A
公开(公告)日：1999-09-15
申请号：KR1019980005818
申请日：1998-02-24
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 박경수 , 김재영
IPC分类号： G11B7/26
摘要： 상변화형 광기록매체의 기록방법이 개시된다. 조사된 광에 의한 가열에 의해 그 상이 변화될 수 있는 소재로 형성된 상변화 기록층을 갖는 상변화형 광기록매체에 대해 상기 상변화 기록층을 이루는 소재의 융점 보다 낮은 가열온도에 해당하는 광조사에 의한 가열에 의해 고상에서 비정질상태로 상변화 기록층의 상을 변화시키는 단계와, 비정질상으로 상변화된 상변화 기록층이 비정질상으로 굳어지도록 자연냉각과 같이 냉각시키는 단계를 포함한다. 이러한 상변화형 광기록매체의 기록방법에 의하면 융점 이하의 낮은 가열온도에 대응하여 그 기록 레이저의 파워가 감소되어 기록에 필요한 전력이 절감되고, 고상에서 액상을 거쳐 급냉에 의한 비정질상으로의 급격한 변화과정을 거치지 않음으로서, 소재의 열화가 둔화되어 그 기록특성변화가 반복기록에 대해 심하지 않아 수명연장에 따른 신뢰성이 확보된다.

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