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    • 62. 发明申请
    • DIFFERENTIELLE DETEKTIONSEINHEIT FÜR DEN ZIGBEE IEEE 802.15.4 STANDARD
    • 差分检测部,ZIGBEE IEEE 802.15.4标准
    • WO2006131244A1
    • 2006-12-14
    • PCT/EP2006/005175
    • 2006-05-31
    • ATMEL GERMANY GMBHPOEGEL, FrankSACHSE, EricSCHMIDT, Michael
    • POEGEL, FrankSACHSE, EricSCHMIDT, Michael
    • H04L27/233H04B1/707
    • H04B1/707
    • Die Erfindung betrifft ein verfahren zur Detektion von in einem empfangenen Funksignal enthaltenen Datensymbolen, wobei sendeseitig jedem Datensymbol eine symbolwertspezifische Pl\l-Sequenz aus im Chiptakt aufeinanderfolgenden PN-Chips zugewiesen wird und die den Datensymbolen zugewiesenen PN- Sequenzen Offset-QPSK-moduliert werden. Das erfindungsgemäße verfahren zur inkohärenten Detektion sieht vor, das empfangene Funksignal in ein im Chiptakt abgetastetes komplexes Basisbandsignal zu überführen, ein demodulierten Signal durch differentielles Demodulieren des im Chiptakt abgetasteten komplexen Basisbandsignals zu generieren, abgeleitete Sequenzen bereitzustellen, Korrelationsergebnisse durch Korrelieren des demodulierten Signals mit den abgeleiteten Sequenzen zu berechnen, und die werte der Datensymbole durch Auswerten der Korrelationsergebnisse abzuleiten, d.h. zu detektieren. Hierbei ist jede abgeleitete Sequenz einer sendeseitig zuweisbaren PIM-Sequenz zugeordnet und besteht aus abgeleiteten Chips, deren Werte jeweils einer logischen Verknüpfung von jeweiligen PN-Chips derjenigen sendeseitig zuweisbaren PN- Sequenz entsprechen, der die abgeleitete Sequenz zugeordnet ist. Die Erfindung betrifft weiterhin eine entsprechende Empfangseinheit.
    • 本发明涉及一种用于检测包含在接收的无线电信号的数据符号的数据的方法,在发送侧的每个数据符号从芯片时钟连续PN码片和PN序列偏移QPSK调制分配的数据符号分配一个符号特定值-PL \升序列。 对于非相干检测本发明的方法提供了通过差分解调在芯片时钟复基带信号,以提供衍生的序列,通过将解调信号与相关来源的相关结果被采样的接收到的无线电信号转换成在芯片时钟复基带信号采样以生成一个解调信号 通过评估相关结果得出的,即,计算的数据符号的序列,并且这些值 检测。 在这种情况下,发送端可分配的PIM序列的每个衍生序列被分配,并且由衍生芯片,这些值的每个对应于所述发射端与所述衍生序列相关联分配PN序列各自的PN码片的一个逻辑组合。 本发明还涉及一种相应的接收单元。
    • 68. 发明申请
    • GLANCING ANGLE MILL
    • 磨光角磨机
    • WO2013039891A1
    • 2013-03-21
    • PCT/US2012/054626
    • 2012-09-11
    • FEI COMPANYSCHMIDT, MichaelBUGGE, Cliff
    • SCHMIDT, MichaelBUGGE, Cliff
    • G01N1/28H01J37/26
    • H01J37/3053G01N1/286G01N2001/2873H01J37/3005H01J2237/31745
    • A method and system for forming a planar cross-section view for an electron microscope. The method comprises directing an ion beam from an ion source toward a first surface of a sample to mill at least a portion of the sample; milling the first surface, using the ion beam, to expose a second surface in which the end of the second surface distal to the ion source is milled to a greater depth relative to a reference depth than the end of the first surface proximal to the ion source; directing an electron beam from an electron source to the second surface; and forming an image of the second surface by detecting the interaction of the electron beam with the second surface. Embodiments also include planarzing the first surface of the sample prior to forming a cross-section.
    • 用于形成电子显微镜的平面横截面图的方法和系统。 该方法包括将来自离子源的离子束引向样品的第一表面以研磨至少一部分样品; 使用离子束铣削第一表面以暴露第二表面,在该第二表面中,远离离子源的第二表面的端部相对于参考深度被研磨至比第一表面的靠近离子的端部更大的深度 资源; 将电子束从电子源引导至第二表面; 以及通过检测电子束与第二表面的相互作用来形成第二表面的图像。 实施例还包括在形成横截面之前对样品的第一表面进行平面化。