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51. 发明公开

CN1131985A 包含主从触发器的电子电路及其测试方法失效
公开(公告)号：CN1131985A
公开(公告)日：1996-09-25
申请号：CN95190769.7
申请日：1995-06-29
申请人：菲利浦电子有限公司
发明人： M·沙迪夫
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G06F11/2236 , G01R31/3004 , G01R31/3008 , G01R31/318541 , G01R31/318577
摘要：一种主部分和从部分通过缓冲器相互连接的触发器。主部分的倒相器位于从输入端到输出端的信号通道之外，同时，所述缓冲器为IDDQ测试和操作使用两者提供所需要的驱动能力。这种结构允许在没有附加于所述触发器的其他电路的情况下进行IDDQ测试，并且，减少了信号通道中的传输延迟。

52. 发明申请

WO2011094103A2 QUIESCENT CURRENT (IDDQ) INDICATION AND TESTING APPARATUS AND METHODS 审中-公开
标题翻译： QUIESCENT CURRENT（IDDQ）指示和测试装置和方法
公开(公告)号：WO2011094103A2
公开(公告)日：2011-08-04
申请号：PCT/US2011/021711
申请日：2011-01-19
申请人： FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC. , JARRIGE, Nicolas, A. , KANDAH, Ibrahim, Shihadeh
发明人： JARRIGE, Nicolas, A. , KANDAH, Ibrahim, Shihadeh
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/3008 , Y10T29/49155
摘要： An embodiment of an electronic device includes a logic circuit (130), a switching element (132), and a quiescent current (IDDQ) evaluation circuit (134). The logic circuit (130) is coupled to a first ground node (154). The switching element (132) is coupled between the first ground node (154) and a second ground node (156). The switching element (132) is configurable in an electrically non-conductive state when the electronic device is in an IDDQ evaluation state (216), and in an electrically conductive state when the electronic device is not in the IDDQ evaluation state (213). When the electronic device is in the IDDQ evaluation state, the IDDQ evaluation circuit (134) is configured to provide (224) a first output signal when an IDDQ indicating voltage across the first and second ground nodes (154, 156) exceeds a reference voltage (220). Other embodiments include methods (FIG. 2) for producing an indication of IDDQ in an electronic device and methods (FIG. 4) for fabricating an electronic device with the capability of producing an IDDQ indication.
摘要翻译：电子设备的实施例包括逻辑电路（130），开关元件（132）和静态电流（IDDQ）评估电路（134）。逻辑电路（130）耦合到第一接地节点（154）。开关元件（132）耦合在第一接地节点（154）和第二接地节点（156）之间。当电子设备处于IDDQ评估状态（216）时，开关元件（132）可配置为非导通状态，并且当电子设备不处于IDDQ评估状态（213）时处于导电状态。当电子设备处于IDDQ评估状态时，IDDQ评估电路（134）被配置为当指示跨越第一和第二接地节点（154,156）的电压的IDDQ超过参考电压（224）时，提供（224）第一输出信号（220）。其他实施例包括用于在电子设备中产生IDDQ的指示的方法（图2）和用于制造具有产生IDDQ指示的能力的电子设备的方法（图4）。

53. 发明申请

WO2008129625A1 リーク電流検出回路、ボディバイアス制御回路、半導体装置及び半導体装置の試験方法审中-公开
标题翻译：泄漏电流检测电路，体位偏置控制电路，半导体器件和半导体器件测试方法
公开(公告)号：WO2008129625A1
公开(公告)日：2008-10-30
申请号：PCT/JP2007/057919
申请日：2007-04-10
申请人：富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 , 藤井磨永 , 小川和樹
发明人：藤井磨永 , 小川和樹
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/30
CPC分类号： G01R31/2621 , G01R31/2884 , G01R31/3008 , G01R31/3012
摘要：　回路規模の増大を抑制しつつも、ＭＯＳトランジスタにおけるリーク電流の検出精度を向上させることのできるリーク電流検出回路（１０）。リーク電流検出回路（１０）は、高電位電源に接続され、常時オフされて第１リーク電流（Ｉｒｐ）を生成する少なくとも１つのＰチャネルＭＯＳトランジスタ（ＱＰ）と、低電位電源と前記少なくとも１つのＰチャネルＭＯＳトランジスタとの間に接続され、常時オフされて第２リーク電流（Ｉｒｎ）を生成する少なくとも１つのＮチャネルＭＯＳトランジスタ（ＱＮ）と、第１及び第２リーク電流に応じて前記少なくとも１つのＰチャネルＭＯＳトランジスタと前記少なくとも１つのＮチャネルＭＯＳトランジスタとの間の接続点（Ｘ）に生成された電位（Ｖｘ）を検出する検出器（２０）と、を備える。
摘要翻译：一种泄漏电流检测器电路（10），其中可以提高在MOS晶体管中检测任何漏电流的精度，同时抑制电路规模的增加。泄漏电流检测器电路（10）包括连接到高电位电源的至少一个P沟道MOS晶体管（QP），并且当关断时总是产生第一漏电流（Irp）; 连接在低电位电源与所述至少一个P沟道MOS晶体管之间的至少一个N沟道MOS晶体管（QN），并且当关断时总是产生第二漏电流（Ir）; 以及检测器（20），其根据所述第一和第二漏电流检测在所述至少一个P沟道MOS晶体管和所述至少一个N沟道MOS晶体管之间的结（X）处产生的电位（Vx）。

54. 发明申请

WO2008069025A1 半導体装置审中-公开
标题翻译：半导体器件
公开(公告)号：WO2008069025A1
公开(公告)日：2008-06-12
申请号：PCT/JP2007/072612
申请日：2007-11-22
申请人：日本電気株式会社 , 水野正之
发明人：水野正之
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/26 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC分类号： G01R31/3004 , G01R31/3008
摘要：　本発明の目的は、微細化ＣＭＯＳデバイスにおいて、正常リーク電流が欠陥による異常リーク電流の検出を困難とするという課題を解消し、ＩＤＤＱテストを可能とする半導体装置の提供すること、である。半導体チップ内の回路が、複数のサブ回路１０１～１０Ｎに分割され、前記サブ回路と電源（ＶＤＤ又はＧＮＤ）間にスイッチ１１１～１１Ｎと、スイッチ１１１～１１Ｎのオン抵抗を可変制御する回路１２を備えている（図１を参照）。
摘要翻译：提供了一种半导体器件，即微型CMOS器件，其解决了由于缺陷难以检测到异常泄漏电流而导致的正常漏电流的问题，并且使IDDQ测试成为可能。半导体芯片中的电路被分成多个子电路（10×1×N×N），并且开关（11＆lt; 1＆gt; -11＆lt; N＆gt;）和用于可变地控制开关（11N-1-N N）的导通电阻的电路（12）被布置在子电路和电源（VDD或GND）（见图1）。

55. 发明申请

WO2005054884A1 INTEGRATED CIRCUIT WITH LEAKAGE CONTROL AND METHOD FOR LEAKAGE CONTROL 审中-公开
标题翻译：具有泄漏控制的集成电路和漏电控制方法
公开(公告)号：WO2005054884A1
公开(公告)日：2005-06-16
申请号：PCT/IB2003/005544
申请日：2003-12-01
申请人： NOKIA CORPORATION , HEMIÄ, Teppo , VÄISÄNEN, Petri , KOLINUMMI, Pasi
发明人： HEMIÄ, Teppo , VÄISÄNEN, Petri , KOLINUMMI, Pasi
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318575 , G01R31/3008 , G01R31/31721 , H03K17/24 , H03K19/0016
摘要： The present invention relates to integrated circuit with reduced leakage power and in particular to a methodology for retaining an operational state of at least a part of the integrated circuit during the part is in standby/low power mode. In detail, the inventive methodology is based on the use of scan chains being implemented in the integrated circuit for production testing purposes. Via the scan chains circuit-internal state-variable memory element contents is read out and/or written in such that operational state of for instance a specific part (power domain) of the integrated circuit may be captured on the basis of the circuit internal contents, retained in an adequately provided data storage and afterwards scanned in the specific part of the integrated circuit to restore the operational state thereof.
摘要翻译：本发明涉及具有降低的泄漏功率的集成电路，特别涉及一种用于在部分处于待机/低功率模式期间保持集成电路的至少一部分的工作状态的方法。详细地，本发明的方法基于在集成电路中实现的用于生产测试目的的扫描链的使用。通过扫描链电路，内部状态变量存储元件内容被读出和/或写入，使得可以基于电路内部内容捕获例如集成电路的特定部分（电源域）的操作状态，保留在充分提供的数据存储器中，然后在集成电路的特定部分中扫描以恢复其操作状态。

56. 发明申请

WO2004025314A1 APARAT UND VERFAHREN ZUR IDDQ-MESSUNG 审中-公开
公开(公告)号：WO2004025314A1
公开(公告)日：2004-03-25
申请号：PCT/IB2003/003513
申请日：2003-08-06
申请人： KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. , VAN HEES, Johannes, L., H.,
发明人： VAN HEES, Johannes, L., H.,
IPC分类号： G01R31/30
CPC分类号： G01R31/3008
摘要： An IDDQ test is applied to an electronic circuit (16). A power supply unit supplies power supply current to the electronic circuit. The output impedance of the power supply unit is adjusted to a value selected for the electronic circuit, the value having been selected so that a resonance circuit (14) that comprises a connection between the power supply unit and the electronic circuit is substantially critically dampened. The current sense element (18) that is used to measure IDDQ current is coupled between an external power supply and a supply input of the power supply unit, so that the current sense element does not affect the output impedance.
摘要翻译： IDDQ测试被应用于电子电路（16）。电源单元向电子电路供应电源电流。电源单元的输出阻抗被调整为为电子电路选择的值，该值已经被选择，使得包括电源单元和电子电路之间的连接的谐振电路（14）被基本上被抑制。用于测量IDDQ电流的电流感测元件（18）耦合在外部电源和电源单元的电源输入之间，使得电流感测元件不影响输出阻抗。

57. 发明申请

WO02058208A3 MICROELECTRONIC TRANSIENT POWER GENERATOR FOR POWER SYSTEM VALIDATION 审中-公开
标题翻译：用于电力系统验证的微电子瞬态发电机
公开(公告)号：WO02058208A3
公开(公告)日：2002-12-12
申请号：PCT/US0201358
申请日：2002-01-18
申请人： PRIMARION INC
发明人： OSTROM KENNETH , NG TIMOTHY , DUONG CLIFFORD
IPC分类号： G01R31/30 , G01R31/319 , G01R31/40
CPC分类号： G01R31/40 , G01R31/3004 , G01R31/3008 , G01R31/31924 , Y10T307/50
摘要： A transiet current generator for testing microelectronic power regulator systems is provided. The current generator includes a current source and one or more transistors to provide current or sink current to a microelectronic power delivery system. The generator may be used to test a microprocessor power delivery system by replacing the microprocessor with one or more of the generators of the present invention.
摘要翻译：提供了一种用于测试微电子功率调节器系统的瞬变电流发生器。电流发生器包括电流源和一个或多个晶体管，以向微电子功率传递系统提供电流或吸收电流。发电机可以用于通过用本发明的一个或多个发电机代替微处理器来测试微处理器功率输送系统。

58. 发明申请

WO02041390A1 DEVICE AND METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE TEST 审中-公开
标题翻译：用于电子设备测试的设备和方法
公开(公告)号：WO02041390A1
公开(公告)日：2002-05-23
申请号：PCT/JP2001/009895
申请日：2001-11-13
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/30 , G01R31/3173 , G01R31/3183 , G01R31/3185 , G01R31/319 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/3008 , G01R31/30 , G01R31/3173 , G01R31/318505 , G01R31/318511 , G01R31/319
摘要： A test device (10) capable of testing, for acceptability, a plurality of electronic devices (42) formed on a same wafer (40), comprising a pattern feed part (12) for feeding test patterns to the plurality of electronic devices (42), a power supply (14) for applying a power supply voltage to the plurality of electronic devices (42), a measurement part (16) for measuring the data showing the operations of the electronic devices (42) produced by the test patterns, a calculation part (18) for calculating the reference values to judge whether the electronic devices (42) are acceptable or not, and a judgment part (20) for judging whether the other electronic devices are acceptable or not based on the measurement data on at least one electronic device among the plurality of electronic devices (42).
摘要翻译：一种能够测试形成在同一晶片上的多个电子设备（42）的测试装置（10），包括用于将测试图案馈送到多个电子设备（42）的图形馈送部分（12）），用于向多个电子设备（42）施加电源电压的电源（14），用于测量表示由测试图形产生的电子设备（42）的操作的数据的测量部分（16）用于计算用于判断电子设备（42）是否可接受的参考值的计算部分（18），以及用于基于在其上的测量数据判断其他电子设备是否可接受的判断部分（20）所述多个电子设备（42）中的至少一个电子设备。

59. 发明申请

WO0029860A2 DYNAMIC REGISTER WITH IDDQ TESTING CAPABILITY 审中-公开
标题翻译：具有IDDQ测试能力的动态寄存器
公开(公告)号：WO0029860A2
公开(公告)日：2000-05-25
申请号：PCT/US9927057
申请日：1999-11-12
申请人： BROADCOM CORP , HATAMIAN MEHDI
发明人： HATAMIAN MEHDI
IPC分类号： G01R31/30 , G01R31/317 , G01R31/3185 , H04B3/23 , H04B3/32 , H04L1/00 , H04L1/24 , H04L7/02 , H04L7/033 , H04L25/03 , H04L25/06 , H04L25/14 , H04L25/49 , H04L25/497 , G01R31/00
CPC分类号： H04L7/0062 , G01R31/3004 , G01R31/3008 , G01R31/3012 , G01R31/3016 , G01R31/31715 , G01R31/318502 , G01R31/318552 , G01R31/318594 , H04B3/23 , H04B3/32 , H04L1/0054 , H04L1/242 , H04L7/0334 , H04L25/03038 , H04L25/03057 , H04L25/03146 , H04L25/03267 , H04L25/067 , H04L25/14 , H04L25/4917 , H04L25/497 , H04L2025/03363 , H04L2025/03369 , H04L2025/03477 , H04L2025/0349 , H04L2025/03496 , H04L2025/03503 , H04L2025/03617 , H04L2025/03745
摘要： The present invention is a method and a system for controlling a voltage at a node in a circuit such that the node is prevented from having an unknown floating voltage during a steady state of a clock signal. The circuit includes a transmission gate which has input and output terminals, and operates in response to a clock signal. The node is located proximal to the output terminal of the transmission gate. The method includes the operations of driving the node with an input signal when the transmission gate is open during a first steady state of the clock signal and pulling the node to a fixed voltage when the transmission gate is closed during a second steady state of the clock signal.
摘要翻译：本发明是一种用于控制电路节点处的电压的方法和系统，使得节点在时钟信号的稳定状态期间被防止具有未知的浮动电压。该电路包括具有输入和输出端的传输门，并响应时钟信号而工作。节点位于传输门的输出端附近。该方法包括在时钟信号的第一稳定状态期间传输门打开时驱动节点的操作，并且在时钟的第二稳定状态期间传输门关闭时将节点拉至固定电压信号。

60. 发明申请

WO00028663A2 EFFICIENT FIR FILTER FOR HIGH-SPEED COMMUNICATION 审中-公开
标题翻译：高效通信的高效FIR滤波器
公开(公告)号：WO00028663A2
公开(公告)日：2000-05-18
申请号：PCT/US1999/026483
申请日：1999-11-09
IPC分类号： G01R31/30 , G01R31/317 , G01R31/3185 , H04B3/23 , H04B3/32 , H04L1/00 , H04L1/24 , H04L7/02 , H04L7/033 , H04L25/03 , H04L25/06 , H04L25/14 , H04L25/49 , H04L25/497 , H03H17/06 , H03H17/02
CPC分类号： H04L7/0062 , G01R31/3004 , G01R31/3008 , G01R31/3016 , G01R31/31715 , G01R31/318502 , G01R31/318552 , G01R31/318594 , H04B3/23 , H04B3/32 , H04L1/0054 , H04L1/242 , H04L7/0334 , H04L25/03038 , H04L25/03057 , H04L25/03146 , H04L25/03267 , H04L25/067 , H04L25/14 , H04L25/4917 , H04L25/497 , H04L2025/03363 , H04L2025/03369 , H04L2025/03477 , H04L2025/0349 , H04L2025/03496 , H04L2025/03503 , H04L2025/03617 , H04L2025/03745
摘要： A digital filter has an input path and an output path and includes a set of delay elements and a number of taps. The taps couple the input path to the output path. Each of the taps has a coefficient, a multiplier and an adder. Each of the delay elements is disposed between two adjacent taps. The delay elements are placed in either the input path and the output path of the digital filter, such that the digital filter has fewer delay elements in the input path than a direct-form digital filter with the same number of taps in a direct-form structure, and has fewer delay elements in the output path than a transposed-form digital filter with the same number of taps in a transposed-form structure; and such that the digital filter has same transfer function as the direct-form digital filter and the transposed-form digital filter.
摘要翻译：数字滤波器具有输入路径和输出路径，并且包括一组延迟元件和多个抽头。抽头将输入路径耦合到输出路径。每个抽头具有系数，乘数和加法器。每个延迟元件设置在两个相邻的抽头之间。延迟元件放置在数字滤波器的输入路径和输出路径中，使得数字滤波器在输入路径中具有比直接形式的数字滤波器更少的延迟元件，其具有相同数量的直接形式的抽头结构，并且在转置形式结构中具有相同数量的抽头的转置形式的数字滤波器在输出路径中具有较少的延迟元件; 并且使得数字滤波器具有与直接形式的数字滤波器和转置形式的数字滤波器相同的传递函数。

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