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    • 24. 发明专利
    • MATRIZ PASIVA NO VOLATIL Y METODO PARA LA LECTURA DE LA MISMA.
    • ES2238053T3
    • 2005-08-16
    • ES01985301
    • 2001-08-24
    • THIN FILM ELECTRONICS ASA
    • THOMPSON MICHAELWOMACK RICHARDGUSTAFSSON GORANCARLSSON JOHAN
    • G11C7/06G11C7/10G11C11/22H01L21/8246H01L27/105G11C5/00
    • Dispositivo (10) que constituye una memoria de matriz pasiva no volátil y comprende un material de memoria dieléctrico eléctricamente polarizable (12) que presenta histéresis, y en particular un material ferroeléctrico, estando dicho material de memoria (12) previsto de forma tal que está intercalado en una capa entre un primer conjunto y un segundo conjunto (14; 15) de respectivos electrodos de direccionamiento paralelos, constituyendo los electrodos del primer conjunto (14) líneas de palabra (WL1, ...m) del dispositivo que constituye una memoria y estando dichos electrodos del primer conjunto previstos de forma tal que guardan una relación prácticamente de ortogonalidad con los electrodos del segundo conjunto (15), constituyendo éstos últimos las líneas de bit (BL1, ...n) del dispositivo que constituye una memoria, estando una celda de memoria (13) con una estructura del tipo de la de un condensador definida en el material de memoria (12) en los cruces entre las líneas de palabra y las líneas de bit, constituyendo las celdas de memoria (13) del dispositivo que constituye una memoria los elementos de una matriz pasiva (11), pudiendo ser cada celda de memoria (13) direccionada selectivamente para una operación de grabación/lectura a través de una línea de palabra (WL) y de una línea de bit (BL), teniendo lugar una operación de grabación en una celda de memoria (13) a base de establecer un deseado estado de polarización en la celda por medio de un voltaje que es aplicado a la celda a través de la respectiva línea de palabra (WL) y de la respectiva línea de bit (BL) que definen la celda, estableciendo dicho voltaje aplicado un determinado estado de polarización en la celda de memoria (13) o siendo dicho voltaje aplicado capaz de conmutar entre los estados de polarización de la misma, y teniendo lugar una operación de lectura a base de aplicar un voltaje mayor que el voltaje coercitivo (Vc) a la celda de memoria (13) y de detectar al menos un parámetro eléctrico de una corrientede salida en las líneas de bit (BL).
    • 27. 发明专利
    • DE60109307T2
    • 2006-04-13
    • DE60109307
    • 2001-08-24
    • THIN FILM ELECTRONICS ASA OSLO
    • THOMPSON MICHAELWOMACK RICHARDGUSTAFSSON GOERANCARLSSON JOHAN
    • G11C5/00G11C7/06G11C7/10G11C11/22H01L21/8246H01L27/105
    • In a non-volatile passive matrix memory device (10) comprising an electrically polarizable dielectric memory material (12) exhibiting hysteresis, first and second sets (14; 15) of addressing electrodes constitute word lines (WL) and bit lines (BL) of the memory device. A memory cell (13) is defined in the memory material (12) at the overlap between a word line (WL) and a bit line (BL). The word lines (WL) are divided into segments (S) with each segments sharing and being defined by adjoining bit lines (BL). Means (25) are provided for connecting each bit line (BL) of a segment (S) with a sensing means (26), thus enabling simultaneous connections of all memory cells (13) of a word line segment (15) for readout via the bit lines (BL) of the segment (S). Each sensing means (26) senses the charge flow in a bit line (BL) in order to determine a stored logical value. In a readout method a word line (WL) of a segment (S) is activated by setting its potential to a switching voltage Vs of the memory cell (13) during at least a portion of a read cycle, while keeping the bit lines (BL) of the segment (S) at zero potential, during which read cycle a logical value stored in the individual memory cells (13) is sensed by the sensing means (26). -Use in a volumetric data storage apparatus.
    • 30. 发明专利
    • DK1316090T3
    • 2005-05-30
    • DK01985301
    • 2001-08-24
    • THIN FILM ELECTRONICS ASA
    • GUSTAFSSON GOERANCARLSSON JOHANTHOMPSON MICHAELWOMACK RICHARD
    • G11C7/06G11C7/10G11C11/22H01L21/8246H01L27/105G11C5/00G11C7/00
    • In a non-volatile passive matrix memory device (10) comprising an electrically polarizable dielectric memory material (12) exhibiting hysteresis, first and second sets (14; 15) of addressing electrodes constitute word lines (WL) and bit lines (BL) of the memory device. A memory cell (13) is defined in the memory material (12) at the overlap between a word line (WL) and a bit line (BL). The word lines (WL) are divided into segments (S) with each segments sharing and being defined by adjoining bit lines (BL). Means (25) are provided for connecting each bit line (BL) of a segment (S) with a sensing means (26), thus enabling simultaneous connections of all memory cells (13) of a word line segment (15) for readout via the bit lines (BL) of the segment (S). Each sensing means (26) senses the charge flow in a bit line (BL) in order to determine a stored logical value. In a readout method a word line (WL) of a segment (S) is activated by setting its potential to a switching voltage Vs of the memory cell (13) during at least a portion of a read cycle, while keeping the bit lines (BL) of the segment (S) at zero potential, during which read cycle a logical value stored in the individual memory cells (13) is sensed by the sensing means (26). -Use in a volumetric data storage apparatus.