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21. 发明授权

US07093213B2 Method for designing an integrated circuit defect monitor 失效
标题翻译：设计集成电路缺陷监视器的方法
公开(公告)号：US07093213B2
公开(公告)日：2006-08-15
申请号：US10710940
申请日：2004-08-13
申请人： John M. Cohn , Leah M. P. Pastel
发明人： John M. Cohn , Leah M. P. Pastel
IPC分类号： G06F17/50 , G01R31/28
CPC分类号： G06F17/505
摘要： A method and system for designing a test structure. The method including: defining and placing test circuit pins in an integrated circuit design; routing one or more fat wires, each fat wire routed between a set of the test circuit pins; processing each fat wire into a continuous wire and one or more corresponding wire segments adjacent to the continuous wire, the continuous wire separated from the one or more corresponding wire segments by a space; and connecting the continuous wire and the one or more wire segments to circuit elements of a defect monitor scan chain, the circuit elements previously inserted into the integrated circuit design.
摘要翻译：一种用于设计测试结构的方法和系统。该方法包括：将集成电路设计中的测试电路引脚定义和放置; 布置一条或多条脂肪线，每条脂肪线在一组测试电路引脚之间布线; 将每个脂肪丝处理成连续的线和与所述连续线相邻的一个或多个对应的线段，所述连续线从所述一个或多个对应的线段与空间分离; 以及将连续线和一个或多个线段连接到缺陷监视器扫描链的电路元件，电路元件先前插入到集成电路设计中。

22. 发明授权

US06998866B1 Circuit and method for monitoring defects 失效
标题翻译：电路和缺陷监测方法
公开(公告)号：US06998866B1
公开(公告)日：2006-02-14
申请号：US10710640
申请日：2004-07-27
申请人： Greg Bazan , John M. Cohn , Matthew S. Grady , Phillip J. Nigh , Leah M. P. Pastel , Thomas G. Sopchak
发明人： Greg Bazan , John M. Cohn , Matthew S. Grady , Phillip J. Nigh , Leah M. P. Pastel , Thomas G. Sopchak
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： H01L22/34 , G01R31/31855 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： A circuit and a method for monitoring defects in an integrated circuit chip. The circuit including a defect monitor portion and a sense element portion, the defect monitor portion either coupled to inputs of sense elements arranged in a chain or coupled between sense elements and forming portions of the chain.
摘要翻译：用于监测集成电路芯片中的缺陷的电路和方法。所述电路包括缺陷监测部分和感测元件部分，所述缺陷监测部分耦合到布置在链中的感测元件的输入或耦合在感测元件和链的形成部分之间。

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