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    • 29. 发明专利
    • Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil und mikromechanisches Bauteil
    • DE102008044270B4
    • 2019-01-24
    • DE102008044270
    • 2008-12-02
    • BOSCH GMBH ROBERT
    • BENZEL HUBERTSCHELLING CHRISTOPH
    • B81C1/00B81B3/00B81B7/02G02B26/08
    • Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil mit den Schritten:Herausätzen eines zwei Federn (64) umfassenden beweglichen Teils (65) und je einer ersten Aufhängefeder (66a) pro Feder (64) und je einer zweiten Aufhängefeder (66b) pro Feder (64) aus einer mikromechanischen Funktionsschicht, wobei jeweils die erste Aufhängefeder (66a) über eine an einem ersten Ende der ersten Aufhängefeder (66a) ausgebildete erste Verankerung (68) mit einem Grundsubstrat (50) und über einen an einem zweiten Ende der ersten Aufhängefeder (66a) ausgebildeten ersten Übergangsbereich (72a) einstückig mit der zugeordneten Feder (64) verbunden wird und jeweils die zweite Aufhängefeder (66b) über eine an einem ersten Ende der zweiten Aufhängefeder (66b) ausgebildete zweite Verankerung (68) mit dem Grundsubstrat (50) und über einen an einem zweiten Ende der zweiten Aufhängefeder (66b) ausgebildeten zweiten Übergangsbereich (72b) einstückig mit der zugeordneten Feder (64) verbunden wird;Aufbringen einer ersten Beschichtung (74a) auf jede der ersten Aufhängefedern (66a) zum Bilden zweier beschichteter erster Aufhängefedern (66a,74a) mit jeweils einer ersten mechanischen Gesamt-Eigenspannung; undAufbringen einer zweiten Beschichtung (74b) auf jede der zweiten Aufhängefedern (66b) zum Bilden zweier beschichteter zweiter Aufhängefedern (66b,74b) mit jeweils einer von der ersten mechanischen Gesamt-Eigenspannung abweichenden zweiten mechanischen Gesamt-Eigenspannung;wobei das bewegliche Teil (65) aufgrund einer Differenz zwischen den ersten mechanischen Gesamt-Eigenspannungen der beschichten ersten Aufhängefedern (66a,74a) und den zweiten mechanischen Gesamt-Eigenspannungen der beschichten zweiten Aufhängefedern (66b,74b) in einem Neigungswinkel (Ω) ungleich 0° und ungleich 180° gegenüber dem Grundsubstrat (50) ausgerichtet wird.
    • 30. 发明专利
    • Verfahren zum Montieren von Halbleiterchips und entsprechende Halbleiterchipanordnung
    • DE102005038752B4
    • 2018-04-19
    • DE102005038752
    • 2005-08-17
    • BOSCH GMBH ROBERT
    • BENZEL HUBERTARMBRUSTER SIMON
    • H01L21/58H01L23/12H01L23/28H01L25/065H05K3/30
    • Verfahren zum Montieren von Halbleiterchips mit den Schritten:Bereitstellen eines Halbleiterchips (5; 5a; 5b) mit einer Oberfläche (O; O'; O"), die entlang einer ersten Richtung (LR) einen Sensorbereich (SB; SB1), einen Montagebereich (MB; MB3) und einen dazwischenliegenden Trennbereich (TB; TB3) aufweist, wobei im Trennbereich (TB; TB3) mindestens ein Trenngraben (65a-e; 65f,g; 65h,i; 65j-n; 65o-t) vorgesehen ist, der nicht parallel zur ersten Richtung (LR) verläuft;Vorsehen eines Substrats (1), welches eine Oberfläche aufweist;Montieren des Montagebereichs (MB) des Halbleiterchips (5; 5a; 5b) in Flip-Chip-Technik auf die Oberfläche des Substrats (1); undUnterfüllen des Montagebereichs (MB; MB3) mit einem Underfill (28), wobei der Trenngraben (65a-e; 65f,g; 65h,i; 65j-n; 65o-t) als Abrissbereich für den Underfill (28) dient, so dass kein Underfill (28) in den Sensorbereich (SB; SB1) gelangt, dadurch gekennzeichnet, dasseine Mehrzahl von Trenngräben (65a-e; 65f,g; 65h,i; 65j-n; 65o-t) im Trennbereich (TB; TB3) versetzt vorgesehen werden, die Durchgänge (D1-D4; D5, D6; D7-D10) in der Oberfläche (O; O'; O") freilassen, durch die eine Leitungseinrichtung (59; 59'; 59") vom Montagebereich (MB; MB3) in den Sensorbereich (SB; SB1) an der Oberfläche (O; O'; O") geführt ist.