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21. 发明申请

WO2010037487A1 VERBESSERTE VERFAHREN UND VORRICHTUNGEN FÜR DIE MIKROSKOPIE MIT STRUKTURIERTER BELEUCHTUNG 审中-公开
标题翻译：对于结构化照明观察改进方法和设备
公开(公告)号：WO2010037487A1
公开(公告)日：2010-04-08
申请号：PCT/EP2009/006818
申请日：2009-09-22
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , KEMPE, Michael , KRAMPERT, Gerhard , KLEPPE, Ingo , WOLLESCHENSKY, Ralf
发明人： KEMPE, Michael , KRAMPERT, Gerhard , KLEPPE, Ingo , WOLLESCHENSKY, Ralf
IPC分类号： G02B21/00 , G01N21/64
CPC分类号： G02B21/0032 , G01N21/6458 , G02B21/0072 , G02B21/0076 , G02B21/008 , G02B21/367 , G02B27/58
摘要： 2.1. Bei der Mikroskopie mit strukturierter Beleuchtung erfordert die mehrfache Aufnahme von Einzelbildern mit verschiedenen Phasenlagen der Strukturierung eine hohe Stabilität der optischen Anordnung und der Probe während der gesamten Messung. Auch muss die Strukturierung mit hoher Homogenität in die Probe abgebildet werden. Bei nichtlinearer Fluoreszenzanregung werden die Probe und deren Farbstoffe durch Bleichen belastet. Daneben hängt die Nichtlinearität außer von den Beleuchtungsbedingungen auch von den lokalen Umgebungsbedingungen in der Probe ab. Das kann zu lokal unterschiedlichen Nichtlinearitäten führen. Diese Effekte verschlechtern die Auflösung. Die Erfindung soll möglichst hohe Auflösungen ermöglichen. 2.2. Es wird die Einzelbildaufnahme optimiert, um im Ergebnisbild eine bestmögliche Auflösung auch bei problematischen Proben zu erreichen. Eine solche Optimierung kann auf unterschiedlichen Wegen erfolgen, beispielsweise durch Ermitteln einer optimalen Einstellung für mindestens einen Beleuchtungs- oder Aufnahmeparameter oder durch gepulste Beleuchtung derart, dass eine Anregung aus einem Triplettzustand des Fluoreszenzfarbstoffs in einen höheren Triplettzustand verringert wird, oder durch Beleuchtung der Probe mit Unterdrückungslicht zum Entvölkern eines Triplettzustands des Fluoreszenzfarbstoffs, was Bleichen vermeidet. 2.3. Hochauflösende Fluoreszenzmikroskopie
摘要翻译： 2.1。在具有与图案化的不同的相位位置的各个图像的结构照明多个记录显微镜，光学装置的高稳定性和整个测量样品需要。具有高均匀性的结构具有被映射到样品。与荧光的非线性激发样品，并且染料被漂白的负担。此外，非线性不仅取决于照明条件，并从样品中当地的环境条件。这可能会导致局部不同的非线性。这些影响降低分辨率。本发明是提供可能的最高分辨率。 2.2。这是优化的静态图像拍摄得到的图像中，以实现甚至难以样本中的最佳分辨率。这样的优化可以以不同的方式来完成，例如，通过确定至少一个照明或曝光参数或由脉冲照明，使得所述荧光染料的三重态的激发较高三重态被减小最佳设置，或通过利用光的抑制照亮样品为荧光染料，这避免了褪色的三重态的灭绝。 2.3。高分辨率荧光显微镜

22. 发明申请

WO2010037483A2 MICROSCOPE HAVING AN ADJUSTMENT DEVICE FOR THE FOCUS RANGE 审中-公开
标题翻译：显微镜与焦点面积调整装置
公开(公告)号：WO2010037483A2
公开(公告)日：2010-04-08
申请号：PCT/EP2009006814
申请日：2009-09-22
申请人： ZEISS CARL MICROIMAGING GMBH , WOLLESCHENSKY RALF , KEMPE MICHAEL , POWER CHRISTOPHER
发明人： WOLLESCHENSKY RALF , KEMPE MICHAEL , POWER CHRISTOPHER
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/24
CPC分类号： G02B21/006 , G02B21/0068 , G02B21/241 , G02B2207/114
摘要： The invention relates to a microscope having an adjustment device for the focus range, comprising a first objective for transferring the object light of an illuminated object in the direction of a detector, wherein a second objective is provided in the light direction, in front of the detector, a first mirror that is adjustable in the direction of the optical axis being connected downstream thereof, wherein at least one second mirror is provided in the beam path for transferring light from the first objective in the direction of the second objective and from the second objective to the detector, said mirror being designed as a full mirror, or a microscope having an adjusting device for the focus range, comprising a first objective for transferring the object light of an illuminated object in the direction of a detector, wherein a second objective is provided upstream of the detector in the direction of light, said objective having an adjustable first mirror connected downstream thereof in the direction of the optical axis, wherein a polarization splitter for splitting the object light into portions that are orthogonal to each other is disposed between the first and second objective for transferring the light.
摘要翻译：显微镜与用于焦点区域的调整装置，由第一透镜的用于在检测器，其中，第二透镜在光方向上的检测器，其中一个被布置下游在光轴调节的第一反射镜的方向之前提供的方向传送照物体的物体光，它被设置用于朝向所述第二透镜的第一透镜和第二透镜到所述检测器至少在光束路径，其被形成为全镜面或显微镜与所述焦点区域的调节装置的第二反射镜透射光，由以下组成的一个第一透镜的用于发送的对象光在一个检测器，其中，第二透镜在光方向上的检测器之前提供，其在光轴调节的第一反射镜的方向的下游侧布置的方向照射的物体，其中，所述光透射，偏振分离器，用于分离目标光的光线被设置在第一和第二物镜之间的相互垂直的部分中。

23. 发明申请

WO2009141107A1 MIKROSKOP MIT EINER OPTISCHEN ANORDNUNG ZUR STRUKTURIERUNG DES BELEUCHTUNGSLICHTES 审中-公开
标题翻译：与光学系统中的结构的光显微镜
公开(公告)号：WO2009141107A1
公开(公告)日：2009-11-26
申请号：PCT/EP2009/003540
申请日：2009-05-19
申请人： CARL ZEISS MICROLMAGING GMBH , WOLLESCHENSKY, Ralf
发明人： WOLLESCHENSKY, Ralf
IPC分类号： G02B21/06 , G02B5/18
CPC分类号： G02B21/06 , G02B5/1828 , G02B5/1866
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Mikroskop, in dessen Beleuchtungsstrahlengang ein Beugungsgitter angeordnet ist, durch welches dem Beleuchtungslicht eine Struktur in Form einer periodischen Intensitätsverteilung aufgeprägt wird. Bei einem Mikroskop dieser Art ist vorgesehen, daß - das Beleuchtungslicht zu einer Linie (L) geformt auf das Beugungsgitter, bevorzugt ein transmittierendes Amplitudengitter (G), gerichtet ist, wobei die Linie (L) eine in Richtung X gemessenen Länge 1 und eine in Richtung Y gemessenen Breite b aufweist, - das Periodizitätsintervall des Beugungsgitters eine in Richtung Y verlaufende kontinuierliche oder progressive Variation aufweist, - das Beugungsgitter in Richtung Y relativ zu der Linie (L) des Beleuchtungslichtes verschiebbar ist, und - die in Richtung Y gemessene Breite b der Linie (L) um ein Vielfaches geringer ist als die Ausdehnung des Beugungsgitters in der Richtung Y.
摘要翻译：本发明涉及一种显微镜，衍射光栅被布置在通过其中在周期性强度分布的形式的结构是在照射光的印象照明光束路径。在这种类型的显微镜设置， - 所述照明光形成在衍射光栅的线（L），优选发送振幅光栅（G）被引导，其中所述线（L）一X的长度为1，并且在方向上测量 b的ÿ测量宽度的方向， - 所述衍射光栅具有在Y方向上连续或逐渐变化延伸的轴的周期性， - 衍射Y方向相对于线（L）的照明光被移位，并且在光栅 - 在Y方向宽度b测量线（L）是由多比衍射的程度在Y方向光栅较小

24. 发明申请

WO2009100830A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM RÄUMLICHEN HOCHAUFLÖSENDEN ABBILDEN EINER STRUKTUR EINER PROBE 审中-公开
标题翻译：装置和方法对样品的结构的空间高分辨率成像
公开(公告)号：WO2009100830A1
公开(公告)日：2009-08-20
申请号：PCT/EP2009/000677
申请日：2009-02-03
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , WOLLESCHENSKY, Ralf , LIPPERT, Helmut , POWER, Christopher , RADT, Benno
发明人： WOLLESCHENSKY, Ralf , LIPPERT, Helmut , POWER, Christopher , RADT, Benno
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/10 , G01N21/64
CPC分类号： G02B21/002 , G01N21/6458 , G02B21/10 , G02B27/58
摘要： Vorrichtung und Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe, insbesondere ein Mikroskop, charakterisiert durch ein beugungsbegrenztes Auflösungsvolumen, mit mehreren zwischen unterschiedlichen Zuständen umschaltbaren Farbstoffmolekülen (UF), wobei mindestens ein Zustand fluoreszierend ist, die Fluoreszenz mit einem Objektiv (O) gesammelt und mit einem optischen System auf einen ortsauflösenden Detektor abgebildet wird, wobei die UF in mindestens einem Teil der Probe eine Verteilungsdichte aufweisen, die größer ist als das Inverse des beugungsbegrenzten Auflösungsvolumens; einer oder mehrere Lichtquellen zur Aussendung einer Umschaltstrahlung, um eine erste Untermenge der UF in der Probe umzuschalten und zur Aussendung einer Anregungsstrahlung, um die erste Untermenge der UF anzuregen, wobei mindestens eine der Lichtquellen derart angeordnet ist, dass sie die Probe durchstrahlt und eine Umschaltung und / oder Fluoreszenzanregung der UF in der Probe zumindest in einer Richtung annähernd senkrecht zur optischen Achse und insbesondere im Fokus des Objektives (O) erfolgt, wobei vorteilhaft die Umschaltung eine Photoaktivierung oder -deaktivierung der UF ist und die Lichtquelle zur Umschaltung und / oder die Lichtquelle zur Anregung eine Fokussieranordnung zur Erzeugung eines in Richtung der Beleuchtung ausgedehnten zumindest in einer Richtung zumindest annähernd senkrecht zur optischen Achse des Objektivs linienartigen Beleuchtungsbereiches vorgesehen ist.
摘要翻译：装置和试样的结构的高空间分辨率成像，尤其是显微镜，其特征在于通过衍射限制的分辨率体积，具有多个可切换的之间不同状态染料分子（UF）的方法，所述至少一个条件是荧光的，收集到的荧光与目标（O）和由位置敏感检测器上的光学系统成像，所述UF具有在比衍射极限分辨率体积的倒数越大，样品的至少一部分上的分布密度; 一个或多个用于发射切换辐射来切换所述样品中的UF的第一子集和用于发送激发辐射来激发UF，其中所述光源中的至少一个被布置为使得其照射所述样品的所述第一子集多个光源，并切换和/或样品中的UF的荧光激发发生在一个方向上至少近似垂直于所述光轴，并且特别是在物镜的焦点（O），其中，有利地，所述开关是光激活或UF的失活和光源，用于切换和/或是用于在照明的方向上产生激动人心的聚焦光源的方向上至少延伸垂直于该目标线状照明区域的光学轴至少大致设置之一。

25. 发明申请

WO2007036303A1 MIKROSKOPIERVERFAHREN UND MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：微副本并在显微镜
公开(公告)号：WO2007036303A1
公开(公告)日：2007-04-05
申请号：PCT/EP2006/008943
申请日：2006-09-14
申请人： CARL ZEISS JENA GMBH , WOLLESCHENSKY , Ralf , KEMPE, Michael
发明人： WOLLESCHENSKY , Ralf , KEMPE, Michael
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/002
摘要： Es wird bereitgestellt ein Mikroskopierverfahren zum Erzeugen eines Bildes eines in einer vorbestimmten Tiefe einer zu untersuchenden Probe hegenden Bildfeldes, mit mehreren Beleuchtungsschritten, in den jeweils ein Teil des Bildfeldes mit einem fokussierten Beleuchtungsstrahlenbundel beleuchtet wird, das aufgrund einer Wechselwirkung mit der Probe die Erzeugung von Probenstrahlung bewirkt, Detektionsschritten, in denen die erzeugte Probenstrahlung detektiert wird, und einem Auswerteschritt, in dem auf Basis der detektierten Probenstrahlung das Bild erzeugt wird, wobei wahrend jedem Beleuchtungsschritt ein erster und ein zweiter Detektionsschritt durchgeführt werden, wobei im ersten Detektionsschritt im Fokus sowie außerhalb des Fokus erzeugte Probenstrahlung und im zweiten Detektionsschritt ein geringerer Anteil der im Fokus erzeugten Probenstrahlung als im ersten Detektionsschritt sowie außerhalb des Fokus erzeugte Probenstrahlung detektiert wird, und wobei im Auswerteschritt die im zweiten Detektionsschritt detektierte Probenstrahlung genutzt wird, um bei der im ersten Detektionsschritt detektierten Probenstrahlung den außerfokalen Anteil zu verringern.
摘要翻译：有，由于与样品生成样品辐射的相互作用提供了一种形成的Hege中的一个的预定深度终止的图像的显微镜方法待检查样品的像场，具有多个照明步骤，在图像场的一部分被用聚焦Beleuchtungsstrahlenbundel在于照亮每一种情况下中，会出现产生的检测到的辐射的样品的检测步骤，以及评价步骤，其中被检测到的样品的辐射，其中，每个照明步骤期间执行的第一和第二检测步骤，的基础上产生的图像，其中所述在焦点的第一检测步骤，以及外集中产生的样品辐射和在焦点检测中产生比在第一步骤以及出产生的焦点样品辐射的第二检测步骤中检测到所述样品的辐射的比例较小，并且其中在所述评估步骤中样品检测的辐射在所述第二检测步骤中使用，以减少在所述第一检测步骤中样品的辐射检测到的焦点外的部分。

26. 发明申请

WO2006117172A3 DEVICE AND METHOD FOR THE REPRODUCIBLE ADJUSTMENT OF THE PIN HOLE OPENING AND PIN HOLE POSITION IN LASER SCANNING MICROSCOPES 审中-公开
标题翻译：设备和方法用于激光扫描显微镜可复制调整和针孔针孔
公开(公告)号：WO2006117172A3
公开(公告)日：2007-03-22
申请号：PCT/EP2006004045
申请日：2006-04-29
申请人： ZEISS CARL JENA GMBH , KLOSE HEINRICH , BARTZKE KARLHEINZ , HEISE JUERGEN , WOLLESCHENSKY RALF , BURKHARDT MATTHIAS
发明人： KLOSE HEINRICH , BARTZKE KARLHEINZ , HEISE JUERGEN , WOLLESCHENSKY RALF , BURKHARDT MATTHIAS
IPC分类号： G02B5/00 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/002
摘要： Disclosed is a device for adjusting the position and/or size of a pin hole in a laser scanning microscope (LSM). According to the invention, the pin hole is illuminated via a separate light source or the LSM laser, and the pin hole is displaced perpendicular to the optical axis until a maximum intensity is provided on a receiver, and the pin hole position is detected and is stored along with data pertaining to removable optical components.
摘要翻译：一种用于调节在激光扫描显微镜（LSM），其特征在于，一个单独的光源或LSM一个针孔的位置和/或大小 - 激光发生针孔的照明和在隔着光轴的针孔的位移，直到最大强度一个接收器存在且包括针孔的检测，它是具有相关联的数据到可移动的光学元件一起存储。

27. 发明申请

WO2007009812A1 AUFLÖSUNGSGESTEIGERTE LUMINESZENZ-MIKROSKOPIE 审中-公开
标题翻译：分辨率提高LUMINESCENT显微镜
公开(公告)号：WO2007009812A1
公开(公告)日：2007-01-25
申请号：PCT/EP2006/007212
申请日：2006-07-21
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , CARL ZEISS JENA GMBH , WOLLESCHENSKY, Ralf , KEMPE, Michael
发明人： WOLLESCHENSKY, Ralf , KEMPE, Michael
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0076 , G01N21/6458
摘要： Es wird ein Lumineszenz-Mikroskopieverfahren beschrieben, bei dem eine Probe (24) durch Anregungsstrahlung (A) zu Emission von bestimmter Lumineszenzstrahlung (F) angeregt wird, wobei die lumineszierende Probe (24) aus einem ersten Lumineszenz-Zustand (5), in dem die Anregbarkeit mit steigender Anregungsstrahlungsleistung bis zu einem Maximalwert (18), welcher einem Anregungsstrahlungsleistungs-Schwellwert (19) zugeordnet ist, steigt, in einen zweiten Lumineszenz-Zustand (6) überführbar ist, in dem die Probe (24) gegenüber dem ersten Zustand (5) verminderte Anregbarkeit aufweist, wobei die Probe (24) durch Einstrahlung von Anregungsstrahlungsleistung oberhalb des Schwellwertes (19) in den zweiten Zustand (6) bringbar ist, die Probe (24) in Teil-Bereichen in den ersten Zustand (5) und in angrenzenden Teil-Bereichen in den zweiten Zustand (6) versetzt wird, indem die Einstrahlung von Anregungsstrahlung (A) mit einer Anregungsstrahlungsverteilung erfolgt, die zumindest ein örtliches Leistungsmaximum über dem Schwellwert (19) aufweist, das Bild der lumineszierenden Probe (24) Proben-Bereiche im ersten Zustand (5) und Proben-Bereiche im zweiten Zustand (6) umfaßt, wodurch das Bild eine gegenüber der Anregungsstrahlungsverteilung gesteigerte Ortsauflösung hat. Es wird weiter bereitgestellt ein Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Strahlteiler (113), über den von einer Beleuchtungsstrahlquelle (105) abgegebene Beleuchtungsstrahlung in einem Beleuchtungsstrahlengang (B) auf eine Probe (103) gerichtet ist, wobei der Strahlteiler (113) an der Probe (103) spiegelnd reflektierte Beleuchtungsstrahlung nicht zu einer Detektoreinrichtung (104) passieren läßt und dazu in einer Pupille des Beleuchtungsstrahlenganges (B) angeordnet sowie teilverspiegelt ist, indem er eine Strahlteilerfläche (122) aufweist, die zumindest an drei Punkten (123a-d) für die Beleuchtungsstrahlung verspiegelt ist, welche auf der Strahlteilerfläche (122) auf einem Kreis um den Durchstoßpunkt (125) der optischen Achse (OA) liegen, wodurch in der Probe (103) ein Interferenzmuster (128) in Form periodisch über die Probe (113) verteilter Beleuchtungsflecke (126) entsteht.
摘要翻译：它是一个发光显微镜中描述的方法，其中的样品（24）由激发辐射（A）到一定的发光辐射的发射（F）被激励时，其特征在于，从第一发光状态的发光试料（24）（5），其中，兴奋性高达随激发辐射功率（18）的最大值被分配给一个激励辐射功率阈值（19）上升，在第二发光状态（6）是可转移，其中，所述样品（24）（相对于该第一状态 5）降低兴奋性，其中所述样品（24）由所述阈值（19）（在第二状态下6上方的激发辐射功率的辐射）可以带来的，在部分区域中的样品（24）（在第一状态5），并在邻接的部分区域中，通过激发辐射照射放置在第二状态（6）（a）与具有至少一个本地升的激发辐射分布进行 eistungsmaximum高于阈值（19），所述发光试料的图像（24）在第一状态下的样品的区域（5）和在所述第二状态（6），由此，图像具有相对于所述激发辐射分布样品区域增加的空间分辨率。本发明还提供用通过在照明光束路径（B）照射辐射到样品（103）的照明束源（105）经由所述传递的分束器（113）的激光扫描显微镜被引导，其中，在所述分束器（113）样品（103）不能传递到检测器设备（104）镜面反射的照明辐射，并在设置在照明光束路径（B）的光瞳和通过光束分离器表面（122）部分地镜像，其中至少在三个点（123A-D）被镜像的照明辐射，其中位于所述分束器表面（122）上围绕光轴（OA）的交叉点（125）的圆上，从而干涉图案（128）周期性地（在表格中样品（103）在试样113上的）分布式照明斑点（126）形成。

28. 发明申请

WO2005043212A1 LASER-SCANNING-MIKROSKOP MIT EINEM NON-DESCANNTEN DETEKTIONS- UND/ODER BEOBACHTUNGSSTRAHLENGANG 审中-公开
标题翻译：与非退扫描检测和/或观察RAYS GEAR激光扫描显微镜观察
公开(公告)号：WO2005043212A1
公开(公告)日：2005-05-12
申请号：PCT/EP2004/011846
申请日：2004-10-20
申请人： CARL ZEISS JENA GMBH , LANGE, Ralph , WOLLESCHENSKY, Ralf , GOELLES, Michael
发明人： LANGE, Ralph , WOLLESCHENSKY, Ralf , GOELLES, Michael
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/002
摘要： Laser-Scanning-Mikroskop mit einem non-descannten Detektions- und/ oder Beobachtungsstrahlengang, wobei ein Strahlteiler zur Trennung von Beleuchtungs- und Detektionstrahlengang vorgesehen ist und in Richtung der Detektion mindestens eine Optik zur regulären Übertragung des detektierten Lichtes vorgesehen ist, wobei zwischen dem Strahlteiler und der Optik eine Zusatzoptik zur Verringerung des Durchmessers des abbildenden Strahlenbündels vorgesehen ist.
摘要翻译：用非退扫描检测和/或观测光束路径的激光扫描显微镜，用于照明和检测光束路径的分离的光束分离器被提供，并且在检测到至少为检测到的光的常规传输的光学系统的方向中，提供其特征在于，所述分束器之间并且，提供了一种辅助光学系统用于减少所述成像束光学的直径。

29. 发明申请

WO2004113987A1 VREFAHREN ZUR FLUORESZENZMIKROSKOPIE 审中-公开
标题翻译： VREFAHREN荧光显微镜
公开(公告)号：WO2004113987A1
公开(公告)日：2004-12-29
申请号：PCT/EP2004/006202
申请日：2004-06-09
申请人： CARL ZEISS JENA GMBH , WOLLESCHENSKY, Ralf , ZIMMERMANN, Bernhard , ANKERHOLD, Richard
发明人： WOLLESCHENSKY, Ralf , ZIMMERMANN, Bernhard , ANKERHOLD, Richard
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G01N21/6458 , G01N21/6402 , G01N2021/6417 , G02B21/0024 , G02B21/16
摘要： Verfahren zur Fluoreszenzmikroskopie, insbesondere mit einem Laser-Scanning-Mikroskop, wobei eine zumindest teilweise spektral aufgelöste Detektion des Fluoreszenzspektrums erfolgt und Referenzspektren zur spektralen Entmischung herangezogen werden, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufnahme der Referenzspektren von zeitlich und/oder spektral veränderlichen Farbstoffen und/oder Farbstoffkombinationen erfolgt und zur Bildauswertung dient.
摘要翻译：用激光扫描显微镜，其特征在于，荧光光谱的至少部分光谱分辨的检测进行和参考光谱荧光显微镜的方法，特别是用于光谱分离，其特征在于变量在时间上的参考光谱的记录和/或光谱的染料和/或染料组合被执行并且用于图像分析。

30. 发明申请

WO2013007591A1 KONFOKALES AUFLICHT-RASTERMIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：共聚焦反射光GRID显微镜
公开(公告)号：WO2013007591A1
公开(公告)日：2013-01-17
申请号：PCT/EP2012/063125
申请日：2012-07-05
申请人： CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH , SCHWEDT, Daniel , WOLLESCHENSKY, Ralf
发明人： SCHWEDT, Daniel , WOLLESCHENSKY, Ralf
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0076 , G02B21/0032 , G02F1/29 , G02F1/353
摘要： In der Fluoreszenzmikroskopie werden typischerweise spektrale Kerbfilter als Hauptstrahlteiler zur Trennung von Anregungs- und Detektionslicht. Die zur freien Farbstoffwahl notwendige spektral flexible Anregung erfordert eine entsprechend spektral flexible Trennung von Anregungslicht und Detektionslicht. Bisher werden zu diesem Zweck gegeneinander austauschbare Hauptstrahlteiler bereitgestellt. Der Austausch verändert jedoch die Strahlengänge, was aufwendig kompensiert werden muss. Zudem begrenzt die endliche Anzahl alternativer Strahlteiler, beispielsweise in einem Teilerrad, die spektrale Flexibilität. Die Erfindung soll mit geringerem Aufwand eine spektral flexible Fluoreszenzanregung und -detektion ermöglichen. Zu diesem Zweck sind im gemeinsamen Strahlengang (C) Mittel (4, 16, 17) zur Frequenzkonversion und im Detektionsstrahlengang (D) zusätzlich zum Hauptstrahlteiler ein Filter (14) für Anregungslicht angeordnet. Durch die Frequenzkonversion wird eine spektrale Abgrenzung zwischen Beleuchtungslicht, das die Lichtquelle emittiert, und Anregungslicht, das die Probe zur Fluoreszenz anregt, erreicht. Da die Frequenzkonversion im gemeinsamen Strahlengang, also erst hinter dem Hauptstrahlteiler, erfolgt, ist am Hauptstrahlteiler aufgrund des spektralen Unterschieds zwischen Beleuchtungs- und Anregungslicht mit geringem Aufwand eine räumliche Trennung von Beleuchtungslicht einerseits und Anregungslicht und von der Probe emittiertem Fluoreszenzlicht (Detektionslicht) andererseits nach Spektralbändern möglich. Fluoreszenzmikroskopie.
摘要翻译：在荧光显微镜中的频谱陷波滤波器作为用于分离激发和检测光的主光束分离器通常是。必要的，以游离染料的选择频谱灵活激发需要激发光和检测光的相应频谱灵活的分离。到目前为止，都为此提供可互换的主光束分离器。然而，汇率变化的路径，必须昂贵补偿。此外，替代的分束器的有限数量的限制，例如在一个分离器轮，频谱灵活性。本发明将用较少的努力一频谱灵活荧光激发和检测提供。为此，对于激发光的过滤器（14）被布置在共同光束路径（C）的装置（4，16，17），用于频率转换和在除主分束器的检测光束路径（D）。通过频率转换，激发样品发出荧光的照明光，其发射的光源，并且激发光之间的光谱差异，得以实现。由于在公共光路中的频率转换，即仅背后的主要分束器，被进行时，照明光的，一方面由于照明和激发光之间很少的努力，另一方面通过光谱带的频谱差的空间分离和激励光，并从样品的荧光的光（检测光）在主分束器发射的可能的。荧光显微镜。

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