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11. 发明专利

TW200524359A 電子設計自動化中資訊之安全交換 SECURE EXCHANGE OF INFORMATION IN ELECTRONIC DESIGN AUTOMATION 失效
简体标题：电子设计自动化中信息之安全交换 SECURE EXCHANGE OF INFORMATION IN ELECTRONIC DESIGN AUTOMATION
公开(公告)号：TW200524359A
公开(公告)日：2005-07-16
申请号：TW093126430
申请日：2004-09-01
申请人：曼特製圖股份有限公司 MENTOR GRAPHICS CORPORATION
发明人：法古遜約翰G FERGUSON, JOHN G. , 皮可斯菲朶G PIKUS, FEDOR G. , 阪後恭平 SAKAJIRI, KYOHEI , 葛洛德羅倫斯W GRODD, LAURENCE W.
IPC分类号： H04L , G06F
CPC分类号： G06F21/6209 , G06F2221/2137
摘要：與電子設計自動化相關的資訊可在一安全方式下被交換。被認定為敏感且值得保護的資訊可藉由像是加密(encryption)，混淆(obfuscation)方法及其它保全方式來加以確保。該被保全的(secured)資訊可在不洩露至少某些被保全的資訊下被處理。例如，與積體電路可製造性相關的規則檔可被選擇性地註解用以指出該資訊值得保護的部分。一加密工具可被用來保全與電子設計自動化相關的資訊。一電子設計自動化工具然後可被解鎖並在不洩露該被保全的資訊下使用該被保全的資訊。在一態樣中，該資訊約存取或安全使用與一或多個條件是否被滿足有關(如，時間長度或使用者或存取數量)。例如，該工具可以是一實體驗證工具，其能夠查驗是否有任何一或多個積體電路布局有違反一或多個安全規則。
简体摘要：与电子设计自动化相关的信息可在一安全方式下被交换。被认定为敏感且值得保护的信息可借由像是加密(encryption)，混淆(obfuscation)方法及其它保全方式来加以确保。该被保全的(secured)信息可在不泄露至少某些被保全的信息下被处理。例如，与集成电路可制造性相关的守则档可被选择性地注解用以指出该信息值得保护的部分。一加密工具可被用来保全与电子设计自动化相关的信息。一电子设计自动化工具然后可被解锁并在不泄露该被保全的信息下使用该被保全的信息。在一态样中，该信息约存取或安全使用与一或多个条件是否被满足有关(如，时间长度或用户或存取数量)。例如，该工具可以是一实体验证工具，其能够查验是否有任何一或多个集成电路布局有违反一或多个安全守则。

12. 发明专利

TW200515218A 可製造性設計技術 DESIGN FOR MANUFACTURABILITY 失效
简体标题：可制造性设计技术 DESIGN FOR MANUFACTURABILITY
公开(公告)号：TW200515218A
公开(公告)日：2005-05-01
申请号：TW093121441
申请日：2004-07-16
申请人：曼特製圖公司 MENTOR GRAPHICS CORPORATION
发明人：沙威基約瑟夫D. SAWICKI, JOSEPH D. , 葛羅德勞倫斯W. GRODD, LAURENCE W. , 費古森約翰G. FERGUSON, JOHN G. , 達爾聖傑伊 DHAR, SANJAY
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F17/50 , G05B2219/35028 , G05B2219/45028 , G06F2217/12 , Y02P90/265
摘要：揭示修改原有微裝置設計來改良該微裝置設計之可製造性之技術。使用此等技術，設計者接到設計資料相關製造標準。然後相關設計資料經識別且提供給微裝置設計者，其可選擇基於製造標準來修改設計。藉此方式，設計者可將來自製造廠之製造標準直接結合於微裝置的原始設計。
简体摘要：揭示修改原有微设备设计来改良该微设备设计之可制造性之技术。使用此等技术，设计者接到设计数据相关制造标准。然后相关设计数据经识别且提供给微设备设计者，其可选择基于制造标准来修改设计。借此方式，设计者可将来自制造厂之制造标准直接结合于微设备的原始设计。

13. 发明申请

WO2020171800A1 RADIO EQUIPMENT TEST DEVICE 审中-公开
公开(公告)号：WO2020171800A1
公开(公告)日：2020-08-27
申请号：PCT/US2019/018546
申请日：2019-02-19
申请人： MENTOR GRAPHICS CORPORATION
发明人： VIERIMAA, Kari , VALASMA, Harri
IPC分类号： H04B17/17 , G01R29/10 , H04B17/29 , G01R29/105 , H04B17/26
摘要： A single radio equipment test device (TA) comprising: a control unit (CT) for testing a plurality of antennas, e.g., an antenna array, the control unit (CT) comprising a first interface (I1) to operatively couple the control unit (CT) to an antenna under test (AUT), preferably arranged in a test chamber (TC), the control unit (CT) comprising a second interface (I1) to operatively couple the control unit (CT) to a reference antenna (REA), preferably also arranged in said test chamber (TC), wherein the control unit (CT) serves for controlling and/or monitoring the antenna under test (AUT) and the reference antenna (REA).

14. 发明申请

WO2020167753A1 BIDIRECTIONAL SCAN CELLS FOR SINGLE-PATH REVERSIBLE SCAN CHAINS 审中-公开
公开(公告)号：WO2020167753A1
公开(公告)日：2020-08-20
申请号：PCT/US2020/017642
申请日：2020-02-11
申请人： MENTOR GRAPHICS CORPORATION
发明人： CHENG, Wu-Tung , HUANG, Yu
IPC分类号： G11C29/32 , G01R31/3185
摘要： A circuit comprises a plurality of scan chains. The plurality of scan chains comprisies bidirectional scan cells. Each of the bidirectional scan cells comprises two serial input-output ports serving as either a serial data input port or a serial data output port based on a control signal. Each of the plurality of scan chains is configured to perform a shift operation in either a first direction or a second direction based on the control signal. The first direction is opposite to the second direction.

15. 发明申请

WO2020077086A1 APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RADIO EQUIPMENT 审中-公开
公开(公告)号：WO2020077086A1
公开(公告)日：2020-04-16
申请号：PCT/US2019/055623
申请日：2019-10-10
申请人： MENTOR GRAPHICS CORPORATION
发明人： VIERIMAA, Kari
IPC分类号： H04W24/00 , H04W24/06 , H04W24/08
摘要： A method of testing radio equipment (BBU, RRH, UE), comprising: Receiving (S0), by way of a radio channel test apparatus (10), a baseband signal representing I/Q data of one or more radio channels, Processing (S1), by way of the radio channel test apparatus (10), the baseband signal representing I/Q data according to one or more radio channel models, Transmitting (S2), by way of the radio channel test apparatus (10), the processed baseband data representing I/Q data to a radio equipment under test.

16. 发明申请

WO2012150970A1 TEST SCHEDULING WITH PATTERN-INDEPENDENT TEST ACCESS MECHANISM 审中-公开
标题翻译：具有独特的测试访问机制的测试调度
公开(公告)号：WO2012150970A1
公开(公告)日：2012-11-08
申请号：PCT/US2012/021575
申请日：2012-01-17
申请人： MENTOR GRAPHICS CORPORATION , RAJSKI, Janusz , KASSAB, Mark, A. , GRZEGORZ, Mrugalski , MUKHERJEE, Nilanjan , JANICKI, Jakub , TYSZER, Jerzy , DUTTA, Avijit
发明人： RAJSKI, Janusz , KASSAB, Mark, A. , GRZEGORZ, Mrugalski , MUKHERJEE, Nilanjan , JANICKI, Jakub , TYSZER, Jerzy , DUTTA, Avijit
IPC分类号： G06F11/263 , G01R31/3183 , G01R31/319 , G06F11/07 , G06F11/22
CPC分类号： H04L43/50 , G01R31/318335 , G06F11/263
摘要： Disclosed are representative embodiments of methods, apparatus, and systems for test scheduling for testing a plurality of cores in a system on circuit. Test data are encoded to derive compressed test patterns that require small numbers of core input channels. Core input/output channel requirement information for each of the compressed test patterns is determined accordingly. The compressed patterns are grouped into test pattern classes. The formation of the test pattern classes is followed by allocation circuit input and output channels and test application time slots that may comprise merging complementary test pattern classes into clusters that can work with a particular test access mechanism. The test access mechanism may be designed independent of the test data.
摘要翻译：公开了用于在电路系统中测试多个核的测试调度的方法，装置和系统的代表性实施例。编码测试数据以导出需要少量核心输入通道的压缩测试模式。相应地确定每个压缩测试图案的核心输入/输出通道要求信息。压缩的模式被分组成测试模式类。测试模式类的形成之后是分配电路输入和输出通道以及测试应用时隙，其可以包括将互补测试模式类合并成可以与特定测试访问机制一起工作的集群。可以独立于测试数据设计测试访问机制。

17. 发明申请

WO2011046989A1 GENERALIZATION OF SHOT DEFINITIONS FOR MASK AND WAFER PATTERNING TOOLS 审中-公开
标题翻译：用于掩模和波纹图案工具的SHOT定义的一般化
公开(公告)号：WO2011046989A1
公开(公告)日：2011-04-21
申请号：PCT/US2010/052410
申请日：2010-10-12
申请人： MENTOR GRAPHICS CORPORATION , SAHOURIA, Emile, Y. , SCHULZE, Steffen, F.
发明人： SAHOURIA, Emile, Y. , SCHULZE, Steffen, F.
IPC分类号： H01J37/317 , G03F7/20 , G03F1/00
CPC分类号： G03F7/2063 , B82Y10/00 , B82Y40/00 , G03F1/50 , G03F1/76 , G03F1/78 , G03F7/2045 , G03F7/70466 , H01J37/3174 , H01L21/0274 , H01L21/26
摘要： The invention relates to techniques for reducing the number of shots required by a radiation beam writing tool to write a pattern, such as fractured layout design, onto a substrate. One or more apertures are employed by a radiation beam writing tool to write a desired pattern onto a substrate using L- shaped images, T-shaped images, or some combination of both. For example, some implementations of the invention may analyze the atomic shapes in a pattern to identify adjacent rectangular atomic shapes that can be combined into an L -shape or a T -shape. The radiation beam writing tool can then write these atomic shapes onto a substrate in a single shot by forming an image on the substrate corresponding to the L -shape or T -shape.
摘要翻译：本发明涉及用于减少辐射束写入工具所需的镜头数目的技术，以将诸如断裂布局设计的图案写入衬底。辐射束写入工具使用一个或多个孔，以使用L形图像，T形图像或两者的某种组合将期望的图案写入基板。例如，本发明的一些实现可以分析图案中的原子形状以识别可以组合成L形或T形的相邻矩形原子形状。然后，辐射束写入工具可以通过在与L形或T形形状相对应的衬底上形成图像，将这些原子形状在单次照射中写入到衬底上。

18. 发明申请

WO2010124148A1 AT-SPEED SCAN TESTING WITH CONTROLLED SWITCHING ACTIVITY 审中-公开
标题翻译：具有控制切换活动的AT速度扫描测试
公开(公告)号：WO2010124148A1
公开(公告)日：2010-10-28
申请号：PCT/US2010/032136
申请日：2010-04-22
申请人： MENTOR GRAPHICS CORPORATION , RAJSKI, Janusz , MOGHADDAM, Elham, K. , MUKHERJEE, Nilanjan , KASSAB, Mark, A. , XIJIANG, Lin
发明人： RAJSKI, Janusz , MOGHADDAM, Elham, K. , MUKHERJEE, Nilanjan , KASSAB, Mark, A. , XIJIANG, Lin
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318547 , G01R31/318575
摘要： Test patterns for at-speed scan tests are generated by filling unspecified bits of test cubes with functional background data. Functional background data are scan cell values observed when switching activity of the circuit under test is near a steady state. Hardware implementations in EDT (embedded deterministic test) environment are also disclosed.
摘要翻译：通过用功能背景数据填充测试立方体的未指定位来生成速度扫描测试的测试模式。功能背景数据是当被测电路的开关活动接近稳定状态时观察到的扫描单元值。还公布了EDT（嵌入式确定性测试）环境中的硬件实现。

19. 发明申请

WO2010102235A1 FAULT DIAGNOSIS FOR NON-VOLATILE MEMORIES 审中-公开
标题翻译：故障诊断非易失性存储器
公开(公告)号：WO2010102235A1
公开(公告)日：2010-09-10
申请号：PCT/US2010/026403
申请日：2010-03-05
申请人： MENTOR GRAPHICS CORPORATION , MUKHERJEE, Nilanjan , POGIEL, Artur , RAJSKI, Janusz , TYSZER, Jerzy
发明人： MUKHERJEE, Nilanjan , POGIEL, Artur , RAJSKI, Janusz , TYSZER, Jerzy
IPC分类号： G11C29/20 , G11C29/40 , G11C29/56
CPC分类号： G11C29/40 , G11C16/04 , G11C17/14 , G11C29/20 , G11C29/56 , G11C29/56008 , G11C2029/0401 , G11C2029/1208 , G11C2029/5606
摘要： Fault diagnosis techniques for non-volatile memories are disclosed. The techniques are based on deterministic partitioning of rows and/or columns of cells in a memory array. Through deterministic partitioning, signatures are generated for identification of failing rows, columns and single memory cells. A row/column selector or a combined row and column selector may be built on chip to implement the process of deterministic partitioning. An optional shadow register may be used to transfer obtained signatures to an automated test equipment (ATE).
摘要翻译：公开了用于非易失性存储器的故障诊断技术。这些技术基于对存储器阵列中的单元格行和/或列的确定性划分。通过确定性分区，生成签名以识别失败的行，列和单个存储单元。行/列选择器或组合的行和列选择器可以构建在芯片上以实现确定性分区的过程。可以使用可选的影子寄存器将获得的签名转移到自动测试设备（ATE）。

20. 发明申请

WO2009105788A2 IMPROVING THE PERFORMANCE OF SIGNATURE BASED DIAGNOSIS FOR LOGIC BIST 审中-公开
标题翻译：改进基于签名的LOGIC BIST诊断的性能
公开(公告)号：WO2009105788A2
公开(公告)日：2009-08-27
申请号：PCT/US2009/034933
申请日：2009-02-23
申请人： MENTOR GRAPHICS CORPORATION , CHENG, Wu-tung , SHARMA, Manish , RINDERKNECHT, Thomas, H.
发明人： CHENG, Wu-tung , SHARMA, Manish , RINDERKNECHT, Thomas, H.
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G06F11/277 , G01R31/318547
摘要： Techniques are disclosed for reducing the set of initial candidates in signature based diagnosis methodology. These techniques are based on a unique way of making optimum use of information from logic back-cone tracing along with equations that describe the test response compactor.
摘要翻译：公开了用于减少基于签名的诊断方法中的初始候选者的集合的技术。这些技术基于一种独特的方式，从逻辑后锥跟踪中最佳地利用信息以及描述测试响应压实器的方程式。

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