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11. 发明专利

JP5976194B2 回転数検出器有权
标题翻译：转速检测器
公开(公告)号：JP5976194B2
公开(公告)日：2016-08-23
申请号：JP2015501200
申请日：2013-02-22
申请人：三菱電機株式会社
发明人：立井芳直 , 武舎武史 , 仲嶋一 , 岡室貴士 , 二村政範
IPC分类号： G01P3/487 , G01P3/481
CPC分类号： G01D5/244 , G01D5/2006 , G01P3/4815 , G01D5/145

12. 发明专利

JP2016048254A 放射能測定方法有权
标题翻译：放射性测量方法
公开(公告)号：JP2016048254A
公开(公告)日：2016-04-07
申请号：JP2015226179
申请日：2015-11-19
申请人：三菱電機株式会社
发明人：東哲史 , 多久島秀 , 林真照 , 西沢博志 , 仲嶋一 , 猪又憲治
IPC分类号： G01T7/00 , G01T7/02 , G01T1/167
摘要：【課題】放射能測定値の測定結果の信頼性を向上できる放射能測定方法を得る。【解決手段】放射能測定容器10に測定対象試料1を充填して、放射能を測定するための放射能測定方法であって、密度が均質な測定対象試料1をあらかじめ規定された容量まで充填し、均一に分布させた場合の幾何学的重心である基準試料重心位置101と、放射線に感度を有する放射線検出器50のセンサ部51のセンサ部重心位置100とが、一致するか、またはこれらの重心位置間隔80が10mmに収まるように、センサ部51を配置して放射能を測定している。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种可以提高放射性测量值的测量结果的可靠性的放射性测量方法。解决方案：通过用测量对象样品1填充放射性测量容器10来测量放射性的放射性测量方法通过以下方式测量放射性：布置传感器部分51，使得在具有均匀密度的测量对象样本1填充到预先规定的体积并均匀分布的情况下，作为几何重心的参考样本重心位置101和传感器部分重心位置100 具有辐射敏感度的辐射检测器50的传感器部分51彼此匹配或其间的重心位置间隔80落在10mm内。选择的图示：图2

13. 发明专利

JP5893134B2 磁気式回転角検出器有权
标题翻译：磁旋转角检测器
公开(公告)号：JP5893134B2
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：JP2014516799
申请日：2013-05-21
申请人：三菱電機株式会社
发明人：武舎武史 , 井上甚 , 仲嶋一 , 岡室貴士
IPC分类号： G01D5/245
CPC分类号： G01D5/165 , G01B7/30 , G01D5/147 , G01D5/245

14. 发明专利

JP5805222B2 かご位置検出装置有权
标题翻译：轿厢位置检测装置
公开(公告)号：JP5805222B2
公开(公告)日：2015-11-04
申请号：JP2013557349
申请日：2012-05-31
申请人：三菱電機株式会社
发明人：井上甚 , 渡邊佳正 , 西沢博志 , 仲嶋一 , 白附晶英
IPC分类号： B66B3/02
CPC分类号： B66B1/40

15. 发明专利

JP2015114301A エンコーダおよびその製造方法有权
标题翻译：编码器及其制造方法
公开(公告)号：JP2015114301A
公开(公告)日：2015-06-22
申请号：JP2013258867
申请日：2013-12-16
申请人：三菱電機株式会社
发明人：遠藤康博 , 仲嶋一 , 野口琢也 , 多久島秀 , 武舎武史
IPC分类号： G01D5/347
摘要：【課題】階調パターン領域21以外の非階調パターン領域22において反射され受光部5に入る光の量を低減することが可能な、エンコーダおよびその製造方法を提供する。【解決手段】エンコーダ10は、コード板1と、投光部4と、受光部5とを備える。投光部4はコード板1に光3を照射し、受光部5はコード板1から反射された光3を受光する。コード板1は、投光部4が照射する光3を反射可能な高反射領域と、高反射領域より投光部4が照射する光3の反射率が低い低反射領域とがコード板1の移動方向に沿って交互に並ぶ階調パターン領域と、階調パターン領域に隣接する、投光部4が照射する光3の反射率が低い非階調パターン領域とを含んでいる。非階調パターン領域は、投光部4の照射する光3を受光部5以外の方向へ進行させる拡散構造を有している。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种编码器，其能够减少灰度图案区域21以外的非渐层图案区域22中反射的光的量，然后进入光接收单元5，并且提供一种用于相同。解码：编码器10包括编码板1，光投影单元4和光接收单元5.光投射单元4将光3发射到码板1，并且光接收单元5接收从光盘3反射的光3 编码板1包括：灰度图案区域，其中能够将由光投影单元4发射的光3反射的高反射区域和具有较低反射率的低反射区域发射到由光光投影单元4比高反射区域交替地布置在代码板1的移动方向上; 以及与渐变图案区域相邻并且对由光投射单元4发射的光3具有低反射率的非渐变图案区域。非渐变图案区域具有使由光发射的光3的扩散结构投影单元4朝向除了光接收单元5之外的方向前进。

16. 发明专利

JP6355827B2 アブソリュートエンコーダ有权
公开(公告)号：JP6355827B2
公开(公告)日：2018-07-11
申请号：JP2017511358
申请日：2016-04-04
申请人：三菱電機株式会社
发明人：野口琢也 , 那須督 , 仲嶋一 , 竹山治彦 , 佐々木通 , 関真規人 , 立井芳直 , 竹田滋紀 , 武舎武史 , ソーントン、ジェイ・イー , アグラワル、アミット
IPC分类号： G01D5/244 , G01D5/347
CPC分类号： G01D5/26 , G01D5/34792 , G01D18/004

17. 发明专利

JP5999064B2 放射線入射方向検出器有权
标题翻译：放射线入射方向检测器
公开(公告)号：JP5999064B2
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：JP2013211686
申请日：2013-10-09
申请人：三菱電機株式会社
发明人：林真照 , 東哲史 , 西沢博志 , 仲嶋一 , 猪又憲治
IPC分类号： G01T1/36 , G01T3/00 , G01T1/16

18. 发明专利

JP5943768B2 直流電流検出装置有权
标题翻译：直流电流检测装置
公开(公告)号：JP5943768B2
公开(公告)日：2016-07-05
申请号：JP2012176093
申请日：2012-08-08
申请人：三菱電機株式会社
发明人：渡邊佳正 , 西沢博志 , 仲嶋一 , 森貢 , 土本雄二 , 濱野恵太
IPC分类号： G01R19/00 , G01R33/04 , G01R35/02 , G01R15/18

19. 发明专利

JP5933811B2 エレベータのかご位置検出装置有权
标题翻译：用于电梯轿厢位置检测装置
公开(公告)号：JP5933811B2
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：JP2015502688
申请日：2013-03-01
申请人：三菱電機株式会社
发明人：井上甚 , 倉田恵美子 , 渡邊佳正 , 白附晶英 , 西沢博志 , 仲嶋一 , 石川雅洋
IPC分类号： B66B3/02
CPC分类号： B66B1/3492 , G01D5/20 , G01D5/2053 , H03K2017/9706

20. 发明专利

JP5911585B2 放射能分析装置有权
标题翻译：放射性分析仪
公开(公告)号：JP5911585B2
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：JP2014535390
申请日：2013-04-09
申请人：三菱電機株式会社
发明人：東哲史 , 林真照 , 西沢博志 , 仲嶋一 , 猪又憲治 , 中西正一 , 相場俊英
IPC分类号： G01T1/20 , G01T1/24 , G01T1/17
CPC分类号： G01T1/202 , G01T1/24 , G01T7/005

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