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1. 发明专利

TW201516430A 搬運裝置以及電子元件移載裝置审中-公开
简体标题：搬运设备以及电子组件移载设备
公开(公告)号：TW201516430A
公开(公告)日：2015-05-01
申请号：TW104102489
申请日：2012-11-06
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：中嶋治希 , NAKAJIMA, HARUKI , 菊池裕之 , KIKUCHI, HIROYUKI , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28 , B65G17/12
CPC分类号： B65G17/12 , B65G35/06 , G01R31/2893
摘要：提供具有優越的承載盤間的DUT移載能力之電子元件移載裝置。將DUT100在承載盤110及120之間移動調換的電子元件移載裝置，其包括：元件搬運裝置50，其包含：固持DUT100的複數個搬運梭51；引導搬運梭51的無端狀的第1引導軌道521；使搬運梭51在第1引導軌道521上移動的第1~第3傳送裝置53~55；搬運梭51可以在第1引導軌道521上橫亙該軌道的全周移動。
简体摘要：提供具有优越的承载盘间的DUT移载能力之电子组件移载设备。将DUT100在承载盘110及120之间移动调换的电子组件移载设备，其包括：组件搬运设备50，其包含：固持DUT100的复数个搬运梭51；引导搬运梭51的无端状的第1引导轨道521；使搬运梭51在第1引导轨道521上移动的第1~第3发送设备53~55；搬运梭51可以在第1引导轨道521上横亘该轨道的全周移动。

2. 发明专利

TWI480559B 電子元件移載裝置、電子元件處理裝置以及電子元件測試裝置有权
简体标题：电子组件移载设备、电子组件处理设备以及电子组件测试设备
公开(公告)号：TWI480559B
公开(公告)日：2015-04-11
申请号：TW101141093
申请日：2012-11-06
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：中嶋治希 , NAKAJIMA, HARUKI , 菊池裕之 , KIKUCHI, HIROYUKI , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28
CPC分类号： B65G17/12 , B65G35/06 , G01R31/2893

3. 外观设计

TWD166946S 推壓單元之部分有权
简体标题：推压单元之部分
公开(公告)号：TWD166946S
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：TW103304786
申请日：2014-08-14
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
设计人：相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 山田祐也 , YAMADA, YUYA

4. 发明专利

TW201337283A 電子元件移載裝置、電子元件處理裝置以及電子元件測試裝置审中-公开
简体标题：电子组件移载设备、电子组件处理设备以及电子组件测试设备
公开(公告)号：TW201337283A
公开(公告)日：2013-09-16
申请号：TW101141093
申请日：2012-11-06
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：中嶋治希 , NAKAJIMA, HARUKI , 菊池裕之 , KIKUCHI, HIROYUKI , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28
CPC分类号： B65G17/12 , B65G35/06 , G01R31/2893
摘要：課題：提供具有優越的承載盤間的DUT移載能力之電子元件移載裝置。解決手段：將DUT100在承載盤110及120之間移動調換的電子元件移載裝置，其包括：元件搬運裝置50，其包含：固持DUT100的複數個搬運梭51；引導搬運梭51的無端狀的第1引導軌道521；使搬運梭51在第1引導軌道521上移動的第1~第3傳送裝置53~55；搬運梭51可以在第1引導軌道521上橫亙該軌道的全周移動。
简体摘要：课题：提供具有优越的承载盘间的DUT移载能力之电子组件移载设备。解决手段：将DUT100在承载盘110及120之间移动调换的电子组件移载设备，其包括：组件搬运设备50，其包含：固持DUT100的复数个搬运梭51；引导搬运梭51的无端状的第1引导轨道521；使搬运梭51在第1引导轨道521上移动的第1~第3发送设备53~55；搬运梭51可以在第1引导轨道521上横亘该轨道的全周移动。

5. 发明专利

TWI583970B 搬運裝置以及電子元件移載裝置有权
简体标题：搬运设备以及电子组件移载设备
公开(公告)号：TWI583970B
公开(公告)日：2017-05-21
申请号：TW104102489
申请日：2012-11-06
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：中嶋治希 , NAKAJIMA, HARUKI , 菊池裕之 , KIKUCHI, HIROYUKI , 山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28 , B65G17/12
CPC分类号： B65G17/12 , B65G35/06 , G01R31/2893

6. 发明专利

TWI465746B 電子元件測試裝置有权
简体标题：电子组件测试设备
公开(公告)号：TWI465746B
公开(公告)日：2014-12-21
申请号：TW101141092
申请日：2012-11-06
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/0416 , G01R1/0466 , G01R31/2893

7. 发明专利

TW201333497A 電子元件測試裝置审中-公开
简体标题：电子组件测试设备
公开(公告)号：TW201333497A
公开(公告)日：2013-08-16
申请号：TW101141092
申请日：2012-11-06
申请人：阿德潘鐵斯特股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/0416 , G01R1/0466 , G01R31/2893
摘要：課題：提供電子元件測試裝置，其能夠有效活用不需設置精準器的電子元件處理裝置內的空間。解決裝置：用以測試具有端子101的DUT100的電子元件測試裝置1包括：測試頭2，其具有和DUT100電性連結的基座201；及處理機10，將DUT100搭載於測試承載盤120並搬運之，將DUT100壓在基座201上；測試頭2將基座201以朝向下方的姿勢安裝在處理機10；處理機10以端子101朝向上方的姿勢，將DUT100搭載於測試承載盤120並從下方將其押到基座201；基座201具有對準板203，以端子101為基準，將DUT100對基座201定位。
简体摘要：课题：提供电子组件测试设备，其能够有效活用不需设置精准器的电子组件处理设备内的空间。解决设备：用以测试具有端子101的DUT100的电子组件测试设备1包括：测试头2，其具有和DUT100电性链接的基座201；及处理机10，将DUT100搭载于测试承载盘120并搬运之，将DUT100压在基座201上；测试头2将基座201以朝向下方的姿势安装在处理机10；处理机10以端子101朝向上方的姿势，将DUT100搭载于测试承载盘120并从下方将其押到基座201；基座201具有对准板203，以端子101为基准，将DUT100对基座201定位。

8. 发明专利

TWI559007B 處理器裝置、處理器裝置的調整方法及試驗裝置有权
简体标题：处理器设备、处理器设备的调整方法及试验设备
公开(公告)号：TWI559007B
公开(公告)日：2016-11-21
申请号：TW103132486
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 堀野浩光 , HORINO, HIROMITSU , 山田祐也 , YAMADA, YUYA , 小野澤正貴 , ONOZAWA, MASATAKA
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893

9. 发明专利

TW201537196A 處理器裝置及試驗裝置（二）审中-公开
简体标题：处理器设备及试验设备（二）
公开(公告)号：TW201537196A
公开(公告)日：2015-10-01
申请号：TW103132484
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 堀野浩光 , HORINO, HIROMITSU , 山田祐也 , YAMADA, YUYA , 小野澤正貴 , ONOZAWA, MASATAKA
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/04
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
摘要：本發明的問題在於將被試驗器件與試驗用插座精確度良好地電性連接。為了解決上述問題，提供一種處理器裝置，其將被試驗器件搬送至試驗用插座，該處理器裝置具備：插座嵌合單元，其在將用以保持被試驗器件之器件保持器嵌合於試驗用插座之前，嵌合有試驗用插座；試驗用插座位置檢測部，其在插座嵌合單元嵌合於試驗用插座的狀態下，檢測插座嵌合單元相對於試驗用插座的相對位置；致動器，其基於檢測到的插座嵌合單元的相對位置，調整被試驗器件在器件保持器上的位置；及，搬送部，其搬送被試驗器件的位置被調整後的器件保持器，使該器件保持器嵌合於試驗用插座。
简体摘要：本发明的问题在于将被试验器件与试验用插座精确度良好地电性连接。为了解决上述问题，提供一种处理器设备，其将被试验器件搬送至试验用插座，该处理器设备具备：插座嵌合单元，其在将用以保持被试验器件之器件保持器嵌合于试验用插座之前，嵌合有试验用插座；试验用插座位置检测部，其在插座嵌合单元嵌合于试验用插座的状态下，检测插座嵌合单元相对于试验用插座的相对位置；致动器，其基于检测到的插座嵌合单元的相对位置，调整被试验器件在器件保持器上的位置；及，搬送部，其搬送被试验器件的位置被调整后的器件保持器，使该器件保持器嵌合于试验用插座。

10. 发明专利

TWI567401B 處理器裝置及試驗裝置（二）有权
简体标题：处理器设备及试验设备（二）
公开(公告)号：TWI567401B
公开(公告)日：2017-01-21
申请号：TW103132484
申请日：2014-09-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：山下毅 , YAMASHITA, TSUYOSHI , 相澤光範 , AIZAWA, MITSUNORI , 堀野浩光 , HORINO, HIROMITSU , 山田祐也 , YAMADA, YUYA , 小野澤正貴 , ONOZAWA, MASATAKA
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/04
CPC分类号： G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893

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