基本信息:
- 专利标题： PARTICLE CHARACTERISATION INSTRUMENT
- 专利标题（中）：粒子表征仪器
- 申请号：PCT/EP2017/074094 申请日：2017-09-22
- 公开(公告)号：WO2018069024A1 公开(公告)日：2018-04-19
- 发明人： SCULLION, Richard , CORBETT, Jason
- 申请人： MALVERN INSTRUMENTS LIMITED
- 申请人地址： Enigma Business Park Grovewood Road Malvern Worcestershire WR14 1XZ GB
- 专利权人： MALVERN INSTRUMENTS LIMITED
- 当前专利权人： MALVERN INSTRUMENTS LIMITED
- 当前专利权人地址： Enigma Business Park Grovewood Road Malvern Worcestershire WR14 1XZ GB
- 代理机构： BARKER BRETTELL LLP
- 优先权： EP16193377.5 20161011
- 主分类号： G01N15/02
- IPC分类号： G01N15/02 ; G01N15/14 ; G01N21/51 ; G01N21/49 ; G01N21/47
摘要：
A particle characterisation instrument (200), comprising a light source (201), a sample cell (202), an optical element (204) between the light source (201) and sample cell (202) and a detector (203). The optical element (204) is configured to modify light from the light source (201) to create a modified beam (207), the modified beam (207): a) interfering with itself to create an effective beam (208) in the sample cell (202) along an illumination axis (206) and b) diverging in the far field to produce a dark region (209) along the illumination axis (206) that is substantially not illuminated at a distance from the sample cell (202). The detector (203) is at the distance from the sample cell (202), and is configured to detect light scattered from the effective beam (208) by a sample in the sample cell (202), the detector (203) positioned to detect forward or back scattered light along a scattering axis (306) that is at an angle of 0° to 10° from the illumination axis (206).
摘要（中）：
（201），样品池（202），在光源（201）和样品池（202）之间的光学元件（204）的粒子表征仪器（200） 和检测器（203）。 所述光学元件（204）被配置为修改来自所述光源（201）的光以创建修改后的光束（207），所述修改后的光束（207）：a）自行干涉以在所述样本中创建有效光束 沿着照明轴线（206）照射单元（202），以及b）在远场内发散以产生沿着照明轴线（206）的暗区域（209），其在距样本单元（202）一定距离处基本上未被照射。 检测器（203）与样本单元（202）相距一定距离，并且被配置为检测由样本单元（202）中的样本从有效射束（208）散射的光，检测器（203）被定位成检测 沿着散射轴（306）的前向散射光或后向散射光，散射轴（306）处于0°的角度; 到10℃ 来自照明轴（206）。
公开/授权文献:
- WO2018069024A4 PARTICLE CHARACTERISATION INSTRUMENT 公开/授权日：2018-04-19
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N15/00 | 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积 |
| --------G01N15/02 | .测试颗粒的粒度或粒经分布 |