基本信息:
- 专利标题： CLOSED LOOP DYNAMIC CAPACITANCE MEASUREMENT
- 专利标题（中）：闭环动态电容测量
- 申请号：PCT/US2014/059734 申请日：2014-10-08
- 公开(公告)号：WO2015102710A2 公开(公告)日：2015-07-09
- 发明人： VAN LIER, Wilhelmus Johannes Robertus , KAWAMOTO, Robert Steven , EDGAR, James Steven , VARMA, Pramod Kumar
- 申请人： QUALCOMM MEMS TECHNOLOGIES, INC.
- 申请人地址： 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121-1714 US
- 专利权人： QUALCOMM MEMS TECHNOLOGIES, INC.
- 当前专利权人： QUALCOMM MEMS TECHNOLOGIES, INC.
- 当前专利权人地址： 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121-1714 US
- 代理机构： SHEKHER, Parag et al.
- 优先权： US61/893,808 20131021; US14/245,881 20140404
- 主分类号： G09G3/34
- IPC分类号： G09G3/34
摘要：
This disclosure provides systems, methods and apparatus for measuring capacitance of a display unit, such as an interferometric modulator (IMOD). In one example, a circuit may include an operational amplifier (op-amp), a voltage controlled current source, and feedback from an output of the op-amp as an input to the voltage controlled current source. An output of the voltage controlled current source may be provided to a display unit as well as an input of the op-amp. A second input of the op-amp may be provided a ramping reference voltage.
摘要（中）：
本公开提供了用于测量诸如干涉式调制器（IMOD）的显示单元的电容的系统，方法和装置。 在一个示例中，电路可以包括运算放大器（运算放大器），电压控制电流源和来自运算放大器的输出的反馈作为输入到电压控制电流源。 电压控制电流源的输出可以被提供给显示单元以及运算放大器的输入。 运算放大器的第二输入可以被提供斜坡参考电压。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G09 | 教育；密码术；显示；广告；印鉴 |
| ----G09G | 使用静态方法显示可变信息的指示装置 |
| ------G09G3/00 | 仅考虑与除阴极射线管以外的目视指示器连接的控制装置和电路 |
| --------G09G3/04 | .用于从许多字符中选取单个字符或用个别的元件组合构成字符来显示单个字符，例如分段 |
| ----------G09G3/34 | ..采用控制从独立光源的发光 |