基本信息:
- 专利标题： INTEGRATED CIRCUIT FOR SPECTRAL IMAGING SYSTEM
- 专利标题（中）：用于光谱成像系统的集成电路
- 申请号：PCT/EP2010/068575 申请日：2010-11-30
- 公开(公告)号：WO2011064403A1 公开(公告)日：2011-06-03
- 发明人： TACK, Klaas , LAMBRECHTS, Andy , HASPESLAGH, Luc
- 申请人： IMEC , TACK, Klaas , LAMBRECHTS, Andy , HASPESLAGH, Luc
- 申请人地址： Kapeldreef 75 B-3001 Leuven BE
- 专利权人： IMEC,TACK, Klaas,LAMBRECHTS, Andy,HASPESLAGH, Luc
- 当前专利权人： IMEC,TACK, Klaas,LAMBRECHTS, Andy,HASPESLAGH, Luc
- 当前专利权人地址： Kapeldreef 75 B-3001 Leuven BE
- 代理机构： BIRD, William E. et al.
- 优先权： US61/265,231 20091130
- 主分类号： G01J3/26
- IPC分类号： G01J3/26 ; G01J3/28 ; G01J3/12
摘要：
An integrated circuit for an imaging system has an array of optical sensors (40), and an array of optical filters (10) each configured to pass a band of wavelengths onto one or more of the sensors, the array of optical filters being integrated with the array of sensors, and the integrated circuit also having read out circuitry (30) to read out pixel values from the array of sensors to represent an image, different ones of the optical filters being configured to have a different thickness, to pass different bands of wavelengths by means of interference, to allow detection of a spectrum of wavelengths. The read out circuitry can enable multiple pixels under one optical filter to be read out in parallel. The thicknesses may vary non monotonically across the array. The read out, or later image processing, may involve selection or interpolation between wavelengths, to carry out spectral sampling or shifting, to compensate for thickness errors.
摘要（中）：
一种用于成像系统的集成电路具有光学传感器阵列（40）和每个被配置成将波长带传递到一个或多个传感器上的滤光器阵列（10），所述滤光器阵列与 所述传感器阵列和所述集成电路还具有读出电路（30），以从所述传感器阵列中读出像素值以表示图像，所述不同的所述滤光器被配置为具有不同的厚度以通过不同的带 的波长，以允许检测波长的光谱。 读出电路可以使一个光学滤波器下的多个像素平行读出。 厚度可以在整个阵列上单调变化。 读出或稍后的图像处理可能涉及波长之间的选择或插值，以进行频谱采样或移位，以补偿厚度误差。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J3/00 | 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色 |
| --------G01J3/02 | .零部件 |
| ----------G01J3/26 | ..应用多次反射，例如，法布里—珀罗干涉仪，可变干涉滤光器 |