基本信息:
- 专利标题： OPTISCHE ANORDNUNG UND SCANMIKROSKOP
- 专利标题（英）：Optical arrangement and scan microscope
- 专利标题（中）：光学系统和扫描显微镜
- 申请号：PCT/EP2002/008380 申请日：2002-07-26
- 公开(公告)号：WO2003012516A1 公开(公告)日：2003-02-13
- 发明人： BIRK, Holger
- 申请人： LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH , BIRK, Holger
- 申请人地址： Am Friedensplatz 3, 68165 Mannheim DE
- 专利权人： LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH,BIRK, Holger
- 当前专利权人： LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH,BIRK, Holger
- 当前专利权人地址： Am Friedensplatz 3, 68165 Mannheim DE
- 代理机构： REICHERT, Werner, F.
- 优先权： DE101 20010730
- 主分类号： G02B21/00
- IPC分类号： G02B21/00
摘要：
Eine optische Anordnung zur räumlichen Separierung eines Beleuchtungslichtstrahls (11) und eines Detektionslichtstrahls (29) mit einem akustooptischen Bauteil (13) ist offenbart. Die Anordnung ist dadurch gekennzeichnet, dass ein Kompensationselement (31) vorgesehen ist, das eine von dem akustooptischen Bauteil (13) durch Doppelbrechung verursachte Aufspaltung des Detektionslichtstrahls (29) bei einmaligen Durchlauf kompensiert. Weiterhin ist ein Scanmikroskop mit einem akustooptischen Bauteil (13) und einem Kompensationselement (31) offenbart.
摘要（中）：
在空间上分离的照明光束（11）和检测光束（29）的声光元件（13）的光学装置被公开。 该装置的特征在于，一个补偿元件（31）被提供，用于补偿所造成的双折射性的声光元件（13）的单次通过的检测光束（29）的分裂。 另外，声光元件（13）和补偿元件（31）的扫描型显微镜中公开。