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1. 发明申请

WO2011042524A1 LASERSYSTEM FÜR EIN MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINES LASERSYSTEMS FÜR EIN MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：激光系统用于操作的激光系统用于显微镜的显微镜和方法
公开(公告)号：WO2011042524A1
公开(公告)日：2011-04-14
申请号：PCT/EP2010/065071
申请日：2010-10-08
申请人： LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH , WIDZGOWSKI, Bernd , SEYFRIED, Volker , BIRK, Holger
发明人： WIDZGOWSKI, Bernd , SEYFRIED, Volker , BIRK, Holger
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/06
摘要： Ein Lasersystem (20) für ein Mikroskop hat ein Lasermodul (22), eine Strahlkorrekturvorrichtung (26), einen Lichtleiter (31), ein Messelement (34) und eine äußere Regeleinrichtung (37). Das Lasermodul (22) erzeugt einen Lichtstrahl (24). Der Lichtstrahl (24) durchdringt die Strahlkorrekturvorrichtung (26), die eine Abweichung eines Ist-Werts mindestens eines Parameters des Lichtstrahls (24) von einem Soll-Wert des Parameters korrigiert. Der korrigierte Lichtstrahl (24) wird in den Lichtleiter (31) eingekoppelt. Das Messelement (34) ist dem Lichtleiter (31) nachgeschaltet und erfasst einen Ist-Wert (36) der Intensität zumindest eines Teilstrahls (32) des korrigierten Lichtstrahls (24). Die äußere Regeleinrichtung (37), die mit einer Energieversorgung (39) des Lasermoduls (22) und mit dem Messelement (34) gekoppelt ist, regelt mittels der Energieversorgung (39) den Ist-Wert (36) der Intensität auf einen vorgegebenen Soll-Wert der Intensität.
摘要翻译：对于具有激光模块（22）的显微镜的激光系统（20），光束校正装置（26），光导（31），测量元件（34）和外控制装置（37）。激光模块（22）产生的光束（24）。光束（24）穿过，其校正的实际值，所述参数从所希望的值的光束（24）的至少一个参数的偏差的光束校正装置（26）。校正后的光束（24）被耦合到所述光导（31）。所述测量元件（34）的光导（31）的下游连接，并且检测所述校正光束（24）中的至少一个偏光束（32）的强度的实际值（36）。外的控制装置（37）耦合到激光模块（22）的电源（39）和与所述测量元件由强度的电源（39）的实际值（36）的装置，以一个预定的目标（34）的控制强度的值。

2. 发明申请

WO2006045264A1 VORRICHTUNG ZUR JUSTAGE EINER OPTISCHEN FASER ODER EINES OPTISCHEN FASERBÜNDELS 审中-公开
标题翻译：装置于调整光纤或光纤束
公开(公告)号：WO2006045264A1
公开(公告)日：2006-05-04
申请号：PCT/DE2005/001592
申请日：2005-09-12
申请人： LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH , FEHRER, Dirk-Oliver , BIRK, Holger
发明人： FEHRER, Dirk-Oliver , BIRK, Holger
IPC分类号： G02B6/38 , G02B6/42 , G02B7/00
CPC分类号： G02B6/3874 , G02B6/3882 , G02B6/4226 , G02B7/004
摘要： Eine Vorrichtung zur Justage einer optischen Faser (1) oder eines optischen Faserbündels gegenüber einer Kopplungsstelle, mit einer Halteeinrichtung (2) für die Faser/Fasern (1) und einem Stellmechanismus (3) zur Positionierung der Faser/Fasern (1) in der Halteeinrichtung (2), wobei der Stellmechanismus (3) mindestens zwei Stellorgane (4) umfasst, die unter unterschiedlichen Winkeln auf die Faser/Fasern (1) wirken und durch deren Betätigung die Lage der Faser/Fasern (1) gegenüber der Halteeinrichtung (2) veränderbar ist, ist dadurch gekennzeichnet, dass die unter verschiedenen Winkeln wirkenden Stellorgane (4) zur Betätigung von einer Seite her nebeneinander in der Halteeinrichtung (2) angeordnet sind und dass mindestens eines der Stellorgane (4) über eine Hebelanordnung (5) auf die Faser/Fasern (1) wirkt.
摘要翻译：一种用于调节光纤（1）或光纤束相对于联接位置，具有保持装置装置（2），用于在所述保持装置中的纤维/纤维（1）和一个致动机构（3），用于在纤维/纤维（1）的定位（2），其中，所述调整机构（3）包括至少两个致动器（4）以不同角度作用到纤维/纤维（1），并通过在纤维/纤维（1）相对于的位置的致动到所述支撑装置（2）是可变的，其特征在于，作用在不同的角度的致动器上的力（4）被布置成从一侧下在保持装置（2），并通过一个杠杆装置的致动器（4）中的至少一个（5）操作以彼此在纤维 /纤维（1）作用。

3. 发明申请

WO2008141919A3 APPARATUS FOR THE DETECTION OF LIGHT IN A SCANNING MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译： DEVICE FOR光探测在扫描显微镜
公开(公告)号：WO2008141919A3
公开(公告)日：2009-03-26
申请号：PCT/EP2008055537
申请日：2008-05-06
申请人： LEICA MICROSYSTEMS , BIRK HOLGER , SEYFRIED VOLKER
发明人： BIRK HOLGER , SEYFRIED VOLKER
IPC分类号： G01J1/44 , G01J1/46 , G01J3/28
CPC分类号： G01J1/44 , G01J1/46 , G01J3/2803 , G02B21/0032 , G02B21/0096 , H01L31/107
摘要： Disclosed is a light detector (110) for use in a scanning microscope (142), especially a line scanning microscope. Said light detector (110) comprises a linear array (112) of avalanche semiconductor detectors (114) and an electronic control circuit (116) which is designed to operate the avalanche semiconductor detectors (114) in Geiger mode with internal charge gain and/or in a linear mode. The control circuit (116) is equipped with a parallel meter (118) which is designed to read in parallel light pulses that are detected by the avalanche semiconductor detectors (114). Furthermore, the parallel meter (118) is designed to add up the light pulses detected by the avalanche semiconductor detectors (114) during a predefined counting period.
摘要翻译：提出了一种用于在一个扫描显微镜（142），其可以特别地在线路扫描显微镜被用于使用光检测器（110）。所述光检测器（110）包括雪崩半导体检测器的线性阵列（112）（114）以及设置在盖革模式下内部电荷的增益和/或适应于雪崩半导体检测器（114）的电子驱动电路（116）进行操作的线性模式。所述驱动电路（116）还包括一个并行计数器（118），所述平行计数器（118）被配置为通过（114）检测到的在平行光脉冲雪崩半导体探测器读出。此外，并行计数器（118）适于在所述雪崩半导体检测器（114）的光脉冲的预定计数时间总结所检测到的。

4. 发明申请

WO2008052821A1 OPTISCHE ANORDNUNG UND VERFAHREN ZUM STEUERN UND BEEINFLUSSEN EINES LICHTSTRAHLS 审中-公开
标题翻译：光学系统及其控制方法和光束的影响
公开(公告)号：WO2008052821A1
公开(公告)日：2008-05-08
申请号：PCT/EP2007/058940
申请日：2007-08-28
申请人： LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH , BIRK, Holger , SEYFRIED, Volker
发明人： BIRK, Holger , SEYFRIED, Volker
IPC分类号： G02B21/00 , G01J3/02 , G01J3/14 , G01J3/16
CPC分类号： G02B27/143 , G01J3/02 , G01J3/021 , G01J3/0229 , G01J3/16 , G01J2003/1282 , G01J2003/1286 , G02B21/06 , G02B26/0833 , G02B27/126
摘要： Eine optische Anordnung, insbesondere zum Einsatz als Hauptstrahlteiler und/oder Strahlvereiniger in einem Mikroskop, in die ein oder mehrere Lichtstrahlen (11, 12, 15, L 1 , L 2 , L 3 ) einkoppelbar sind und aus der mindesten einer der eingekoppelten Lichtstrahlen (11, 12, 15, L 1 , L 2 , L 3 ) nach Durchlaufen der optischen Anordnung (1, 11) wieder auskoppelbar ist, ist im Hinblick auf eine möglichst freie Beeinflussbarkeit des ausgekoppelten Lichtstrahls dadurch gekennzeichnet, dass in den eingekoppelten Lichtstrahlen (11, 12, 15, L 1 , L 2 , L 3 ) ein steuerbares mikrostrukturiertes Element (5), beispielsweise ein Digital Micromirror Device (DMD), angeordne ist, mit dem Strahlengänge innerhalb der optischen Anordnung (1, 1') schaltbar sind, wodurch der/die ausgekoppelte/n Lichtstrahl/en steuerbar und/oder beeinflussbar ist/sind.
摘要翻译：一种光学装置，特别是用于如在显微镜主分束器和/或光束组合器，在所述一个或多个光束（11，12，15，L _{1 ，L _{2 ， →_{3 ）耦合和退出耦合的光线（11，12，15，L _{1 ，L _{2 输入的至少一个，L 3 ），11）可以被再次耦合出来，其特征在于在一个自由作为耦合光束的可能的可控性方面，其特征在于所述输入耦合的光线（11，12，15，L _{1 ，L _{2 ，L _{3 ）可控的微结构元件（5），诸如数字微镜器件（DMD），一直排列，与所述光路光学装置内（1，1“）是可切换的，从而/解耦/ N光束/ s时，可以控制和/或影响是/是。}}}}}}}}

5. 发明申请

WO2004051341A1 RASTERMIKROSKOP MIT KONFOKALEM SPALTSCANNER ZUM ABBILDEN EINES OBJEKTES 审中-公开
标题翻译： GRID共聚焦显微镜扫描仪GAP用于对物体成像
公开(公告)号：WO2004051341A1
公开(公告)日：2004-06-17
申请号：PCT/DE2003/003163
申请日：2003-09-23
申请人： LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH , KNEBEL, Werner , BIRK, Holger , STORZ, Rafael
发明人： KNEBEL, Werner , BIRK, Holger , STORZ, Rafael
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/0084
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts (1), mit einer Lichtquelle (2), einem nahezu stufenlos variabel einstellbaren spektral selektiven Element (8), einer nahezu stufenlos variabel einstellbaren spektral selektiven Detektionseinrichtung (4), einem von der Lichtquelle (2) bis zum Objekt (1) verlaufenden Beleuchtungsstrahlengang (3), einem vom Objekt (1) zur Detektionseinrichtung (4) verlaufenden Detektionsstrahlengang (5), wobei mit dem spektral selektiven Element (8) Licht der Lichtquelle (2) zur Objektbeleuchtung selektierbar ist, wobei mit dem spektral selektiven Element (8) das am Objekt (1) reflektierte und/oder gestreute selektierte Licht der Lichtquelle (2) aus dem Detektionsstrahlengang (5) ausblendbar ist, wobei zumindest ein Wellenlängenbereich des im Detektionsstrahlengang (5) verlaufenden Lichts mit der spektral selektiven Detektionseinrichtung (4) detektierbar ist, und ist zur Detektion eines Objekts (1) bei einer hohen Rastergeschwindigkeit bei einem verbesserten Signal-zu-Rausch-Verhältnis dadurch gekennzeichnet, dass der Beleuchtungsstrahlengang (3) und der Detektionsstrahlengang (5) im Sinn eines konfokalen Spaltscanners ausgebildet sind.
摘要翻译：本发明涉及一种扫描显微镜用于对物体成像（1），包括：光源（2），几乎无限可变地可调节的光谱选择性元件（8），一个几乎是无限可变地可调节的光谱选择性检测装置（4），（从光源 2）向所述对象（1）上运行的照明光束路径（3），（从加工对象物1），以该检测装置（4）延伸的检测光束路径（5），（与从光源（2），用于可选择的物体照明的光谱选择性元件8）的光其中，所述对象（1）上由光谱选择元件反射（8）和/或所述光源（2）从所述检测光束路径（5），其中所述检测光束路径（5）延伸的光的至少一个波长范围内被阻止时，与散选择的光光谱选择性检测装置（4）是可检测的，并且是用于在高Rasterges检测物体（1） chwindigkeit其特征在于改善的信噪比，所述照明光束路径（3）和在共焦扫描仪的间隙感测检测光束路径（5）形成。

6. 发明申请

WO2011098557A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM SCANNEN EINES OBJEKTS UND MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：装置和方法用于扫描物体并在显微镜
公开(公告)号：WO2011098557A1
公开(公告)日：2011-08-18
申请号：PCT/EP2011/052031
申请日：2011-02-11
申请人： LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH , SEYFRIED, Volker , WIDZGOWSKI, Bernd , BIRK, Holger
发明人： SEYFRIED, Volker , WIDZGOWSKI, Bernd , BIRK, Holger
IPC分类号： G02B21/33 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/33 , G02B21/0036
摘要： Eine Vorrichtung zum Scannen eines Objekts hat eine Fokussieroptik (30), die einen Beleuchtungslichtstrahl (24) auf einen zu untersuchenden Bereich des Objekts fokussiert. Eine Aktoranordnung ist mit der Fokussieroptik (30) gekoppelt und bewegt die Fokussieroptik (30) gemäß einem vorgegebenen Abtastmuster quer zu einer Mittelachse des Beleuchtungslichtstrahls (24) in einer Referenzposition des Beleuchtungslichtstrahls (24). Ein Frontglas (38) ist in Richtung des Beleuchtungslichtstrahls (24) gesehen nach der Fokussieroptik (30) angeordnet. Ein internes Immersionsmedium (40) ist zwischen der Fokussieroptik (30) und dem Frontglas (38) angeordnet. Zwischen dem Frontglas (38) und dem Objekt kann ein externes Immersionsmedium (48) eingebracht werden.
摘要翻译：用于扫描物体的装置，具有一聚焦透镜将被检查的对象（30），该聚焦的照明光束（24）到的区域。致动器组件耦合到所述聚焦光学器件（30）和移动根据预定的扫描图案横向于照明光束（24）的基准位置的照明光束（24）的中心轴的聚焦透镜系统（30）。的前玻璃（38）根据所述聚焦光学器件（30）设置在所述照明光束（24）的方向观察。内部液浸介质（40）被设置在聚焦光学系统（30）和前玻璃（38）之间。前玻璃（38）和所述物体之间可以插入一个外部液浸介质（48）。

7. 发明申请

WO2010133375A1 SYSTEM UND VERFAHREN ZUM COMPUTERGESTÜTZTEN DURCHFÜHREN MINDESTENS EINES TESTS BEI EINEM SCANMIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：系统和方法计算机辅助进行至少一个测试在扫描显微镜
公开(公告)号：WO2010133375A1
公开(公告)日：2010-11-25
申请号：PCT/EP2010/003121
申请日：2010-05-21
申请人： Leica Microsystems CMS GmbH , BIRK, Holger , SEYFRIED, Volker , MOSCHEL, Roland , WEBSTER, Derek , BRÜGGEMANN, Harald , BELZER, Mario
发明人： BIRK, Holger , SEYFRIED, Volker , MOSCHEL, Roland , WEBSTER, Derek , BRÜGGEMANN, Harald , BELZER, Mario
IPC分类号： G02B21/36 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/008 , G02B21/365
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein System zum zentralen computergesteuerten Durchführen mindestens eines Testablaufs bei einem Scanmikroskop insbesondere einem konfokalen Mikroskop, bei dem mindestens ein erstes Softwaremodul einer Anwendungssoftware getestet wird. Die Erfindung löst die Aufgabe durch ein Netzwerk bestehend aus einzelnen Scanmikroskop-Clients und einem zentralen Server. Die Clients sind über eine Netzwerkschnittstelle ansprechbar und werden in einem zentralen Verzeichnis in dem Server verwaltet. Die Anwendungssoftware für die einzelnen Komponenten eines Scanmikroskops besteht aus einzelnen Softwaremodulen, die jeweils einem möglichen Test zugeordnet sind. Um die verschiedenen Tests durchführen zu können, wurden auf der Hardwareseite die Scanmikroskop-Clients mit zusätzlichen Sensoren und Komponenten ausgestattet, die es ermöglichen, verschiedene Betriebsparameter zu ermitteln.
摘要翻译：本发明涉及一种用于计算机控制的中央执行至少一个测试序列用于扫描显微镜，特别是共焦显微镜的方法和系统，其中至少一个软件应用程序的第一软件模块正在被测试。本发明通过单个扫描显微镜客户端的网络，中央服务器实现该目的。客户可以通过网络接口来解决，并在服务器的中央存储库进行管理。用于扫描显微镜的各个部件中的应用软件由其中的每一个与一个可能的测试相关联的单独的软件模块。为了执行该扫描显微镜客户端装备有附加的传感器和组件，使有可能确定在硬件侧的各种操作参数的各种测试。

8. 发明申请

WO2008141919A2 VORRICHTUNG ZUR LICHTDETEKTION IN EINEM SCANMIKROSKOP 审中-公开
标题翻译： DEVICE FOR光探测在扫描显微镜
公开(公告)号：WO2008141919A2
公开(公告)日：2008-11-27
申请号：PCT/EP2008/055537
申请日：2008-05-06
申请人： Leica Microsystems CMS GmbH , BIRK, Holger , SEYFRIED, Volker
发明人： BIRK, Holger , SEYFRIED, Volker
IPC分类号： G01J1/44 , G01J1/46 , G01J3/28
CPC分类号： G01J1/44 , G01J1/46 , G01J3/2803 , G02B21/0032 , G02B21/0096 , H01L31/107
摘要： Es wird ein Lichtdetektor (110) für den Einsatz in einem Scanmikroskop (142) vorgeschlagen, welcher insbesondere in einem Zeilenscanmikroskop eingesetzt werden kann. Der Lichtdetektor (110) umfasst ein Zeilenarray (112) von Avalanche-Halbleiterdetektoren (114) und eine elektronische Ansteuerschaltung (116), welche ausgestaltet ist, um die Avalanche- Halbleiterdetektoren (114) in einem Geiger-Modus mit interner Ladungsverstärkung und/oder in einem linearen Modus zu betreiben. Die Ansteuerschaltung (116) weist weiterhin einen Parallelzähler (118) auf, wobei der Parallelzähler (118) ausgestaltet ist, um durch die Avalanche- Halbleiterdetektoren (114) detektierte Lichtpulse parallel auszulesen. Weiterhin ist der Parallelzähler (118) eingerichtet, um während einer vorgegebenen Zählzeit die von den Avalanche-Halbleiterdetektoren (114) detektierten Lichtpulse zu summieren.
摘要翻译：提出了一种用于在一个扫描显微镜（142），其可以特别地在线路扫描显微镜被用于使用光检测器（110）。所述光检测器（110）包括雪崩半导体检测器的线性阵列（112）（114）以及设置在盖革模式下内部电荷的增益和/或适应于雪崩半导体检测器（114）的电子驱动电路（116）进行操作的线性模式。所述驱动电路（116）还包括一个并行计数器（118），所述平行计数器（118）被配置为通过（114）检测到的在平行光脉冲雪崩半导体探测器读出。此外，并行计数器（118）适于在所述雪崩半导体检测器（114）的光脉冲的预定计数时间总结所检测到的。

9. 发明申请

WO2011098303A1 VORRICHTUNG ZUM SCANNEN EINES OBJEKTS, VERFAHREN ZUM BETREIBEN DER VORRICHTUNG UND SCANMIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：装置进行扫描的对象，方法运行设备和扫描显微镜
公开(公告)号：WO2011098303A1
公开(公告)日：2011-08-18
申请号：PCT/EP2011/050008
申请日：2011-01-03
申请人： LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH , BIRK, Holger , WIDZGOWSKI, Bernd
发明人： BIRK, Holger , WIDZGOWSKI, Bernd
IPC分类号： G02B21/00 , G02B26/08 , G02B26/10
CPC分类号： G02B26/101 , G02B21/002 , G02B26/0875
摘要： Eine Vorrichtung zum Scannen eines Objekts hat einen Trägerkörper (10) und einen ersten elektromagnetischen Antrieb (2). Der Trägerkörper (10) ist in einer Ebene beweglich gelagert und hält ein optisches Element (12), das einen Beleuchtungslichtstrahl (19) auf eine zu der Ebene parallele erste Objektebene des Objekts fokussiert. Der erste elektromagnetische Antrieb (2) bewegt den Trägerkörper (10) mit dem optischen Element (12) und einen Fokusbereich (23) des Beleuchtungslichtstrahls (19) innerhalb der ersten Objektebene.
摘要翻译：用于扫描物体的装置，具有支撑体（10）和第一电磁驱动器（2）。承载体（10）在一个平面上安装可动并保持其在平行于所述物体的第一物体面的平面的轴聚焦的照明光束（19）的光学元件（12）。第一电磁驱动器（2）与光学元件（12）和所述第一对象平面内的照明光束（19）的聚焦区域（23）移动所述承载体（10）。

10. 发明申请

WO2003012516A1 OPTISCHE ANORDNUNG UND SCANMIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：光学系统和扫描显微镜
公开(公告)号：WO2003012516A1
公开(公告)日：2003-02-13
申请号：PCT/EP2002/008380
申请日：2002-07-26
申请人： LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH , BIRK, Holger
发明人： BIRK, Holger
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0024 , G02B21/008
摘要： Eine optische Anordnung zur räumlichen Separierung eines Beleuchtungslichtstrahls (11) und eines Detektionslichtstrahls (29) mit einem akustooptischen Bauteil (13) ist offenbart. Die Anordnung ist dadurch gekennzeichnet, dass ein Kompensationselement (31) vorgesehen ist, das eine von dem akustooptischen Bauteil (13) durch Doppelbrechung verursachte Aufspaltung des Detektionslichtstrahls (29) bei einmaligen Durchlauf kompensiert. Weiterhin ist ein Scanmikroskop mit einem akustooptischen Bauteil (13) und einem Kompensationselement (31) offenbart.
摘要翻译：在空间上分离的照明光束（11）和检测光束（29）的声光元件（13）的光学装置被公开。该装置的特征在于，一个补偿元件（31）被提供，用于补偿所造成的双折射性的声光元件（13）的单次通过的检测光束（29）的分裂。另外，声光元件（13）和补偿元件（31）的扫描型显微镜中公开。

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