基本信息:
- 专利标题： ION ISOLATION METHOD AND MASS SPECTROMETER
- 专利标题（中）：离子分离方法和质谱仪
- 申请号：US13579334 申请日：2010-12-13
- 公开(公告)号：US20120305762A1 公开(公告)日：2012-12-06
- 发明人： Akihito Kaneko , Atsumu Hirabayashi
- 申请人： Akihito Kaneko , Atsumu Hirabayashi
- 优先权： JP2010-067205 20100324
- 国际申请： PCT/JP2010/072331 WO 20101213
- 主分类号： H01J49/42
- IPC分类号： H01J49/42 ; B01D59/46
摘要：
Disclosed is a method whereby predetermined ions are isolated and ions to be left in an ion trap are left at the time of performing mass spectrometry using the ion trap. In order to have high ion isolation accuracy and to shorten a time necessary for ion isolation, a first time wherein ions having a lower mass than the ions to be left are isolated is set shorter than a second time wherein ions having a higher mass than the ions to be left are isolated.
摘要（中）：
公开了一种使用离子阱进行质谱分析的方法，其中分离预定离子并留下离子阱中的离子。 为了具有高的离子隔离精度并缩短离子分离所需的时间，其中离子离子质量比离开离子质量低的离子的第一次被设定为比第二次时间短，其中离子质量比 要离开的离子是孤立的。