发明申请
US20110153228A1 PHOTON IMAGING SYSTEM FOR DETECTING DEFECTS IN PHOTOVOLTAIC DEVICES, AND METHOD THEREOF
有权
基本信息:
- 专利标题： PHOTON IMAGING SYSTEM FOR DETECTING DEFECTS IN PHOTOVOLTAIC DEVICES, AND METHOD THEREOF
- 专利标题（中）：用于检测光伏器件中的缺陷的光电成像系统及其方法
- 申请号：US12645802 申请日：2009-12-23
- 公开(公告)号：US20110153228A1 公开(公告)日：2011-06-23
- 发明人： Faisal Razi Ahmad , Oleg Sulima , Kaustubh Ravindra Nagarkar , Ri-an Zhao , James William Bray
- 申请人： Faisal Razi Ahmad , Oleg Sulima , Kaustubh Ravindra Nagarkar , Ri-an Zhao , James William Bray
- 申请人地址： US NY SCHENECTADY
- 专利权人： GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 当前专利权人： GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 当前专利权人地址： US NY SCHENECTADY
- 主分类号： G01N21/88
- IPC分类号： G01N21/88
摘要：
A method includes supplying current to at least one photovoltaic device via a current source and detecting emitted photon radiations from the at least one photovoltaic device via a radiation detector. The method also includes outputting a signal corresponding to the detected emitted photon radiations from the radiation detector to a processor device, and processing the signal corresponding to the detected emitted photon radiations via the processor device to generate one or more two-dimensional photon images. The method further includes analyzing the one or more two-dimensional photon images to determine at least one defect in the at least one photovoltaic device.
摘要（中）：
一种方法包括经由电流源向至少一个光伏器件提供电流，并经由辐射探测器检测来自至少一个光伏器件的发射光子辐射。 该方法还包括将对应于检测到的发射的光子辐射的信号从辐射检测器输出到处理器设备，以及经由处理器设备处理与检测到的发射的光子辐射相对应的信号以产生一个或多个二维光子图像。 该方法还包括分析一个或多个二维光子图像以确定至少一个光伏器件中的至少一个缺陷。
公开/授权文献:
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |