基本信息:

• 专利标题： 光學同調斷層掃描裝置及其光學干涉儀
• 专利标题（英）：Optical coherence tomography device and optical interferometer thereof
• 专利标题（中）：光学同调断层扫描设备及其光学干涉仪
• 申请号：TW107147146 申请日：2018-12-26
• 公开(公告)号：TWI685640B 公开(公告)日：2020-02-21
• 发明人： 李源欽 , LEE, YUAN CHIN , 張庭瑋 , CHANG, TING WEI , 張啟伸 , CHANG, CHI SHEN , 王淇霖 , WANG, CHY LIN
• 申请人： 財團法人工業技術研究院 ,  INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
• 申请人地址： 新竹縣
• 专利权人： 財團法人工業技術研究院,INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
• 当前专利权人： 財團法人工業技術研究院,INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
• 当前专利权人地址： 新竹縣
• 代理人： 許世正
• 主分类号： G01B9/02
• IPC分类号： G01B9/02 ; G02B26/12

信息查询: